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1. 发明公开

CN112996615A 识别增材制造中的异常事件的方法有权
公开(公告)号：CN112996615A
公开(公告)日：2021-06-18
申请号：CN201980074195.5
申请日：2019-11-12
申请人：瑞尼斯豪公司
发明人： K·M·琼斯 , P·M·斯库利
IPC分类号： B22F3/105 , B29C64/153 , B29C64/393 , B33Y50/02
摘要：本发明涉及一种计算机实施的方法，该方法包括从监测增材制造过程的第一传感器接收第一传感器数据(200，300，400，500)，该第一传感器数据(200，300，400，500)包括多个第一传感器值(VPn，IRPn，LMPn，zn，θη，ASαn，A8βη，ASyn，ASδn，Cn，On，Pn，MFn，图像n)；从监测该增材制造过程的第二传感器接收第二传感器数据(200，300，400，500)，该第二传感器数据(200，300，400，500)包括多个第二传感器值(VPn，IRPn，LMPn，zn，θη，φη，ASαn，ASβη，ASγn，ASδn，Cn，On，Pn，MFn，图像n)。每个第一传感器值和每个第二传感器值(VPn，IRPn，LMPn，zn，θη，φη，ASαn，ASβη，ASγn，ASδn，Cn，On，Pn，MFn，图像n)与在该增材制造过程期间生成该传感器值(VPn，IRPn，LMPn，zn，θη，φη，ASαn，ASβη，ASγn，ASδn，Cn，On，Pn，MFn，图像n)的对应时间(Tn，TSn)相关联。分析该第一传感器数据(200，300，400，500)以识别在该增材制造过程中发生的第一异常事件(A1，A2，A3，A4，A5，A6)和对应的第一异常事件时间(T1，T2，T3，T4，T5，T6)。分析该第二传感器数据(200，300，400，500)以识别该增材制造过程中的第二异常事件(A2，A3，A4，A5，A6，A7)和对应的第二异常事件时间(T2，T3，T4，T5，T6，T7)。至少部分地基于该第一异常事件时间(T1，T2，T3，T4，T5，T6)和该第二异常事件时间(T2，T3，T4，T5，T6，T7)来识别该第一异常事件(A1，A2，A3，A4，A5，A6)是否是该第二异常事件(A2，A3，A4，A5，A6，A7)的潜在原因。基于识别出该第一异常事件(A1，A2，A3，A4，A5，A6)是该第二异常事件(A2，A3，A4，A5，A6，A7)的潜在原因来生成输出。

2. 发明授权

CN111315512B 在增材制造期间收集的传感器数据的空间映射有权
公开(公告)号：CN111315512B
公开(公告)日：2023-03-28
申请号：CN201880072473.9
申请日：2018-11-07
申请人：瑞尼斯豪公司
发明人：约翰·黛尔迪丝 , K·M·琼斯 , 凯里·布朗 , 尼古拉斯·亨利·汉纳福德·琼斯
IPC分类号： B22F3/105 , B23K15/00 , G01N21/71 , G01N21/88 , G06T7/00 , B33Y10/00 , B33Y50/00 , B33Y50/02 , B23K26/342 , B29C64/153 , B29C64/386 , B29C64/393
摘要：本发明涉及一种生成在增材制造期间收集的传感器数据的空间映射图的方法，在该增材制造中使用能量束来选择性地熔化多层粉末以形成物体。该方法包括：接收在物体的增材制造期间收集的传感器数据，该传感器数据包括传感器值，该传感器值是在该物体的增材制造期间针对该能量束的不同坐标位置而捕获的；以及针对该传感器数据的相对应的基于单元的空间映射而生成单元值。该单元值中的每一个都是根据在与该熔池或能量束光斑的范围相当的区域/体积上延伸的相应多个传感器值来确定的。

3. 发明公开

CN111315512A 在增材制造期间收集的传感器数据的空间映射有权
公开(公告)号：CN111315512A
公开(公告)日：2020-06-19
申请号：CN201880072473.9
申请日：2018-11-07
申请人：瑞尼斯豪公司
发明人：约翰·黛尔迪丝 , K·M·琼斯 , 凯里·布朗 , 尼古拉斯·亨利·汉纳福德·琼斯
IPC分类号： B22F3/105 , B23K15/00 , G01N21/71 , G01N21/88 , G06T7/00 , B33Y10/00 , B33Y50/00 , B33Y50/02 , B23K26/342 , B29C64/153 , B29C64/386 , B29C64/393
摘要：本发明涉及一种生成在增材制造期间收集的传感器数据的空间映射图的方法，在该增材制造中使用能量束来选择性地熔化多层粉末以形成物体。该方法包括：接收在物体的增材制造期间收集的传感器数据，该传感器数据包括传感器值，该传感器值是在该物体的增材制造期间针对该能量束的不同坐标位置而捕获的；以及针对该传感器数据的相对应的基于单元的空间映射而生成单元值。该单元值中的每一个都是根据在与该熔池或能量束光斑的范围相当的区域/体积上延伸的相应多个传感器值来确定的。

4. 发明授权

CN112996615B 识别增材制造中的异常事件的方法有权
公开(公告)号：CN112996615B
公开(公告)日：2023-11-24
申请号：CN201980074195.5
申请日：2019-11-12
申请人：瑞尼斯豪公司
发明人： K·M·琼斯 , P·M·斯库利
IPC分类号： B22F3/105 , B29C64/153 , B29C64/393 , B33Y50/02
摘要：增材制造过程中的第二异常事件(A2，A3，A4，A5，本发明涉及一种计算机实施的方法，该方法 A6，A7)和对应的第二异常事件时间(T2，T3，T4，T5，包括从监测增材制造过程的第一传感器接收第 T6，T7)。至少部分地基于该第一异常事件时间一传感器数据(200，300，400，500)，该第一传感 (T1，T2，T3，T4，T5，T6)和该第二异常事件时间(T2，器数据(200，300，400，500)包括多个第一传感器 T3，T4，T5，T6，T7)来识别该第一异常事件(A1，A2，值(VPn，IRPn，LMPn，zn，θ η， ASαn，A8β η， A3，A4，A5，A6)是否是该第二异常事件(A2，A3，A4，ASyn，ASδn，Cn，On，Pn，MFn，图像n)；从监测该增材 A5，A6，A7)的潜在原因。基于识别出该第一异常事制造过程的第二传感器接收第二传感器数据件(A1，A2，A3，A4，A5，A6)是该第二异常事件(A2，(200，300，400，500)，该第二传感器数据(200， A3，A4，A5，A6，A7)的潜在原因来生成输出。300，400，500)包括多个第二传感器值(VPn，IRPn，LMPn，zn，θ η，φ η，ASαn，ASβ η，ASγn，ASδn，Cn，On，Pn，MFn，图像n)。每个第一传感器值和每个第二传感器值(VPn，IRPn，LMPn，zn，θ η，φ η，ASαn，ASβ η，ASγn，ASδn，Cn，On，Pn，MFn，图像n)与在该增材制造过程期间生成该传感器值(VPn，IRPn，LMPn，zn，θ η，φ η，ASαn，ASβ η，ASγn，ASδn，Cn，On，Pn，MFn，图像n)的对应时间(Tn，TSn)相关联。分析该第一传感器数据(200，300，400，500)以识别在该增材制造过程中发生的第一异常事件(A1，A2，A3，A4，A5，A6)和对应

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