会员体验
专利管家(专利管理)
工作空间(专利管理)
风险监控(情报监控)
数据分析(专利分析)
侵权分析(诉讼无效)
联系我们
交流群
官方交流:
QQ群: 891211   
微信请扫码    >>>
现在联系顾问~
热词
    • 5. 发明授权
    • Patterning method of semiconductor device
    • 半导体器件的图案化方法
    • US08057987B2
    • 2011-11-15
    • US12256259
    • 2008-10-22
    • Cheol Hoon Yang
    • Cheol Hoon Yang
    • G03F7/26
    • G03F1/50
    • The invention relates to a patterning method of a semiconductor device. In an aspect of the invention, the method may include forming a target etch layer on a semiconductor substrate, forming a photoresist film on the target etch layer, forming photoresist patterns using exposure and development processes employing an exposure mask wherein exposure patterns, each having inclined top corners, are formed, and patterning the target etch layer using an etch process employing the photoresist patterns.
    • 本发明涉及半导体器件的图案化方法。 在本发明的一个方面,该方法可以包括在半导体衬底上形成靶蚀刻层,在目标蚀刻层上形成光致抗蚀剂膜,使用曝光和显影工艺形成光致抗蚀剂图案,其中曝光图案具有倾斜 形成顶角,并且使用采用光致抗蚀剂图案的蚀刻工艺对目标蚀刻层进行图案化。