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1. 发明专利

JP2009122123A Contact probe 审中-公开
标题翻译：联系方式
公开(公告)号：JP2009122123A
公开(公告)日：2009-06-04
申请号：JP2009051700
申请日：2009-03-05
申请人： Yokowo Co Ltd , 株式会社ヨコオ
发明人： KAWAKAMI YOSHIAKI , KATO NAOKI , IWAKOSHI TAKAO , SUGIYAMA TATSUO
IPC分类号： G01R1/067 , H01L21/66
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To reduce an area of a narrow pitch part of a pattern wire and improve the freedom of routing in a contact probe.
SOLUTION: The contact probe 10 has a plurality of pattern wires 12 stuck to a surface of a film body 11 and tips of at least part of the pattern wires serving as contact pins 13a. The pattern wires include a plurality of first wires 13 whose tips serve as the contact pins and a plurality of second wires 15 laminated on the first wires via an insulation layer 14. The second wires have connection parts connected with the middle of the first wires.
COPYRIGHT: (C)2009,JPO&INPIT
摘要翻译：要解决的问题：减少图案线的窄间距部分的面积，并提高接触探针中的布线自由度。解决方案：接触探针10具有粘附到膜体11的表面的多个图案布线12和用作接触销13a的图案线的至少一部分的末端。图案导线包括多个第一布线13，其尖端用作接触针，以及通过绝缘层14层压在第一布线上的多个第二布线15.第二布线具有与第一布线中间连接的连接部分。版权所有（C）2009，JPO＆INPIT

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