专利快速检索-快速检索全球专利，免费商用专利数据库-IPRDB

1. 发明公开

EP2596745A1 Reference calibration for an adaptive optics system 有权
标题翻译： Referenzkalibrierungfürein adaptors optisches System
公开(公告)号：EP2596745A1
公开(公告)日：2013-05-29
申请号：EP11184413.0
申请日：2011-10-07
申请人： Popovic, Zoran , Thaung, Jörgen , Knutsson, Per , Owner-Petersen, Mette , Svensson, Bengt
发明人： Knutsson, Per
IPC分类号： A61B3/10 , G01J9/02 , H04B10/11 , F41H13/00
CPC分类号： G02B27/0068 , A61B3/0025 , A61B3/1015 , A61B3/14 , F41H13/005 , G01J9/00 , G01J9/02 , G02B26/06 , G02F1/19 , G06T5/10 , G06T2207/20048 , H04N5/2256
摘要： A method of determining a reference calibration setting for an adaptive optics system (1) comprising a detecting device (8) for detecting light from an object (5); and at least one controllable wavefront modifying device (9) arranged such that light from the object (5) passes via the wavefront modifying device (9) to the detecting device (8). The method comprises the steps of: arranging (100) a light-source between the object (5) and the wavefront modifying device (9) to provide a reference light beam to the detecting device (8) via the wavefront modifying device; for each of a plurality of orthogonal wavefront modes of the wavefront modifying device: controlling (101) the wavefront modifying device to vary a magnitude of the orthogonal wavefront mode over a predetermined number of magnitude settings; acquiring (102) a series of readings of the detecting device, each reading corresponding to one of the magnitude settings; determining (103) a quality metric value indicative of an information content of the reading for each reading in the series of readings, resulting in a series of quality metric values; and determining (106) a reference parameter set for the wavefront modifying device corresponding to an optimum quality metric value based on the series of quality metric values.
摘要翻译：一种确定用于自适应光学系统（1）的参考校准设置的方法，包括用于检测来自物体（5）的光的检测装置（8）; 以及至少一个可控波前修正装置（9），其布置成使得来自对象（5）的光通过波前修改装置（9）经过检测装置（8）。该方法包括以下步骤：在对象（5）和波前修改设备（9）之间布置（100）光源，以通过波前修改设备向检测设备（8）提供参考光束; 对于所述波前修改设备的多个正交波阵面模式中的每一个：控制（101）所述波前修改设备以在预定数量的幅度设置上改变所述正交波阵面模式的幅度; 获取（102）所述检测装置的一系列读数，每个读数对应于所述幅度设置之一; 确定（103）指示所述一系列读数中每次阅读的阅读的信息内容的质量度量值，得到一系列质量度量值; 以及基于所述一系列质量度量值，确定（106）对应于最佳质量度量值的波前修正设备的参考参数集。

2. 发明公开

EP2656781A1 Guide star generation 审中-公开
标题翻译：指导明星一代
公开(公告)号：EP2656781A1
公开(公告)日：2013-10-30
申请号：EP12165365.3
申请日：2012-04-24
申请人： Popovic, Zoran , Thaung, Jörgen , Knutsson, Per , Owner-Petersen, Mette , Svensson, Bengt
发明人： Thaung, Jörgen
IPC分类号： A61B3/103 , A61B3/10
CPC分类号： A61B3/1015 , A61B3/103 , A61B3/14 , G01J1/0411 , G01J3/0208 , G01J9/00
摘要： An optical system (120) for detecting optical aberrations of light from an object (101), the optical system comprising: a reference light-source (102) providing collimated reference light; an optical element (212) configured to focus at least one collimated light beam incident on the optical element (212) to a plurality of focal points in a conjugate object plane (214), the optical element (212) being arranged in an optical path between the reference light-source (102) and the object (101) for transmitting a plurality of reference light beams towards the object (101); and a wavefront sensor (112) configured to detect a property indicative of an optical aberration of light incident on the wavefront sensor; wherein the optical element (212) is further arranged to transmit a plurality of reflected guide star light beams resulting from reflection of the reference light beams at the object (101) towards the wavefront sensor (112).
摘要翻译： 1.一种用于检测来自物体（101）的光的光学像差的光学系统（120），所述光学系统包括：提供准直参考光的参考光源（102）被配置为将入射在所述光学元件（212）上的至少一个准直光束聚焦到共轭物平面（214）中的多个焦点的光学元件（212），所述光学元件（212）被布置在光路在所述参考光源（102）和所述物体（101）之间用于向所述物体（101）传输多个参考光束; 和波前传感器（112），被配置为检测指示入射在波前传感器上的光的光学像差的属性; 其中所述光学元件（212）进一步布置成将通过在所述对象（101）处的所述参考光束的反射而产生的多个反射引导星形光束传输到所述波前传感器（112）。

3. 发明授权

EP2596745B1 Reference calibration for an adaptive optics system 有权
公开(公告)号：EP2596745B1
公开(公告)日：2019-06-19
申请号：EP11184413.0
申请日：2011-10-07
申请人： Popovic, Zoran , Thaung, Jörgen , Knutsson, Per , Owner-Petersen, Mette , Svensson, Bengt
发明人： Knutsson, Per
IPC分类号： A61B3/10 , G01J9/02 , F41H13/00 , H04B10/11

你已经成功收藏专利！

检索式保存成功!

IPRDB

热门服务

关于我们

友情链接

联系方式