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    • 2. 发明公开
    • KLASSIFIZIERUNG VON PARTIKELN MITTELS SPEKTRALANALYSE
    • EP4375641A1
    • 2024-05-29
    • EP23170973.4
    • 2023-05-02
    • Wagner Group GmbH
    • FILIPPINI, DanielHARTWIG, Jonas
    • G01N15/06G08B17/107H05B45/10H05B45/50G01N15/02
    • G01N15/06G08B17/107H05B45/10H05B45/50G01N15/0211G01N15/075G08B29/20
    • Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Klassifizierung von mittels einer Partikeldetektionseinheit (200) detektierten Partikeln, welche Partikeldetektionseinheit (200) einen Lichtsender (210) zum Aussenden von Licht und einen Lichtempfänger (220) zum Erfassen von zumindest einem Teil des ausgesendeten Lichts aufweist, wobei der Lichtsender (210) und der Lichtempfänger (220) einen Detektionsbereich (DB) definierend zueinander ausgerichtet sind. In dem Verfahren werden innerhalb des Detektionsbereichs (DB) detektierte Partikel mittels Spektralanalyse klassifiziert, wobei
      - mindestens ein erstes Lichtintensitätssignal (I1) und ein zweites Lichtintensitätssignal (I2), welche auf von dem Lichtempfänger (220) erfasstem Licht einer ersten charakteristischen Wellenlänge (λ1) und einer von der ersten charakteristischen Wellenlänge (λ1) abweichenden zweiten charakteristischen Wellenlänge (λ2) basieren, ermittelt werden,
      - ein weiteres, ein Referenz-Lichtintensitätssignal (I0) ermittelt wird, welches auf von dem Lichtempfänger (220) erfasstem Licht einer charakteristischen Referenz-Wellenlänge (λ0) basiert, die von der ersten und der zweiten charakteristischen Wellenlänge (λ1, λ2) abweicht,
      - das mindestens erste und zweite Lichtintensitätssignal (I1, I2), jeweils in Relation, insbesondere ins Verhältnis zu dem Referenz-Lichtintensitätssignal (I0) gesetzt wird,
      - die so erhaltenen Relationswerte (I1/I0, I2/I0) in eine Klassifizierungskarte (130) eingeordnet werden, und
      - anhand der Einordnung innerhalb der Klassifizierungskarte (130) eine Zuordnung der detektierten Partikel zu einer definierten Partikelklasse (S1, S2, S3) erfolgt.