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    • 2. 发明申请
    • Circuit simulation method and circuit simulation apparatus
    • 电路仿真方法及电路仿真装置
    • US20070233447A1
    • 2007-10-04
    • US11730012
    • 2007-03-29
    • Ryo MiyataHironori Sakamoto
    • Ryo MiyataHironori Sakamoto
    • G06F17/50
    • G06F17/5036
    • A circuit simulation method for estimating electrical characteristics of a semiconductor device is provided. The circuit simulation method includes: (A) generating a device model parameter of a semiconductor device model used in a circuit simulation; and (B) executing the circuit simulation by using the semiconductor device model and the generated device model parameter. The (A) step includes: (a) generating a plurality of device model parameters with respect to a plurality of different temperatures; and (b) generating the device model parameter corresponding to a specified temperature by interpolating between the plurality of device model parameters.
    • 提供了一种用于估计半导体器件的电特性的电路仿真方法。 电路仿真方法包括:(A)生成电路仿真中使用的半导体器件模型的器件模型参数; 和(B)使用半导体器件模型和生成的器件模型参数执行电路仿真。 (A)步骤包括:(a)产生关于多个不同温度的多个装置模型参数; 以及(b)通过在所述多个设备模型参数之间进行插值来生成对应于指定温度的设备模型参数。