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    • 3. 发明公开
    • Tube de caméra avec écran de suppression d'image parasite
    • Aufnahmeröhremit einem Schirm zur Beseitigung von Geisterbildern。
    • EP0338903A1
    • 1989-10-25
    • EP89401035.4
    • 1989-04-14
    • THOMSON-CSF
    • Ricaud, Jean-LucGuilhem, Gérard
    • H01J29/84
    • H01J29/84
    • L'invention concerne les tubes de prise de vue électronique.
      Surtout dans les tubes de prise de vue dont le faiseau électronique, balayant une cible photosensible, est orienté par un système de déflexion électrostatique, on a constaté l'apparition dans le signal de sortie vidéo du tube d'images parasites. Ces images sont dues apparemment à un faisceau de retour revenant de la cible (12) et frappant l'éléctrode accélératrice (22) du canon à électrons (14).
      Pour supprimer ces images parasites on propose de masquer l'électrode accélératrice avec un écran de masquage (38) porté en principe au même potentiel que l'électrode, cet écran étant caractérisé par ses bords arrondis, de convexité tournée vers la cible; il est percé d'une ouverture centrale (40), également pourvue de bords arrondis.
    • 本发明涉及电子摄像管。 特别是在其电子束扫描光敏靶被静电偏转系统取向的摄像管中,观察到来自管的视频输出信号中的重影的出现。 这些图像显然是由于从目标(12)返回的并且撞击电子枪(14)的加速电极(22)的返回光束。 为了抑制这些重影,提出了用掩蔽屏蔽(38)掩蔽加速电极,其原理上与电极相同的电位,该屏蔽的特征在于其圆形边缘 朝目标凸出; 它还钻有具有圆形边缘的中心孔(40)。 ... ...
    • 9. 发明公开
    • ELECTRON BEAM APERTURE ELEMENT WITH BEAM SHIELDING
    • 光圈随光检查对于电子
    • EP1121704A1
    • 2001-08-08
    • EP99969178.5
    • 1999-09-13
    • Leica Microsystems Lithography Ltd.
    • ZHANG, Tao
    • H01J37/09H01J29/84H01J3/40
    • H01J37/02H01J2237/3175
    • An electron beam aperture element (10) comprises a beam travel control member (15) with a passage opening (15a) for travel therethrough of at least part of an electron beam and with a blocking surface (15b) for blocking part or all of the beam travel. The aperture element further comprises a hollow body (11) with a cylindrical inner wall (12) and a closure plate (14) closing the upper end of the body cavity. The inner wall (12) and the inner face of the closure plate together bound a trap chamber (16) for scattered electrons caused by blocking of beam or part of the beam. The closure plate has a central passage opening (14a) forming an entrance to the chamber, the height of which is such that most of the scattered electrons are dispersed in the chamber before they can pass back to and exit through the entrance. A shielding grid (17) of small surface area extends between the chamber entrance and the passage opening (15a) in the control member. The grid is less susceptible to charging and consequently remains at low potential, whereby it is able to electrically screen the beam from higher potential charge locations at the wall of chamber.