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1. 发明公开

EP0318461A3 Measuring circuit device 失效
标题翻译：测量电路设备
公开(公告)号：EP0318461A3
公开(公告)日：1989-07-26
申请号：EP89100107.5
申请日：1983-08-11
申请人： OMRON TATEISI ELECTRONICS CO.
发明人： Kobayashi, Toshiyuki , Ohta, Takao , Miura, Masatsugu , Matsumoto, Hidetoshi
IPC分类号： G01K7/24 , G01R27/02 , G01D5/248 , H03M1/60
CPC分类号： G01K1/028 , G01D18/006 , G01K7/245 , G01R35/002
摘要： A measuring circuit device comprising a measuring circuit (100), a display (200) associated with the measuring circuit for displaying data generated by the measuring circuit, a display test circuit (22) for testing the display, a performance test circuit (15) associated with the measuring circuit for actuating the measuring circuit to display predetermined reference measured data by the display, a switch (30) for initiating operation of the device, a switch circuit (14) which upon actuation of the switch actuates the display test circuit and the performance test circuit, and which in a predetermined time period, initiates a measuring operation by the measuring circuit.
摘要翻译：一种测量电路装置，包括测量电路（100），与用于显示测量电路产生的数据的测量电路相关联的显示器（200），用于测试显示器的显示测试电路（22），性能测试电路（15）与用于启动测量电路以通过显示器显示预定的参考测量数据的测量电路相关联的开关（30），用于启动设备的操作的开关（30），在启动开关时致动显示测试电路的开关电路（14）该性能测试电路在预定的时间周期内通过测量电路启动测量操作。

2. 发明公开

EP0318461A2 Measuring circuit device 失效
标题翻译： Messschaltung。
公开(公告)号：EP0318461A2
公开(公告)日：1989-05-31
申请号：EP89100107.5
申请日：1983-08-11
申请人： OMRON TATEISI ELECTRONICS CO.
发明人： Kobayashi, Toshiyuki , Ohta, Takao , Miura, Masatsugu , Matsumoto, Hidetoshi
IPC分类号： G01K7/24 , G01R27/02 , G01D5/248 , H03M1/60
CPC分类号： G01K1/028 , G01D18/006 , G01K7/245 , G01R35/002
摘要： A measuring circuit device comprising a measuring circuit (100), a display (200) associated with the measuring circuit for displaying data generated by the measuring circuit, a display test circuit (22) for testing the display, a performance test circuit (15) associated with the measuring circuit for actuating the measuring circuit to display predetermined reference measured data by the display, a switch (30) for initiating operation of the device, a switch circuit (14) which upon actuation of the switch actuates the display test circuit and the performance test circuit, and which in a predetermined time period, initiates a measuring operation by the measuring circuit.
摘要翻译：一种测量电路装置，包括测量电路（100），与用于显示测量电路产生的数据的测量电路相关联的显示器（200），用于测试显示器的显示测试电路（22），性能测试电路（15）与所述测量电路相关联，用于致动所述测量电路以通过所述显示器显示预定的参考测量数据;开关（30），用于启动所述设备的操作;开关电路（14），其在所述开关致动时致动所述显示测试电路，以及性能测试电路，并且在预定时间段内，由测量电路启动测量操作。

3. 发明授权

EP0103183B1 Measuring circuit device 失效
标题翻译：测量电路设备
公开(公告)号：EP0103183B1
公开(公告)日：1989-08-02
申请号：EP83107972.8
申请日：1983-08-11
申请人： OMRON TATEISI ELECTRONICS CO.
发明人： Kobayashi, Toshiyuki , Ohta, Takao , Miura, Masatsugu , Matsumoto, Hidetoshi
IPC分类号： G01K7/24 , G01K1/02 , G01D18/00
CPC分类号： G01K1/028 , G01K1/02 , G01K7/245

4. 发明公开

EP0103183A3 Measuring circuit device 失效
标题翻译：测量电路设备
公开(公告)号：EP0103183A3
公开(公告)日：1985-08-28
申请号：EP83107972
申请日：1983-08-11
申请人： OMRON TATEISI ELECTRONICS CO.
发明人： Kobayashi, Toshiyuki , Ohta, Takao , Miura, Masatsugu , Matsumoto, Hidetoshi
IPC分类号： G01K07/24 , G01K01/02
CPC分类号： G01K1/028 , G01K1/02 , G01K7/245
摘要： A measuring circuit device comprising a measuring circuit (100), a display (200) associated with the measuring circuit for displaying data generated by the measuring circuit, a display test circuit (22) for testing the display, a performance test circuit (15) associated with the measuring circuit for actuating the measuring circuit to display predetermined reference measured data by the display, a switch (30) for initiating operation of the device, a switch circuit (14) which upon actuation of the switch actuates the display test circuit and the performance test circuit, and which in a predetermined time period, initiates a measuring operation by the measuring circuit.

5. 发明公开

EP0103183A2 Measuring circuit device 失效
标题翻译： Vorrichtung mit Messschaltung。
公开(公告)号：EP0103183A2
公开(公告)日：1984-03-21
申请号：EP83107972.8
申请日：1983-08-11
申请人： OMRON TATEISI ELECTRONICS CO.
发明人： Kobayashi, Toshiyuki , Ohta, Takao , Miura, Masatsugu , Matsumoto, Hidetoshi
IPC分类号： G01K7/24 , G01K1/02 , G01D18/00
CPC分类号： G01K1/028 , G01K1/02 , G01K7/245
摘要： A measuring circuit device comprising a measuring circuit (100), a display (200) associated with the measuring circuit for displaying data generated by the measuring circuit, a display test circuit (22) for testing the display, a performance test circuit (15) associated with the measuring circuit for actuating the measuring circuit to display predetermined reference measured data by the display, a switch (30) for initiating operation of the device, a switch circuit (14) which upon actuation of the switch actuates the display test circuit and the performance test circuit, and which in a predetermined time period, initiates a measuring operation by the measuring circuit.
摘要翻译：一种测量电路装置，包括测量电路（100），与用于显示测量电路产生的数据的测量电路相关联的显示器（200），用于测试显示器的显示测试电路（22），性能测试电路（15）与所述测量电路相关联，用于致动所述测量电路以通过所述显示器显示预定的参考测量数据;开关（30），用于启动所述设备的操作;开关电路（14），其在所述开关致动时致动所述显示测试电路，以及性能测试电路，并且在预定时间段内，由测量电路启动测量操作。

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