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1. 发明公开

EP1079206A2 Temperature compensation 审中-公开
标题翻译： Temperaturkompensation
公开(公告)号：EP1079206A2
公开(公告)日：2001-02-28
申请号：EP00307313.7
申请日：2000-08-24
申请人： Cintex Limited
发明人： Gusterson, Steve, c/o Cintex Limited
IPC分类号： G01D3/028
CPC分类号： G01D3/028
摘要： There is described a method and apparatus for providing temperature compensation for a variation of output of an electronic component as the temperature of the component fluctuates. The method and apparatus is particularly applicable to the voltage output of a photodiode when operated at different temperatures, to provide a consistent voltage output for a predetermined light level incident on the photodiode. The method and apparatus is also usable in conjunction with other electronic components exhibiting performance variations with temperature. In a particularly advantageous embodiment, the temperature compensation method and apparatus is used in an X-ray inspection device wherein X-rays passing through a product under inspection are incident on a flourescent element which emits light onto a number of photodiodes.
摘要翻译：描述了一种用于当部件的温度波动时为电子部件的输出的变化提供温度补偿的方法和装置。所述方法和装置特别适用于在不同温度下操作时光电二极管的电压输出，以便为入射在光电二极管上的预定光级提供一致的电压输出。该方法和装置也可以与显示出随温度的性能变化的其它电子元件一起使用。在特别有利的实施例中，温度补偿方法和装置用于X射线检查装置，其中通过检查中的产品的X射线入射到在多个光电二极管上发光的荧光元件。

2. 发明公开

EP0535071A1 PRODUCT MONITORING 失效
标题翻译： PRODUKTÜBERPRÜFUNG。
公开(公告)号：EP0535071A1
公开(公告)日：1993-04-07
申请号：EP91911419.0
申请日：1991-06-19
申请人： CINTEX LIMITED
发明人： MARCUS, Christopher
IPC分类号： B32B3 , B65D65 , G01V3
CPC分类号： B32B3/26 , B32B3/28 , B32B2255/205 , B65D65/18 , G01V3/10
摘要： Un procédé de détection de corps métalliques étrangers dans des produits (4) contenus dans un emballage de revêtement métallique se caractérise par le fait que le revêtement métallique (3) comporte des discontinuités (6) afin de permettre la détection de tout corps métallique étranger (5) à travers ledit revêtement, ces discontinuités étant typiquement sous forme de cannelures ménagées dans la pellicule ou de fentes ménagées dans le revêtement métallique.

3. 发明公开

EP0417242A1 PRODUCT MONITORING 失效
标题翻译： PRODUKTÜBERWACHUNG。
公开(公告)号：EP0417242A1
公开(公告)日：1991-03-20
申请号：EP90905210.0
申请日：1990-03-29
申请人： CINTEX LIMITED
发明人： THOMAS, Neil, Edwin , KITTEL, Clive, Francis , AVERILL, Robert, Michael , MARCUS, Christopher , COX, Ian, Walter, Darvill
IPC分类号： G01V3
CPC分类号： G01V3/105
摘要： L'invention concerne un procédé de contrôle d'une série de produits, du type dans lequel la présence de corps étrangers dans le produit contrôlé est détectée par la différence de phase du champ magnétique caractéristique, que présente chaque matière. Ledit procédé est caractérisé en ce que le signal émis par un produit satisfaisant ne comportant pas de corps étranger est utilisé comme donnée permettant de juger si le produit suivant est exempt de corps étranger ou non.

4. 发明公开

EP1079206A3 Temperature compensation 审中-公开
标题翻译：温度补偿
公开(公告)号：EP1079206A3
公开(公告)日：2002-07-24
申请号：EP00307313.7
申请日：2000-08-24
申请人： Cintex Limited
发明人： Gusterson, Steve, c/o Cintex Limited
IPC分类号： G01D3/028
CPC分类号： G01D3/028
摘要： There is described a method and apparatus for providing temperature compensation for a variation of output of an electronic component as the temperature of the component fluctuates. The method and apparatus is particularly applicable to the voltage output of a photodiode when operated at different temperatures, to provide a consistent voltage output for a predetermined light level incident on the photodiode. The method and apparatus is also usable in conjunction with other electronic components exhibiting performance variations with temperature. In a particularly advantageous embodiment, the temperature compensation method and apparatus is used in an X-ray inspection device wherein X-rays passing through a product under inspection are incident on a flourescent element which emits light onto a number of photodiodes.

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