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    • 6. 发明公开
    • METROLOGY APPARATUS
    • 计量器具
    • EP2596319A2
    • 2013-05-29
    • EP11754898.2
    • 2011-07-20
    • Renishaw Plc.
    • McMURTRY, David, RobertsHUNTER, Stephen, Paul
    • G01B5/012
    • G01B5/0016F16C39/063G01B5/012G01B5/016G01B7/016
    • Metrology apparatus is described that includes a first structure rotatably connected to a second structure by a bearing arrangement. The bearing arrangement includes at least a first friction bearing including parts in sliding contact during rotation of the first structure relative to the second structure. The apparatus includes at least one magnet that relieves the load on the first friction bearing. Multiple magnets, provided in an attracting or repelling arrangement, may be used. The metrology apparatus may include an articulating probe head for a coordinate positioning apparatus.
    • 描述了测量装置,其包括通过轴承装置可旋转地连接到第二结构(22)的第一结构(20)。 所述轴承装置包括至少第一摩擦轴承,所述第一摩擦轴承包括在所述第一结构(20)相对于所述第二结构(22)旋转期间以滑动接触的部分(28,34,30,36)。 该设备包括至少一个磁体(52,54; 60,62),其减轻了第一摩擦轴承上的负载。 可以使用以吸引或排斥布置提供的多个磁体。 度量装置可以包括用于坐标定位设备(2)的铰接探针头(12)。