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1. 发明授权

EP0423284B1 ELECTRONIC CIRCUIT ARRANGEMENT 有权
标题翻译：安排电路。
公开(公告)号：EP0423284B1
公开(公告)日：1994-01-19
申请号：EP90906379.4
申请日：1990-04-06
申请人： NORAPP-JOH. H. ANDRESEN
发明人： JEZIOROWSKI, Marek
IPC分类号： G01K7/20
CPC分类号： G01K7/21
摘要： Electronic circuit arrangement in a temperature measurement circuit based on a platinum resistor (PT) as a temperature sensing resistor, whereby in addition to the platinum resistor there is provided a reference resistor (R1). The measurement circuit (S) is adapted to apply equally large DC currents (I5, I6) to both resistors having a common return lead (3) from these, and to sense the resulting voltage difference (U) across the resistors. By means of at least one operational amplifier (G) the voltage difference is adapted to cause an output DC current from the measurement circuit (S) being proportional to the voltage difference and thereby constituting a measure of the temperature of the platinum resistor (PT). The measurement circuit (S) comprises means for compensating for non-linearity of the temperature-resistance characteristic of the platinum resistor. Two transistors (T1, T2) are provided, of which the collector output currents (I3, I4) are each adapted to be added to its said respective equally large DC current (I6, I5) being applied to the platinum resistor (PT) and the reference resistor (R1) respectively. The emitter-base voltage of the transistors is adapted to vary depending upon the output DC current from the measurement circuit (S).

2. 发明公开

EP0423284A1 ELECTRONIC CIRCUIT ARRANGEMENT 有权
标题翻译：安排电路。
公开(公告)号：EP0423284A1
公开(公告)日：1991-04-24
申请号：EP90906379.0
申请日：1990-04-06
申请人： NORAPP-JOH. H. ANDRESEN
发明人： JEZIOROWSKI, Marek
IPC分类号： G01K7
CPC分类号： G01K7/21
摘要： Un agencement de circuit électronique dans un circuit de mesurage de température fondé sur une résistance platine (PT) en tant que résistance sondeuse de température, par laquelle en plus de la résistance platine est prévue une résistance de référence (RI). Le circuit de mesurage (S) est adapté à l'application de courants cc (I5, I6) de valeur égale aux deux résistances ayant un conducteur de retour (3) commun, et au sondage de la différence de tension qui en résulte (U) sur toutes les résistances. Au moyen d'au moins un amplificateur asservi (G) la différence de tension est adaptée afin de produire un courant cc de rendement du circuit de mesurage (S) proportionnel à la différence de tension, ainsi constituant une mesure de la température de la résistance platine (PT). Le circuit de mesurage (5) comporte des moyens de compenser la non linéarité de la caractéristique de résistance à la température de la résistance platine. Deux transistors (T1, T2) sont prévus, dont les courants de rendement de collecteur (I3, I4) sont chacuns adaptés à être ajoutés à leurs courants cc de valeur égale (I6, I5) respectifs étant appliqués à la résistance platine (PT) ainsi qu'à la résistance de référence (RI) repectivement. La tension d'émetteur/base des transistors est adapté pour varier selon le courant cc de rendement du circuit de mesurage (S).

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