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1. 发明授权

CN100454291C 使用容许误差区检测三维测量数据的方法有权
公开(公告)号：CN100454291C
公开(公告)日：2009-01-21
申请号：CN200610080530.7
申请日：2006-05-15
申请人：乐必峰软件公司
发明人：裴奭勋 , 李东勋 , 金承烨 , 赵成旭
IPC分类号： G06F17/00 , G06F17/50 , G01B21/00
CPC分类号： G01N21/9515 , G01B21/045 , G01N2021/9516
摘要：本发明提供一种使用容许误差区检测三维测量数据的方法。在检测三维测量数据时，该方法检测对应于为每个基本线图预设的测量容许误差区的三维测量数据。为此目的，控制单元基于设计数据的分析信息从设计数据存储单元生成辅助几何图形数据；基于从用户界面输入的容许误差信息，将用于测量的容许误差区设置在辅助几何图形数据内；控制测量数据的坐标系与目标的设计数据的坐标系相一致；从测量数据提取出包含在辅助几何图形数据的用于测量的容许误差区内的候选点组；以及拟合从包含在用于测量的容许误差区内的候选点组中提取出的候选点组，以将拟合的候选点组输出到用户界面。

2. 发明公开

CN1877562A 使用容许误差区检测三维测量数据的方法有权
公开(公告)号：CN1877562A
公开(公告)日：2006-12-13
申请号：CN200610080530.7
申请日：2006-05-15
申请人：乐必峰软件公司
发明人：裴奭勋 , 李东勋 , 金承烨 , 赵成旭
IPC分类号： G06F17/00 , G06F17/50 , G01B21/00
CPC分类号： G01N21/9515 , G01B21/045 , G01N2021/9516
摘要：本发明提供一种使用容许误差区检测三维测量数据的方法。在检测三维测量数据时，该方法检测对应于为每个基本线图预设的测量容许误差区的三维测量数据。为此目的，控制单元基于设计数据的分析信息从设计数据存储单元生成辅助几何图形数据；基于从用户界面输入的容许误差信息，将用于测量的容许误差区设置在辅助几何图形数据内；控制测量数据的坐标系与目标的设计数据的坐标系相一致；从测量数据提取出包含在辅助几何图形数据的用于测量的容许误差区内的候选点组；以及拟合从包含在用于测量的容许误差区内的候选点组中提取出的候选点组，以将拟合的候选点组输出到用户界面。

3. 发明公开

CN101023338A 具有带镜面区的参考面的干涉测量系统失效
公开(公告)号：CN101023338A
公开(公告)日：2007-08-22
申请号：CN200580031809.X
申请日：2005-07-18
申请人：罗伯特·博世有限公司
发明人： J·施特雷勒 , U·卡尔曼 , R·根科卢 , U·卡斯滕
IPC分类号： G01N21/45 , G01N21/95 , G01N21/88 , G01B9/02 , G01B11/24 , G01B11/30 , G01J3/45
CPC分类号： G01N21/8806 , G01B9/02049 , G01B9/02057 , G01B9/0209 , G01B11/2441 , G01N21/45 , G01N21/9515 , G01N2021/1785 , G01N2021/9516 , G01N2201/0636
摘要：本发明涉及一种干涉测量系统，该系统包括：具有光源和照明镜组的用于形成照明光路的照明臂；具有参考元件的用于形成成像光路的物体臂，该参考元件用于测量具有要测量的物面的物体，其中要测量的物体具有直接照明不能到达的物面；具有参考元件的参考臂；具有探测器的探测器臂；和分光器，其中参考元件具有一个或多个镜面区。因此能够在唯一的测量过程中测量具有在照明方向上侧凹的面的部件。

4. 发明授权

CN101023338B 具有带镜面区的参考面的干涉测量系统及测量方法失效
公开(公告)号：CN101023338B
公开(公告)日：2012-01-18
申请号：CN200580031809.X
申请日：2005-07-18
申请人：罗伯特·博世有限公司
发明人： J·施特雷勒 , U·卡尔曼 , R·根科卢 , U·卡斯滕
IPC分类号： G01N21/45 , G01N21/95 , G01N21/88 , G01B9/02 , G01B11/24 , G01B11/30 , G01J3/45
CPC分类号： G01N21/8806 , G01B9/02049 , G01B9/02057 , G01B9/0209 , G01B11/2441 , G01N21/45 , G01N21/9515 , G01N2021/1785 , G01N2021/9516 , G01N2201/0636
摘要：本发明涉及一种干涉测量系统，该系统包括：具有光源和照明镜组的用于形成照明光路的照明臂；具有参考元件的用于形成成像光路的物体臂，该参考元件用于测量具有要测量的物面的物体，其中要测量的物体具有直接照明不能到达的物面；具有参考元件的参考臂；具有探测器的探测器臂；和分光器，其中参考元件具有一个或多个镜面区。因此能够在唯一的测量过程中测量具有在照明方向上侧凹的面的部件。

5. 发明申请

US20150355099A1 SCRATCH VERIFICATION APPARATUS AND METHOD 审中-公开
标题翻译：检查验证装置和方法
公开(公告)号：US20150355099A1
公开(公告)日：2015-12-10
申请号：US14297699
申请日：2014-06-06
申请人： Hamilton Sundstrand Corporation
发明人： Russell Fordyce , Ryan Chase
IPC分类号： G01N21/88
CPC分类号： G01N21/88 , G01M5/0033 , G01N21/8806 , G01N21/8851 , G01N29/041 , G01N29/2418 , G01N2021/8427 , G01N2021/8924 , G01N2021/9516 , G01N2201/117 , G01N2201/126
摘要： A scratch verification method and apparatus for detecting and analyzing defects in a surface, the apparatus include a detection device with a plurality of emission sources and a plurality of sensors. A processor is connected to the detection device and is configured to apply one or more sets of criteria to one or more corresponding target areas of a surface. The processor is further configured to differentiate between data from the one or more target areas.
摘要翻译：一种用于检测和分析表面缺陷的划痕验证方法和装置，该装置包括具有多个发射源和多个传感器的检测装置。处理器连接到检测装置，并且被配置为将一组或多组标准应用于表面的一个或多个对应的目标区域。处理器还被配置为区分来自一个或多个目标区域的数据。

6. 发明申请

US20090201511A1 Interferometric system having a reference surface including a mirrored zone 有权
标题翻译：具有参考表面的干涉测量系统包括镜像区域
公开(公告)号：US20090201511A1
公开(公告)日：2009-08-13
申请号：US11663614
申请日：2005-07-18
申请人： Jochen Strähle , Ulrich Kallmann , Rahmi Gencoglu , Uwe Kasten
发明人： Jochen Strähle , Ulrich Kallmann , Rahmi Gencoglu , Uwe Kasten
IPC分类号： G01B11/24
CPC分类号： G01N21/8806 , G01B9/02049 , G01B9/02057 , G01B9/0209 , G01B11/2441 , G01N21/45 , G01N21/9515 , G01N2021/1785 , G01N2021/9516 , G01N2201/0636
摘要： An interferometric system having an illumination arm, including a light source and an illuminating optical system, for forming an illuminating beam; an object arm, including a reference element for measuring an object having an object surface to be measured, for forming an image-rays path, the object to be measured having an object surface inaccessible to direct illumination; a reference arm including a reference element; a detector arm including a detector; and a beam splitter, the reference element having one or more mirrored zones. Consequently, component parts which have undercut surfaces in the illumination direction can be measured in a single measuring operation.
摘要翻译：一种具有照明臂的干涉测量系统，包括用于形成照明光束的光源和照明光学系统; 对象臂，包括用于测量具有待测量对象表面的物体的参考元件，用于形成图像光线路径，被测物体具有不能直接照射的物体表面; 包括参考元件的参考臂; 检测器臂，包括检测器; 和分束器，所述参考元件具有一个或多个镜像区域。因此，可以在单次测量操作中测量在照明方向上具有底切面的部件。

7. 发明授权

US11774368B2 Light table apparatus and methods for inspecting heat exchanger plates for defects using light 有权
公开(公告)号：US11774368B2
公开(公告)日：2023-10-03
申请号：US17567630
申请日：2022-01-03
申请人： Rick Ross
发明人： Rick Ross
IPC分类号： G01N21/88 , G01N21/91 , G01N21/95
CPC分类号： G01N21/8803 , G01N21/91 , F28F2200/00 , G01N2021/9516
摘要： A light table apparatus and inspection methods are provided for detecting fluid-transmitting defects in heat exchanger plates using light. The method includes positioning the heat exchanger plate on top of a support frame of the apparatus, and covering peripheral portions of the heat exchanger plate with at least one light-shielding element. In some examples, the light-shielding element may be edge mats that cover peripheral portions of the plate, or alternatively, may be a gasket-like template that engages a resilient light seal with profiles of the heat exchanger plate surrounding a central portion thereof. The ambient environment is darkened and illumination units in the support frame are activated, and light energy can only be transmitted through defects in the central portion. Thus, a quick manual inspection process is provided for such plates, and defects as small as 15 microns are accurately detected when using the light table apparatus and inspection methods.

8. 发明申请

US20060273268A1 Method for detecting 3D measurement data using allowable error zone 审中-公开
标题翻译：使用允许误差区域检测3D测量数据的方法
公开(公告)号：US20060273268A1
公开(公告)日：2006-12-07
申请号：US11284182
申请日：2005-11-21
申请人： Seock Bae , Dong Lee , Seung Kim , Sung Cho
发明人： Seock Bae , Dong Lee , Seung Kim , Sung Cho
IPC分类号： G01N21/86 , G01V8/00
CPC分类号： G01N21/9515 , G01B21/045 , G01N2021/9516
摘要： A method of detecting 3D measurement data using an allowable error zone is provided. The method detects 3D measurement data that corresponds to a preset measurement allowable error zone for each basic diagram when detecting 3D measurement data. For that purpose, a control unit generates auxiliary geometry data from a design data storage unit on the basis of analysis information of the design data; sets an allowable error zone for measurement in the auxiliary geometry data on the basis of allowable error information inputted from a user interface; controls a coordinate system of measurement data to coincide with a coordinate system of design data of the object; extracts candidate point groups included in the allowable error zone for measurement of the auxiliary geometry data from the measurement data; and fits the candidate point groups extracted from the candidate point groups included in the allowable error zone for measurement to output the fitted candidate point groups to the user interface.
摘要翻译：提供了使用允许误差区域检测3D测量数据的方法。当检测3D测量数据时，该方法检测与每个基本图的预设测量允许误差区相对应的3D测量数据。为此，控制单元基于设计数据的分析信息从设计数据存储单元生成辅助几何数据; 基于从用户界面输入的允许误差信息，在辅助几何数据中设定测量允许误差区域; 控制测量数据的坐标系与物体的设计数据的坐标系一致; 从所述测量数据中提取包括在所述容许误差区域中的用于测量所述辅助几何数据的候选点组; 并且适合从包括在用于测量的允许误差区域中的候选点组提取的候选点组，以将拟合的候选点组输出到用户界面。

9. 发明授权

US08035821B2 Interferometric system having a reference surface including a mirrored zone 有权
标题翻译：具有参考表面的干涉测量系统包括镜像区域
公开(公告)号：US08035821B2
公开(公告)日：2011-10-11
申请号：US11663614
申请日：2005-07-18
申请人： Jochen Strähle , Ulrich Kallmann , Rahmi Gencoglu , Uwe Kasten
发明人： Jochen Strähle , Ulrich Kallmann , Rahmi Gencoglu , Uwe Kasten
IPC分类号： G01B11/02
CPC分类号： G01N21/8806 , G01B9/02049 , G01B9/02057 , G01B9/0209 , G01B11/2441 , G01N21/45 , G01N21/9515 , G01N2021/1785 , G01N2021/9516 , G01N2201/0636
摘要： An interferometric system having an illumination arm, including a light source and an illuminating optical system, for forming an illuminating beam; an object arm, including a reference element for measuring an object having an object surface to be measured, for forming an image-rays path, the object to be measured having an object surface inaccessible to direct illumination; a reference arm including a reference element; a detector arm including a detector; and a beam splitter, the reference element having one or more mirrored zones. Consequently, component parts which have undercut surfaces in the illumination direction can be measured in a single measuring operation.
摘要翻译：一种具有照明臂的干涉测量系统，包括用于形成照明光束的光源和照明光学系统; 对象臂，包括用于测量具有待测量对象表面的物体的参考元件，用于形成图像光线路径，所述被测量物体具有不能直接照射的物体表面; 包括参考元件的参考臂; 检测器臂，包括检测器; 和分束器，所述参考元件具有一个或多个镜像区域。因此，可以在单次测量操作中测量在照明方向上具有底切面的部件。

10. 发明授权

US4868404A Surface inspection apparatus using a mask system to monitor uneven surfaces 失效
标题翻译：表面检查装置使用掩模系统监测不平整的表面
公开(公告)号：US4868404A
公开(公告)日：1989-09-19
申请号：US179052
申请日：1988-04-08
申请人： Yoshida Hajime
发明人： Yoshida Hajime
IPC分类号： G01N21/90 , G01N21/95
CPC分类号： G01N21/909 , G01N21/9515 , G01N2021/9516
摘要： A surface inspection apparatuses having a light source for irradiating an uneven surface of an object to be inspected, a photoelectric conversion sensor for picking up the uneven surface of the object and generating a video signal thereof, and an electronic processor for processing the video signal to inspect the surface of the object, in which an optical mask is located in front of the light source so as to restrict the passage of the light from the light source with a predetermined pattern, whereby the irregular light reflection of the light from the light source, which passed through the optical mask, on the uneven surface becomes substantially uniform.
摘要翻译：一种表面检查装置，具有用于照射待检查物体的不平坦表面的光源，用于拾取物体的不平坦表面并产生其视频信号的光电转换传感器，以及用于处理视频信号的电子处理器检查物体的表面，其中光学掩模位于光源前面，以便以预定图案限制来自光源的光的通过，从而来自光源的光的不规则光反射通过光掩模，在不平坦表面上变得基本均匀。

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