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1. 发明公开

CN1828267A 用于识别成像打印介质的装置和方法无效
公开(公告)号：CN1828267A
公开(公告)日：2006-09-06
申请号：CN200610058379.7
申请日：2006-03-03
申请人：三星电子株式会社
发明人：黄镐斌
IPC分类号： G01N21/17 , G06F19/00
CPC分类号： G01N21/57 , B41J11/009 , G01N21/4738 , G01N2021/4735 , G01N2021/556 , G01N2021/559 , G01N2021/8663
摘要：提供一种用于识别成像打印介质的装置和方法。所述装置包括：第一发光单元，用于使光以第一入射角照射到成像打印介质上；第二发光单元，用于使光以第二入射角照射到成像打印介质上；光接收单元，用于接收从第一发光单元和第二发光单元照射并从成像打印介质反射的光；成像打印介质识别单元，用于通过利用随时间变化的第一接收光量和第二接收光量的方差来识别成像打印介质的种类；和光发射控制单元，用于控制第一发光单元和第二发光单元的光发射。

2. 发明授权

CN104126112B 光学系统和测量装置有权
公开(公告)号：CN104126112B
公开(公告)日：2017-02-01
申请号：CN201380007375.4
申请日：2013-01-21
申请人：让-皮埃尔·洛雷
发明人：让-皮埃尔·洛雷
IPC分类号： G01N21/55 , G02B27/14
CPC分类号： G01J1/0411 , G01N21/47 , G01N21/55 , G01N21/59 , G01N2021/559 , G02B27/144
摘要：光学系统(1)旨在测量物体(7)的至少一部分的表面(10)的BRDF、BDTF以及BSDF，所述系统依次包括：-消球差透镜(2)，具有打开角度，所述打开角度的绝对值在45°与严格地低于90°的值之间；-会聚场透镜(3)，位于平面P的下游；-图像拾取透镜(4)，所述图像拾取透镜的场角高于或等于从场透镜中显现的散射光束的会聚角；以及-视频传感器(5)，所述消球差透镜(2)、会聚场透镜(3)、图像拾取透镜(4)以及视频传感器(5)被设置为允许在表面(10)与图像拾取透镜(4)的入射光瞳之间的第一共轭C1和在强度图案与视频传感器(5)之间的第二共轭C2。

3. 发明公开

CN101523194A 测量涂层外观的方法及其应用有权转让
公开(公告)号：CN101523194A
公开(公告)日：2009-09-02
申请号：CN200780036933.4
申请日：2007-10-02
申请人：纳幕尔杜邦公司
发明人： A·B·J·罗德里格斯 , A·普拉卡什 , J·E·奥贝茨
IPC分类号： G01N21/47 , G06T11/00 , G01J3/46
CPC分类号： G06T7/40 , G01J3/0264 , G01N21/25 , G01N21/4738 , G01N2021/559 , G06T7/0004 , G06T2207/10152 , G06T2207/30156
摘要：本发明涉及一种用于获得含效应颜料的目标涂层的外观特性的方法。本发明还涉及一种通过比较外观特性来对两个或更多个涂层的外观进行比较的方法。本发明还涉及一种用于获得一个或多个涂层的外观特性和比较所述涂层外观的系统。

4. 发明公开

CN104126112A 旨在测量BRDF、BSDF以及BDTF的光学系统有权
公开(公告)号：CN104126112A
公开(公告)日：2014-10-29
申请号：CN201380007375.4
申请日：2013-01-21
申请人：让-皮埃尔·洛雷
发明人：让-皮埃尔·洛雷
IPC分类号： G01N21/55 , G02B9/06
CPC分类号： G01J1/0411 , G01N21/47 , G01N21/55 , G01N21/59 , G01N2021/559 , G02B27/144
摘要：光学系统(1)旨在测量物体(7)的至少一部分的表面(10)的BRDF、BDTF以及BSDF，所述系统依次包括：-消球差透镜(2)，具有打开角度，所述打开角度的绝对值在45°与严格地低于90°的值之间；-会聚场透镜(3)，位于平面P的下游；-图像拾取透镜(4)，所述图像拾取透镜的场角高于或等于从场透镜中显现的散射光束的会聚角；以及-视频传感器(5)，所述消球差透镜(2)、会聚场透镜(3)、图像拾取透镜(4)以及视频传感器(5)被设置为允许在表面(10)与图像拾取透镜(4)的入射光瞳之间的第一共轭C1和在强度图案与视频传感器(5)之间的第二共轭C2。

5. 发明授权

CN101523194B 测量涂层外观的方法及其应用有权转让
公开(公告)号：CN101523194B
公开(公告)日：2012-07-11
申请号：CN200780036933.4
申请日：2007-10-02
申请人：纳幕尔杜邦公司
发明人： A·B·J·罗德里格斯 , A·普拉卡什 , J·E·奥贝茨
IPC分类号： G01N21/47 , G06T11/00 , G01J3/46
CPC分类号： G06T7/40 , G01J3/0264 , G01N21/25 , G01N21/4738 , G01N2021/559 , G06T7/0004 , G06T2207/10152 , G06T2207/30156
摘要：本发明涉及一种用于获得含效应颜料的目标涂层的外观特性的方法。本发明还涉及一种通过比较外观特性来对两个或更多个涂层的外观进行比较的方法。本发明还涉及一种用于获得一个或多个涂层的外观特性和比较所述涂层外观的系统。

6. 发明公开

EP0414504A2 Densitometer for measuring developability 失效
标题翻译：密度计zur Messung der Entwickelbarkeit。
公开(公告)号：EP0414504A2
公开(公告)日：1991-02-27
申请号：EP90309171.8
申请日：1990-08-21
申请人： XEROX CORPORATION
发明人： Borton, Michael D. , Hubble, Fred F. III , Martin, James P. , Mattioli, Theresa K. , Shoemaker, Ralph A.
IPC分类号： G01N21/55 , G03G15/00
CPC分类号： G01N21/55 , G01N21/4738 , G01N2021/559 , G01N2021/8427 , G03G15/0855 , G03G15/5041
摘要： An infrared densitometer which measures the reflectivity of a selected region on a moving photoconductive belt (10) covered at least partially with marking particles. Collimated light rays are projected onto the selected region of the moving photoconductive member with or without marking particles thereon. The light rays reflected from the selected region of the moving photoconductive member are collected and directed onto a photodiode array (106). The photodiode array generates electrical signals proportional to the diffuse component of the total reflectivity of the selected region of the photoconductive member with and without marking particles thereon. Circuitry determines a control signal as a function of the difference in electrical signals.
摘要翻译：一种红外光密度计，其测量至少部分地被标记颗粒覆盖的移动光电导带（10）上的选定区域的反射率。准直的光线被投影到具有或不具有标记颗粒的运动的感光体的选定区域上。从运动的感光体的选定区域反射的光线被收集并且被引导到光电二极管阵列（106）上。光电二极管阵列产生与在其上具有和不具有标记颗粒的感光体的选定区域的总反射率的漫反射分量成比例的电信号。电路确定作为电信号差的函数的控制信号。

7. 发明申请

US20140375797A1 Optical system intended to measure BRDF, BSDF and BTDF 审中-公开
标题翻译：用于测量BRDF，BSDF和BTDF的光学系统
公开(公告)号：US20140375797A1
公开(公告)日：2014-12-25
申请号：US14375798
申请日：2013-01-21
申请人： Jean-Pierre Lauret
发明人： Jean-Pierre Lauret
IPC分类号： G01J1/04 , G01N21/47 , G01N21/59
CPC分类号： G01J1/0411 , G01N21/47 , G01N21/55 , G01N21/59 , G01N2021/559 , G02B27/144
摘要： The optical system (1) is intended to measure the bidirectional reflectance and/or transmittance distribution function BRDF, BTDF and BSDF of a surface (10) of at least a portion of an object (7), the system comprising successively: an aplanatic lens (2) having an opening angle, the absolute value of which is comprised between 45° and a value strictly lower than 90°, a converging field lens (3) downstream of the plane P, an image pickup lens (4), the field angle of which is higher than or equal to the convergence angle of the scattered light beams emerging from the field lens, and a video sensor (5), the aplanatic lens (2), the converging field lens (3), the image pickup lens (4) and the video sensor (5) being arranged so as to allow a conjugation C1 between the surface (10) and the entrance pupil of the image pickup lens (4) and a conjugation C2 between an intensity pattern and the video sensor (5).
摘要翻译：光学系统（1）旨在测量物体（7）的至少一部分的表面（10）的双向反射率和/或透射率分布函数BRDF，BTDF和BSDF，该系统包括：平行透镜（2）具有绝对值为45°和严格低于90°的开度角，平面P下游的会聚场透镜（3），摄像透镜（4），场其角度高于或等于从场透镜出射的散射光束的会聚角，以及视频传感器（5），平视透镜（2），会聚场透镜（3），图像拾取透镜（4）和视频传感器（5）被布置成允许图像拾取透镜（4）的表面（10）和入射光瞳之间的共轭C1和强度图案与视频传感器（ 5）。

8. 发明授权

US07635853B1 Analyzing reflection data for recording medium identification 有权
标题翻译：分析记录介质识别的反射数据
公开(公告)号：US07635853B1
公开(公告)日：2009-12-22
申请号：US12250717
申请日：2008-10-14
申请人： Yang Shi , Gregory Michael Burke
发明人： Yang Shi , Gregory Michael Burke
IPC分类号： G01N21/86 , B41J2/01
CPC分类号： B41J11/009 , G01N21/57 , G01N2021/4735 , G01N2021/556 , G01N2021/559 , G01N2021/8663
摘要： A method is proved for analyzing frequency distribution of a reflection from a surface of a body to determine a type of body surface. Initially, a plurality of data points from a sensor that senses the reflection of the body's surface are provided. A first series of terms are summed together to provide a first magnitude, each term including a plurality of data points; wherein the plurality of data points being spaced apart by a first spacing. A second series of terms are summed together to provide a second magnitude, each term including a plurality of data points; wherein the plurality of data points being spaced apart by a second spacing. The first magnitude is compared to the second magnitude to determine the type of body surface.
摘要翻译：证明了一种用于分析来自身体表面的反射的频率分布以确定体表的类型的方法。首先，提供来自感测身体表面的反射的传感器的多个数据点。将第一系列术语相加在一起以提供第一幅度，每个术语包括多个数据点; 其中所述多个数据点被间隔开第一间隔。将第二系列项相加在一起以提供第二大小，每个术语包括多个数据点; 其中所述多个数据点间隔开第二间隔。将第一幅度与第二幅度进行比较，以确定体表的类型。

9. 发明授权

US5149978A Apparatus for measuring grain sizes in metalized layers 失效
标题翻译：用于测量金属化层中的晶粒尺寸的装置
公开(公告)号：US5149978A
公开(公告)日：1992-09-22
申请号：US624036
申请日：1990-12-07
申请人： Jon Opsal , Allan Rosencwaig
发明人： Jon Opsal , Allan Rosencwaig
IPC分类号： G01N15/02 , G01N15/14 , G01N21/55 , G01N21/84
CPC分类号： G01N21/55 , G01N2021/555 , G01N2021/559 , G01N2021/8427
摘要： An apparatus (10) is disclosed for evaluating the size of grains in a metalized layer on a semiconductor sample (12). The apparatus includes a laser (20) for generating a probe beam (22). The probe beam is focused to a diameter of about one micron and scanned over the surface of the sample. Variations in the power of the specularly reflected beam are measured. In one aspect of the subject invention, the spacing between minima in the reflectivity signal is used to give a direct measurement of average grain size. The depth of the minima can be used to derive a distribution of the grain size. For very small grains, a statistical evaluation of the reflectivity signal is performed to derive grain size.
摘要翻译：公开了一种用于评估半导体样品（12）上的金属化层中的晶粒尺寸的装置（10）。该装置包括用于产生探测光束（22）的激光（20）。将探针束聚焦到约1微米的直径并在样品的表面上扫描。测量镜面反射光束功率的变化。在本发明的一个方面，反射率信号中的最小值之间的间距用于给出平均晶粒尺寸的直接测量。最小值的深度可用于导出晶粒尺寸的分布。对于非常小的晶粒，执行反射率信号的统计评估以导出晶粒尺寸。

10. 发明申请

WO2013114022A1 SYSTÈME OPTIQUE DESTINÉ À MESURER LA BRDF, BSDF ET BDTF 审中-公开
标题翻译：光学系统旨在测量BRDF，BSDF和BDTF
公开(公告)号：WO2013114022A1
公开(公告)日：2013-08-08
申请号：PCT/FR2013/050126
申请日：2013-01-21
申请人： LAURET, Jean-Pierre
发明人： LAURET, Jean-Pierre
IPC分类号： G01N21/55 , G02B9/06
CPC分类号： G01J1/0411 , G01N21/47 , G01N21/55 , G01N21/59 , G01N2021/559 , G02B27/144
摘要： Système optique (1), destiné à mesurer les BRDF, BDTF, BSDF d'une surface (10) d'au moins une partie d'un objet (7), le système comprenant successivement : -un objectif aplanétique (2) présentant un angle d'ouverture dont la valeur absolue est comprise entre 45° et une valeur strictement inférieure à 90°, -une lentille de champ convergente (3) en aval du plan P, -un objectif de prise d'image (4) dont l'angle de champ est supérieur ou égal à l'angle de convergence des faisceaux de la lumière diffusée émergeants de la lentille de champ, et -un capteur vidéo (5), l'objectif aplanétique (2), la lentille de champ convergente (3), l'objectif de prise d'image (4) et le capteur vidéo (5) étant agencés de sorte à permettre une première conjugaison C1 entre la surface (10) et la pupille d'entrée de l'objectif de prise d'image (4) et une deuxième conjugaison C2 entre un diagramme d'intensité et le capteur vidéo (5).
摘要翻译：一种用于测量物体（7）的至少一部分的表面（10）的BRDF，BDTF和BSDF的光学系统（1），所述系统连续地包括： - 具有开放角的平行透镜（2）绝对值在45°和严格低于90°的值之间， - 平面P下游的会聚场透镜（3）， - 摄像透镜（4），其中视场角大于或等于角度从场透镜出射的散射光的会聚，以及视频传感器（5），平行透镜（2），会聚场透镜（3），摄像透镜（4）和视频传感器（5）布置成允许图像（10）和摄像镜头（4）的入射光瞳之间的第一共轭C1和强度图案与视频传感器（5）之间的第二共轭C2。

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