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    • 9. 发明公开
    • Verfahren zur Probennahme bei partikelbeladenen Gasströmen
    • Verfahren zur Probennahme bei partikelbeladenenGasströmen
    • EP0794421A3
    • 1999-02-10
    • EP97102618.2
    • 1997-02-19
    • BAYER AG
    • Ulfik, Benno, Dipl.-Ing.Benz, Mathias, Dr.Schmitz, Jörg Rainer, Dr.Herold, Heiko, Dipl.-Ing.
    • G01N1/24G05D5/04B02C19/06
    • G01N1/2247B02C19/06G01N1/2202G01N1/24G01N2001/2223G01N2001/225G01N2001/242G05D5/06
    • Bei dem Verfahren zur kontinuierlichen Entnahme von pulverförmigen bzw. staubförmigen Proben aus einer partikelbeladenen Strömung wird aus einem partikelbeladenen Hauptstrom in einer pneumatischen Förderleitung 17 ein Probenstrom abgesaugt und durch eine Entnahmeleitung 9 einem Partikelgrößenmeßgerät 10 zugeführt. Zur Drallberuhigung wird der Hauptstrom in der Förderleitung 17 durch eine Venturi-düsenartige Querschnittverengung 3, 4, 5 geführt, deren Querschnittsfläche 10 % bis 60 % der freien Querschnittsfläche der Förderleitung 17 beträgt. Die Probenentnahme erfolgt dann stromabwärts der Querschnittsverengung durch ein oder mehrere Sondenrohre 7, wobei ein Teilstrom aus dem Hauptstrom parallel zu dessen Strömungsrichtung entnommen wird. In Verbindung mit einer Strahlmühle 14, der das zu mahlende Produkt und die Treibluft kontinuierlich zugeführt werden, kann die in dem kontinuierlich entnommenen Probenstrom gemessene Partikelgrößenverteilung als Regelgröße verwendet werden um einen für die Partikelgrößenverteilung maßgeblichen Betriebsparameter der Strahlmühle 14 in der Weise nachzustellen, daß die Partikelgrößenverteilung im Produktstrom konstant bleibt.
    • 该方法包括管道(17),并且具有用于分离流体样本并将其引导到颗粒定型装置(10)的吸入管线(9)。 为了减少旋流,主管道(17)具有用于减少流动横截面(3,4,5)的文丘里喷嘴。 截面的减少是主管道截面的10%至60%。 取样管(7)位于文丘里管的下游并且被布置成使其入口平行于主流。 文丘里装置(3,4,5)具有附加的倾斜或轴向平行的导向叶片(12)以减小旋转流动。 可以使用一个或多个采样管(7)。
    • 10. 发明公开
    • Lichtelektrische Positionsmesseinrichtung
    • Lichtelektrische Positionsmesseinrichtung。
    • EP0279944A2
    • 1988-08-31
    • EP87118905.6
    • 1987-12-19
    • Dr. Johannes Heidenhain GmbH
    • Michel, Dieter, Dipl.-Ing. (FH)Parriaux, Olivier, Dr.Voirin, Guy, Dr.
    • G05D5/04G05D25/02G01B11/02
    • H01M2/348G01D5/38
    • Die Erfindung bezieht sich auf eine interferome­trische Positionsmeßeinrichtung bei der das Be­zugsnormal ein Beugungsgitter (G1) ist. Gebeugte Teilstrahlenbündel (+m1, -m1) werden mittels Ein­koppelgittern (+HG1, -HG1), die unterschiedliche Gitterkonstanten aufweisen, über Lichtwellenleiter (+LWL1, -LWL1) in einen Koppler (TBJ1) eingespeist und dort zur Interferenz gebracht. Die interferie­renden Teilstrahlenbündel werden von den Ausgängen über Lichtwellenleiter (+LWL1, LWL1, -LWL1) Detek­toren (+D1, D1, -D1) zugeführt, die sie in zuein­ander phasenverschobene elektrische Signale umwan­deln. Die Verschiebung des Beugungsgitters (G1) ist ein Maß für die zu messende Positionsänderung von relativ zueinander verschiebbaren Maschinen-Bau­teilen.
    • 本发明涉及一种干涉测量位置测量装置,其中标准是减光光栅(G1)。 通过具有不同栅格常数的输入耦合网格(+ HG1,-HG1)通过光波导(+ LWL1,-LWL1)馈送到耦合器(TBJ1)中,将取消的分量波束(+ m1,-m1)馈送到 被造成干扰。 干扰分量光束从光波导(+ LWL1,LWL1,-LWL1)的输出馈送到将其转换为相互相移的电信号的检测器(+ D1,D1,-D1)。 减光光栅(G1)的移动是可以相对于彼此移位的机器部件的待测位置的变化的量度。 ... ...