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1. 发明授权

EP3146325B1 SIMULATIONSGESTÜTZTE DEFEKTBEWERTUNG MIT ULTRASCHALL 有权
公开(公告)号：EP3146325B1
公开(公告)日：2020-01-08
申请号：EP15719190.9
申请日：2015-04-23
申请人： Siemens Aktiengesellschaft
发明人： FENDT, Karl , MOOSHOFER, Hubert , RUPITSCH, Stefan Johann
IPC分类号： G01N29/06 , G01S15/89 , G01N29/11 , G01N29/26 , G01N29/44

2. 发明授权

EP2992321B1 VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR DEFEKTGRÖSSENBEWERTUNG MITTELS SAFT (SYNTHETIC APERTURE FOCUSSING TECHNIQUE) 有权转让
公开(公告)号：EP2992321B1
公开(公告)日：2019-12-18
申请号：EP14724382.8
申请日：2014-05-07
申请人： Siemens Aktiengesellschaft
发明人： BÖHM, Rainer , FENDT, Karl , HEINRICH, Werner , MOOSHOFER, Hubert
IPC分类号： G01N29/04 , G01N29/06 , G01S15/89

3. 发明公开

EP3146325A1 SIMULATIONSGESTÜTZTE DEFEKTBEWERTUNG MIT ULTRASCHALL 审中-公开
标题翻译： SIMULATIONSGESTÜTZTEDEFEKTBEWERTUNG MIT ULTRASCHALL
公开(公告)号：EP3146325A1
公开(公告)日：2017-03-29
申请号：EP15719190.9
申请日：2015-04-23
申请人： Siemens Aktiengesellschaft
发明人： FENDT, Karl , MOOSHOFER, Hubert , RUPITSCH, Stefan Johann
IPC分类号： G01N29/06 , G01S15/89 , G01N29/11 , G01N29/26 , G01N29/44
摘要： The invention relates to an ultrasound device (10) for examining a component (12), wherein the ultrasound device (10) has a measuring device (16) for carrying out an ultrasonic measurement of the component (12) and an analysis device (18). The problem addressed by the invention is to quantify structural elements (22), such as defects, in the component (12). For this purpose, the analysis device (18) is designed according to the invention to ascertain a number (N) and a respective position (X1, X2) of at least one internal structural element (22) of the component (12) as a function of the ultrasonic measurement data (M) from the measuring device (16) by means of a reconstruction method, and, by using a simulator (30), to determine at least one character of each structural element (22) by simulating the ultrasound measurement and adapting each model (28) as a function of each ascertained position (X1, X2) using a respective model (28) for the at least one structural element (22).
摘要翻译：用于检查部件的超声波装置可以包括用于对部件进行超声波测量的测量装置和分析装置。超声装置可以设计成量化组件中的结构元件，例如缺陷。为此目的，分析装置可被设计成根据来自使用重建方法的测量装置的超声测量数据确定部件的至少一个内部结构元件的数量和相应位置，并且使用模拟器通过模拟超声测量来确定每个结构元件的至少一个字符，并且使用针对所述至少一个结构元件的相应模型来使每个模型适应每个确定位置的函数。

4. 发明公开

EP2992321A1 VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR DEFEKTGRÖSSENBEWERTUNG MITTELS SAFT (SYNTHETIC APERTURE FOCUSSING TECHNIQUE) 有权转让
标题翻译： BY汁缺陷尺寸评价的方法和装置（合成孔径FOCUS SING技术）
公开(公告)号：EP2992321A1
公开(公告)日：2016-03-09
申请号：EP14724382.8
申请日：2014-05-07
申请人： Siemens Aktiengesellschaft
发明人： BÖHM, Rainer , FENDT, Karl , HEINRICH, Werner , MOOSHOFER, Hubert
IPC分类号： G01N29/04 , G01N29/06 , G01S15/89
摘要： The invention relates to a method and a device for evaluating defect variables in an object to be tested during an ultrasonic test. In the process, the invention also allows a controlled detection of defect variables on the basis of the SAFT method in particular. For this purpose, defects in an object to be tested are simulated on the basis of a specified test scenario, and the simulations are compared with real detected measurement values.

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