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    • 3. 发明公开
    • PRÜFUNGSVORRICHTUNG UND VERFAHREN ZUR ZERSTÖRUNGSFREIEN PRÜFUNG EINES BAUTEILS MITTELS EINER OLED FOLIE
    • 测试装置和方法进行破坏性试验的成分通过薄膜OLED手段
    • EP3067689A1
    • 2016-09-14
    • EP16156493.5
    • 2016-02-19
    • Siemens Aktiengesellschaft
    • Obermayr, Stefan
    • G01N27/90G01N29/04G01N29/06G01N29/22G01N29/265
    • G01N27/025G01B5/004G01N27/90G01N29/04G01N29/043G01N29/0618G01N29/069G01N29/226G01N29/2443G01N29/265G01N2291/0237G01N2291/0289
    • Die Erfindung betrifft eine Prüfungsvorrichtung (1) zur zerstörungsfreien Prüfung eines Bauteils (2), umfassend einen Prüfkopf (3) zur Erzeugung eines Abtastsignals und zur Detektion eines Messsignals, wobei mittels des Messsignals Informationen bezüglich der Qualität des Bauteils (2), insbesondere über Fehler, wie Risse oder dergleichen, zu ermitteln sind, dadurch gekennzeichnet, dass weiterhin eine OLED Folie (4) vorgesehen ist, die während der Prüfung auf einer zu prüfenden Oberfläche des Bauteils (2) anzuordnen ist und dass:
      a) die OLED Folie (4) eine Detektionsschicht zur Erfassung von Positionskoordinaten umfasst, oder
      b) die OLED Folie (4) ausgebildet ist, um die vom Prüfkopf (3) detektierten Messsignale auf der OLED Folie (4) darzustellen, oder
      c) die OLED Folie (4) eine Detektionsschicht zur Erfassung von Positionskoordinaten umfasst und ausgebildet ist, um die vom Prüfkopf (3) detektierten Messsignale in Abhängigkeit von den mittels der OLED Folie (4) detektierten Positionskoordinaten auf der OLED Folie (4) darzustellen.
    • 本发明涉及一种用于组件的非破坏性测试的检查装置(1)(2),包括测试头(3),用于产生扫描信号并检测测量信号,通过关于所述组分(2)的质量的测量信号的信息的装置,特别是通过误差 如裂纹等,来确定,其特征在于,进一步的OLED膜设置(4)和表面上的测试期间被设置要测试的组分(2)是:a)在OLED膜(4 )包括用于检测位置的检测层坐标,或b)所述OLED膜(4)被设计成表示检测到的(通过在OLED膜(4),或c)的OLED膜(4)的检测层的测量信号探头3) 包括用于检测位置坐标,并适合于由测试头被检测到(3)检测到的测量信号响应于OLED膜的装置(4) 表示连接的OLED膜(4)的位置坐标。