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1. 发明公开

EP4081950A1 SYSTEM UND VERFAHREN ZUR QUALITÄTSZUSICHERUNG VON DATENBASIERTEN MODELLEN 审中-公开
公开(公告)号：EP4081950A1
公开(公告)日：2022-11-02
申请号：EP20830273.7
申请日：2020-12-23
申请人： Aicura Medical GmbH
发明人： NIEHAUS, Sebastian , DIEBOLD, Michael , REINELT, Janis , LICHTERFELD, Daniel
IPC分类号： G06N3/04 , G06N3/08

2. 发明公开

EP4441623A1 SYSTEM UND VERFAHREN ZUM IDENTIFIZIEREN VON OBJEKTEN 审中-公开
公开(公告)号：EP4441623A1
公开(公告)日：2024-10-09
申请号：EP22822545.4
申请日：2022-11-29
申请人： Aicura Medical GmbH
发明人： NIEHAUS, Sebastian , MEROLA, Alberto , REINELT, Janis
IPC分类号： G06F16/25 , G06N3/02
CPC分类号： G06F16/258 , G06N3/0455 , G06N3/0495 , G06N3/08

3. 发明公开

EP4205041A1 SYSTEM ZUR AUTOMATISIERTEN HARMONISIERUNG STRUKTURIERTER DATEN AUS VERSCHIEDENEN ERFASSUNGSEINRICHTUNGEN 审中-实审
公开(公告)号：EP4205041A1
公开(公告)日：2023-07-05
申请号：EP21769987.5
申请日：2021-08-31
申请人： Aicura Medical GmbH
发明人： NIEHAUS, Sebastian , LICHTERFELD, Daniel , DIEBOLD, Michael , REINELT, Janis
IPC分类号： G06N3/04 , G06N3/00 , G06N3/08 , G06N5/00 , G06N5/02 , G06N20/00 , G06N7/00 , G16H10/00

4. 发明公开

EP3736709A1 KLASSIFIKATORSYSTEM UND VERFAHREN ZUM VERTEILTEN ERZEUGEN VON KLASSIFIKATIONSMODELLEN 审中-实审
公开(公告)号：EP3736709A1
公开(公告)日：2020-11-11
申请号：EP19201156.7
申请日：2019-10-02
申请人： Aicura Medical GmbH
发明人： NIEHAUS, Sebastian , DIEBOLD, Michael , LICHTERFELD, Daniel
IPC分类号： G06F16/55
摘要： Die Erfindung betrifft ein Klassifikatorsystem zum Klassifizieren von Zuständen eines durch messbare Systemparameter charakterisierten Systems. Das Klassifikatorsystem weist mehrere dezentrale Klassifikatoreinheiten auf, die jeweils ein oder mehrere binäre Klassifikationsmodelle oder ein oder mehrere, aus binären Klassifikationsmodellen generierte/zusammengesetzte Multiklassen-Klassifikationsmodelle verwirklichen. Das Klassifikatorsystem weist außerdem eine zentrale Klassifikatoreinheit auf, die mit den dezentralen Klassifikatoreinheiten zur Übertragung von die Klassifikationsmodelle definierenden Modellparameterwerten verbunden ist. Die Modellparameterwerte eines jeweiligen der dezentralen Klassifikationsmodelle sind durch Training der dezentralen Klassifikatoreinheit mit Trainingsdatensätzen gebildet, die unterschiedliche gemessene Systemparameterwerte der jeweils gleichen Systemparameter und einen einen Zustand des durch diese Systemparameter charakterisierten Systems repräsentierenden Zielwert enthalten. Die zentrale Klassifikatoreinheit ist ausgebildet, aus von verschiedenen dezentralen Klassifikatoreinheiten stammenden, dezentralen Modellparameterwerten zentrale Modellparameterwerte zu bilden, die ein zentrales binäres Klassifikationsmodell für die den Systemparametern zugeordnete Zustandsklasse definieren, und auf Basis von zentralen Modellparameterwerten, die binäre Klassifikationsmodelle für unterschiedliche Klassen definieren, zentrale Modellparameterwerte für ein Multiklassen-Klassifikationsmodell abzuleiten und so ein zentrales Multiklassifikationsmodell zu bilden.

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