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1. 发明专利

JP2018511925A 同位体同時測定機能を有する加速器質量分析装置审中-公开
公开(公告)号：JP2018511925A
公开(公告)日：2018-04-26
申请号：JP2018502298
申请日：2015-04-01
申请人：中国原子能科学研究院 , CHINA INSTITUTE OF ATOMIC ENERGY
发明人：姜山 , 包 ▲軼▼文 , 何明 , ▲蘇▼ ▲勝▼勇 , 游曲波 , 胡 ▲躍▼明 , 崔大▲慶▼
IPC分类号： H01J49/28 , G01N27/62 , H01J49/30
CPC分类号： H01J49/0086 , H01J49/10 , H01J49/30 , H01J49/48
摘要：同位体同時測定機能を有する加速器質量分析装置は、負イオンを生成するスパッタ負イオン源(1)を含み、スパッタ負イオン源(1)は、複数の同位体イオンを同時に加速する加速管(7)と接続され、加速管(7)の出力端は同位体質量識別システム(8)と接続され、同位体質量識別システム(8)は、荷電変換分析・複数接受測定システムと接続され、荷電変換分析・複数接受測定システムはイオン検出システム(13)と接続される。複数の同位体負イオンに対し同時に加速を行うことができ、加速後の複数の同位体負イオンのうち、安定同位体負イオンは、安定同位体接受器(9)により測定され、放射性同位体負イオンは、正イオンに変換された後、検出器(13)により測定される。測定信号は時間合わせ後、同時に核電子学・データ取得ユニットに送られ、データ演算が行われる。

2. 发明专利

JP6006322B2 質量分析装置および質量分離装置有权
标题翻译：质谱仪以及质量分离装置
公开(公告)号：JP6006322B2
公开(公告)日：2016-10-12
申请号：JP2014538503
申请日：2013-09-24
申请人：佐野芳徳
发明人：佐野芳徳
IPC分类号： H01J49/26 , G01N27/62 , H01J49/06
CPC分类号： H01J49/401 , G01N27/62 , H01J49/0086 , H01J49/061 , H01J49/067 , H01J49/408 , H01J49/421

3. 发明专利

JP2010533857A Quantification of analytes by accelerator mass spectrometry 审中-公开
公开(公告)号：JP2010533857A
公开(公告)日：2010-10-28
申请号：JP2010516582
申请日：2008-07-18
申请人：エクセレロンリミテッド
发明人：ジョンラッピングラハム , コリンガーナーロナルド
IPC分类号： G01N27/62 , G01T1/161
CPC分类号： G01N33/60 , G01N33/6848 , H01J49/0009 , H01J49/0086 , Y10T436/10 , Y10T436/13 , Y10T436/24 , Y10T436/25 , Y10T436/25125 , Y10T436/25375
摘要： The invention provides a calibrating method for use in a method of determining the quantity of an analyte labeled with an accelerator mass spectrometry (AMS) isotope in a test sample. The samples can include, for example, urine, faeces, plasma or blood. The analyte can be, for example, a drug or metabolite of a drug.

4. 发明专利

KR102238857B1 KR102238857B1 - Accelerated Mass Spectrometry Cyclotron System 有权
公开(公告)号：KR102238857B1
公开(公告)日：2021-04-09
申请号：KR1020190011032A
申请日：2019-01-29
申请人： 성균관대학교산학협력단
发明人： 채종서 , 이종철
IPC分类号： H01J49/38 , H01J49/00
CPC分类号： H01J49/38 , H01J49/0086
摘要： 본 발명은 질량이 상이한 적어도 두 종류 이상의 하전입자를 동시에 인출하여 카운팅함으로써, 분석 소요시간 및 요구 샘플 수를 감소시키는 장점이 있는 가속 질량분석 사이클로트론 시스템에 관한 것이다.

5. 发明专利

JPWO2014050836A1 質量分析装置および質量分離装置有权
标题翻译：质谱仪以及质量分离装置
公开(公告)号：JPWO2014050836A1
公开(公告)日：2016-08-22
申请号：JP2014538503
申请日：2013-09-24
申请人：芳徳佐野 , 芳徳佐野
发明人：芳徳佐野 , 芳徳佐野
IPC分类号： H01J49/06 , G01N27/62 , H01J49/26
CPC分类号： H01J49/401 , G01N27/62 , H01J49/0086 , H01J49/061 , H01J49/067 , H01J49/408 , H01J49/421
摘要：動作原理に起因する問題点によって装置の設計や性能が制限されることが少なく、原理上、扱うことのできる質量電荷比範囲に限界がなく、質量電荷比が異なる複数のイオン種を短時間のうちに繰り返し分析あるいは取り出し可能な質量分析装置および質量分離装置を提供する。質量分析装置(10)をイオン源(1)、イオン導入部(2)、質量分離部(3)、およびイオン検出部(4)などによって構成する。イオン群は一次元高周波電場の位相に同期したパルスとして所定の加速電圧で分離空間(5)へ導入される。分離空間(5)内では、イオンは、入射方向に慣性で飛行するとともに、それに交差する方向(y方向)に作用する一次元高周波電場から受ける力によってy方向へ変位する。質量電荷比が互いに異なるイオン種は、変位量の違いによって分離される。この際、被測定イオン種が電場の作用を1周期間受けて分離空間(5)から出射されるように、加速電圧および一次元高周波電場の周期を設定する。
摘要翻译：小于通过由操作原理问题的设计和设备的性能是有限的，在原则上，存在对质荷比范围没有限制，可以处理，在短时间内的多个离子种类质荷比不同多次提供分析或可移动质谱仪和在房子质量分离。质谱仪的离子源（10）（1）中，所述离子引入单元（2），质量分离单元（3），以及构成所述离子检测器（4）。离子基团被引入到具有与相（5）的一维射频电场同步的预定的加速电压脉冲分离空间。内的分离空间（5），离子，以及由力飞在入射方向的惯性，在y方向上移位，从在相交与其的方向（y方向）作用在一维射频电场接收。离子种类的质荷彼此通过位移的差量分离比率是不同的。此时，作为从分离空间发射的测得的离子性物质经受的电场（5）的一个周期的动作，设置加速电压和一维的高频电场的周期。

7. 发明专利

JP2008518214A Methods and equipment to separate isobaric interferences 有权
公开(公告)号：JP2008518214A
公开(公告)日：2008-05-29
申请号：JP2007538226
申请日：2005-10-28
申请人：カズンズ,リサ , キーザー,ウィリアム,エドワード , ジャバハリー,ゴラムレザ , ジョリフィー,チャールズ , チョウ,シャオ−レイ , ドゥープ,ジョナサン,ピー. , トムスキ,イリア , リザーランド,アルバート,エドワード
发明人：カズンズ，リサ , キーザー，ウィリアム，エドワード , ジャバハリー，ゴラムレザ , ジョリフィー，チャールズ , チョウ，シャオ−レイ , ドゥープ，ジョナサン，ピー． , トムスキ，イリア , リザーランド，アルバート，エドワード
IPC分类号： G01N27/62 , B01D59/48 , H01J49/10
CPC分类号： H01J49/0086 , B01D59/44 , H01J49/0077 , H01J49/06
摘要：本発明は、質量分析(MS)において、希少な安定同位元素または放射性同位元素を、それらの原子または分子の同重体から分離する方法および機器に関する。本発明において、原子同重体を取り除くためにとられる手法は、RFイオンガイド内で、イオン分子反応または近共鳴電子移動など低エネルギー反応と組み合わせて、イオンを減速させるための高伝達率装置を利用する。同重体は、低エネルギーの与圧されたRFイオンガイド内でのアニオンとガス状ターゲットの間の電子移動または他の反応により、選択的に激減させられる。エネルギーは、対象となるイオンの反応を防止するような方法で制御されるが、不要な同重体干渉物との反応を誘起する。この技法は、必要な端子電圧を大幅に低減させることができる加速器質量分析(AMS)に特に関係する。その効果は、AMS設置のサイズおよび費用を低減できることである。

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