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    • 8. 发明公开
    • VERFAHREN ZUR KEPHALOMETRISCHEN BESTIMMUNG EINER KENNGRÖSSE EINES INDIVIDUUMS
    • 头孢菌素测定个体特征的方法
    • EP3287097A1
    • 2018-02-28
    • EP17186204.8
    • 2017-08-14
    • Technische Universität Dresden
    • Gedrange, TomaszDominiak, Marzena
    • A61C19/04A61C9/00
    • A61C19/04A61C9/0046
    • Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur kephalometrischen Bestimmung einer Kenngröße eines Individuums, umfassend das Bestimmen von Bezugspunkten in einer zwei- oder dreidimensionalen Aufnahme und das Bestimmen der Kenngröße aus den Bezugspunkten. Dabei ist vorgesehen, dass das Verfahren das
      - Bestimmen eines ersten Bezugspunktes aL1, wobei der erste Bezugspunkt der Apex eines Schneidezahnes (3) am Unterkiefer ist;
      - Bestimmen eines zweiten Bezugspunktes B, wobei der zweite Bezugspunkt der B-Punkt ist;
      - Bestimmen eines dritten Bezugspunktes CEJ, wobei der dritte Bezugspunkt auf der Zahnschmelzgrenze (6) des Schneidezahnes (3) am Unterkiefer des Individuums liegt; und
      - Bestimmen eines vierten Bezugspunktes CEJ2, der auf einer vertikalen Geraden (v), die durch den dritten Bezugspunkt CEJ verläuft, in Richtung der Unterkieferbasis (8) um einen Abstandswert (a) von dem dritten Bezugspunkt CEJ beabstandet ist, wobei der Abstandswert in einem Bereich von 1,3 mm bis 2,3 mm liegt;
      umfasst und aus dem ersten Bezugspunkt aL1, dem zweiten Bezugspunkt B und dem vierten Bezugspunkt CEJ2 ein als individuelle Kenngröße dienender Winkel aL1-CEJ2-B bestimmt wird, dessen Scheitelpunkt der vierte Bezugspunkt CEJ2 ist, dessen erster Schenkel eine Gerade ist, die den vierten Bezugspunkt CEJ2 mit dem ersten Bezugspunkt aL1 verbindet, und dessen zweiter Schenkel eine Gerade ist, die den vierten Bezugspunkt CEJ2 mit dem zweiten Bezugspunkt B verbindet.
    • 本发明涉及一种用于头部测量确定个体参数的方法,包括确定二维或三维图像中的参考点并从参考点确定特征。 提供的是,该方法包括: - 确定第一参考点aL1,其中第一参考点是下颌上切齿(3)的顶点; 确定第二参考点B,第二参考点是B点; 确定第三参考点CEJ,第三参考点位于个体下颚上的门牙3的牙釉质边界6上; 以及 - 通过所述第三参考点CEJ隔开的一个距离值(a)确定设置在一条垂直线(V),其穿过所述第三参考点CEJ一个第四参考点CEJ2,在下颌底部(8)的方向上,所述距离值 范围为1.3mm至2.3mm; 包括B和第四参考点CEJ2一个被确定为一个单独的特征服务角度AL1 CEJ2-B的第一参考点AL1,第二参考点,顶点,其是第四参考点CEJ2,其第一肢是直线的,所述第四参考点 CEJ2连接到第一参考点aL1,并且其第二腿是连接第四参考点CEJ2到第二参考点B的直线。
    • 9. 发明公开
    • ERSTELLEN EINER WACHS- ODER KUNSTSTOFFBASIS ZUR FERTIGUNG EINER DENTALPROTHESE
    • 创造蜡或塑料基础制造牙科保护
    • EP3256068A1
    • 2017-12-20
    • EP16701274.9
    • 2016-01-20
    • Kulzer GmbH
    • SAVIC, NovicaRENZ, Karl-HeinzGALL, Silke Maren
    • A61C13/01A61C13/00A61C13/10
    • A61C13/01A61C9/0046A61C13/0004A61C13/0022A61C13/10A61C13/1003A61C13/206A61C13/34
    • The invention relates to a method for producing a wax base (1) or a prosthesis base (1) for producing a dental prosthesis, wherein a virtual CAD model of the dental prosthesis is used to produce the physical dental prosthesis or the physical prosthesis base (1), wherein a virtual model of the prosthesis base (1) is calculated from the CAD model of the dental prosthesis, characterized by the following chronological steps: A) scanning in at least one three-dimensional region of a physical model (4) of the oral-cavity situation of a patient and creating a data set D1 on the basis of said scan or performing an intraoral scan of a three-dimensional region of the oral-cavity situation of the patient and producing a physical model (4) of the oral-cavity situation of a patient on the basis of the intraoral scan and creating a data set D1 on the basis of the intraoral scan; b) applying a wax layer (12) or a plastic layer (12) to the physical model (4) of the oral-cavity situation; D) calculating a virtual surface as a surface to be produced in the wax layer (12) or in the plastic layer (12), wherein the calculation is performed on the basis of the virtual model of the prosthesis base (1) and on the basis of the data set D1 and wherein positioning aids (2) for positioning prosthetic teeth (16) are provided in the surface to be produced; and E) producing the wax base (1) from the wax layer (12) or the prosthesis base (1) from the plastic layer (12) by means of a subtractive CAM method on the basis of the virtual surface calculated in step D). The invention further relates to a method for producing a dental prosthesis or a wax-up for a dental prosthesis and to a prosthesis base, a wax base, or a dental prosthesis produced by means of such a method.