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1. 发明专利

JPWO2014148564A1 定量計量システム及び定量計量方法审中-公开
标题翻译：量测量系统和量测定方法
公开(公告)号：JPWO2014148564A1
公开(公告)日：2017-02-16
申请号：JP2015506833
申请日：2014-03-19
申请人：株式会社イシダ , 斉志伊庭 , 斉志伊庭
发明人：斉志伊庭 , 斉志伊庭 , 慶人稲積 , 慶人稲積 , 小西　聡 , 聡小西 , 廣瀬　修 , 修廣瀬 , 佐藤　良一 , 良一佐藤
IPC分类号： G01G13/08 , B07C5/18
CPC分类号： B07C5/18 , G01G13/00
摘要：定量計量システム1では、各ステーション2における物品Sの重量の総和を状態、各ステーション2に対する物品Sの振分動作を行動、行動の実行による状態の変化を遷移として捉えた場合に、各遷移に必要な重量を有する物品Sが供給される困難性を示す遷移困難度が更新される。そして、状態遷移モデルを表現したグラフ構造において、各エッジについての遷移困難度が低いほど高い第1報酬が付与され、かつ各エッジに接続された遷移先のノードについての物品Sの重量の総和が目標レンジ内であれば第2報酬が付与されるように、各エッジに設定されるQ値が更新される。
摘要翻译：在量测量系统1中，物品S的重量，在每个站2状态的总和，相对于每个站2，由动作的执行作为过渡抓住状态的变化，当物件S的排序操作的动作，每个过渡过渡难度更新示出了具有必要的重量供给物件S的难度。然后，表示状态转移模型的图形结构，过渡难度分配较低较高的第一补偿，和物件S的重量的用于连接到每个边缘的每个边缘节点过渡目的地的总和仿佛内，Q值在目标范围内的每个边缘设置的第二奖励授予被更新。

2. 发明专利

JPWO2008096787A1 重量検査装置およびこれを備えた重量検査システム有权
公开(公告)号：JPWO2008096787A1
公开(公告)日：2010-05-27
申请号：JP2008557142
申请日：2008-02-06
申请人：株式会社イシダ
发明人：廣瀬　修 , 修廣瀬
IPC分类号： G01G9/00
CPC分类号： G01G9/005 , G01N23/02
摘要：被検査物の重量を高精度に算出することが可能な重量検査装置およびこれを備えた重量検査システムを提供するために、X線検査装置(10)では、外部から取得した商品(G)の実重量値と、制御コンピュータ(30)内に形成された各機能ブロック(41〜44)において算出された商品(G)の推定重量とに基づいて、偏差量算出部(45)が、推定重量の実重量からのずれの大きさを算出する。

3. 发明专利

JP4317566B2 The method of generating the image processing procedure of X-ray inspection apparatus and x-ray inspection equipment 有权
公开(公告)号：JP4317566B2
公开(公告)日：2009-08-19
申请号：JP2006528358
申请日：2005-03-25
申请人：株式会社イシダ
发明人：修廣瀬
IPC分类号： G01N23/04
CPC分类号： G01V5/0016 , G01N23/04 , G01N33/02
摘要： An X-ray inspection apparatus (10) is provided with a shied box (11), a conveyor (12), an X-ray irradiator (13), an X-ray line sensor (14), a monitor (26), and a control computer (20) to enable the apparatus to inspect an article by automatically selecting an appropriate image processing procedure that is most appropriate for the article. The control computer 20 creates function blocks comprising an image forming section (31 a), an image processing procedure adoption determination unit (31 b), and a contaminant determination unit (31 c) as a CPU (21) loads various programs stored in a memory units such as HDD (25).

4. 发明专利

JP5148285B2 X-ray inspection apparatus 有权
公开(公告)号：JP5148285B2
公开(公告)日：2013-02-20
申请号：JP2007545267
申请日：2006-11-15
申请人：株式会社イシダ
发明人：修廣瀬
IPC分类号： G01B15/02 , G01G9/00
CPC分类号： G01N23/04 , G01G9/005

5. 发明专利

JP4902170B2 Inspection system 有权
公开(公告)号：JP4902170B2
公开(公告)日：2012-03-21
申请号：JP2005306979
申请日：2005-10-21
申请人：株式会社イシダ
发明人：修廣瀬
IPC分类号： G01N23/04 , G01V3/10 , G01V5/00 , G01V11/00

6. 发明专利

JP4585915B2 X-ray inspection apparatus 有权
公开(公告)号：JP4585915B2
公开(公告)日：2010-11-24
申请号：JP2005156615
申请日：2005-05-30
申请人：株式会社イシダ
发明人：修廣瀬 , 隆司株本
IPC分类号： G01N23/04

7. 发明专利

JP4491602B2 X-ray inspection apparatus 有权
公开(公告)号：JP4491602B2
公开(公告)日：2010-06-30
申请号：JP2004173828
申请日：2004-06-11
申请人：株式会社イシダ
发明人：修廣瀬
IPC分类号： G01N23/04

8. 发明专利

JPWO2006001107A1 Ｘ線検査装置およびＸ線検査装置の画像処理手順の生成方法有权
公开(公告)号：JPWO2006001107A1
公开(公告)日：2007-08-02
申请号：JP2006528358
申请日：2005-03-25
申请人：株式会社イシダ
发明人：廣瀬　修 , 修廣瀬
IPC分类号： G01N23/04
CPC分类号： G01V5/0016 , G01N23/04 , G01N33/02
摘要：装置が自動的に検査対象となる物品に対して最適な画像処理手順を選択して検査を行うことが可能なX線検査装置を提供するために、X線検査装置(10)は、シールドボックス(11)と、コンベア(12)と、X線照射器(13)と、X線ラインセンサ(14)と、モニタ(26)と、制御コンピュータ(20)とを備えている。制御コンピュータ(20)は、CPU(21)がHDD(25)等の記憶部に格納された各種プログラムを読み込んで、画像形成部(31a)、採用画像処理手順生成部(31b)および異物判定部(31c)を機能ブロックとして形成する。

9. 发明专利

JP5336996B2 X-ray inspection apparatus 有权
公开(公告)号：JP5336996B2
公开(公告)日：2013-11-06
申请号：JP2009241829
申请日：2009-10-20
申请人：株式会社イシダ
发明人：修廣瀬
IPC分类号： G01N23/04
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an X-ray inspection device assuring the reliability of post-conversion luminance-by-luminance data in cases where the luminance-by-luminance data are converted from those of high gradations into those of low gradations. SOLUTION: A plurality of conversion curves fa to fe stored in a conversion curve storage part 270 are used in a thinning-out process. Based on luminance-by-luminance data LD2, the thinning-out process is done by a weighting changer 260 with a thinning-out rate MR changed between a luminance domain KRT and a luminance domain KR excluding the luminance domain KRT. In cases where data of 12 bits (4096 gradations) are converted into data of 8 bits (256 gradations) for example, the thinning-out process is not done for the luminance domain KRT, or the thinning-out process is done at a low thinning-out rate by the weighting changer 260 while the thinning-out process is done for the luminance domain KR at a high thinning-out rate. COPYRIGHT: (C)2011,JPO&INPIT

10. 发明专利

JP4690095B2 X-ray inspection apparatus 有权
公开(公告)号：JP4690095B2
公开(公告)日：2011-06-01
申请号：JP2005110683
申请日：2005-04-07
申请人：株式会社イシダ
发明人：春彦小森 , 修廣瀬 , 幸弘森
IPC分类号： G01N23/04

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