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    • 2. 发明公开
    • Procédé collectif de fabrication de circuits logiques comportant au moins un transistor à effet de champ du type à faible tension de seuil, et une résistance saturable, et circuit logique réalisé par un tel procédé
    • 对于逻辑电路,其包括至少一个具有低阈值电压和由该方法生产的饱和电阻和逻辑电路的场效应晶体管的集成制造工艺。
    • EP0081422A2
    • 1983-06-15
    • EP82402181.0
    • 1982-11-30
    • THOMSON-CSF
    • Arnodo, ChristianNuzillat, Gérard
    • H01L21/82H01L27/26H03K19/04
    • H03K19/0952H01L21/8252H01L27/26
    • L'invention a pour but de réaliser, sur une même plaquette semi-conductrice, des circuits logiques comportant deux types de transistors à effet de champ : le premier type à très faible épaisseur de canal (quasi-normalement bloqué) et le deuxième à plus grande épaisseur de canal (normalement conducteur) destiné à constituer des résistances saturables (51 et 52). A cet effet, sur une plaquette à substrat semi-isolant (1) comportant une couche superficielle active (2) où doivent s'inscrire les canaux des deux types, on règle l'épaisseur de la couche active à l'épaisseur du canal du transistor du deuxième type, et après dépôt des contacts ohmiques des transistors (53 et 54) des deux types, on creuse par érosion ionique les régions de grille des transistors du premier type pour y déposer des contacts Schottky.
    • a)半导体晶片,其包括向活性绝缘基板(1)中的一个的制造:1.对于逻辑电路各自包含低阈值电压的至少一个场效应晶体管和一个电阻器饱和,其包括以下步骤的集体的制造方法 厚度至少等于一预定值的层(2); b)在电化学或离子蚀刻法的有源层(2)通过的侵蚀到所述层向上的厚度减小到A1通过电子手段确定的值; c)该晶片区分别意在通过台面蚀刻或通过绝缘壁(41,42和43)的离子注入以接收所述逻辑电路的组件的隔离; d)中晶体管(53和54的欧姆接触51沉积)和可饱和电阻(和52); E)饱和电阻的欧姆触点之间和金属沉积(61,63,64和65),覆盖所述欧姆接触的沉积同时形成肖特基接触(62); F)金属化的沉积(84)连接每个可饱和电阻在步骤(e)形成的肖特基接触的欧姆接触中的一个; 克)的生产通过离子侵蚀后的厚度依赖计算的深度A0低阈值电压的每个场效应晶体管的所述槽(81)的A1测量在步骤(b); 1H)在步骤(g)形成的槽的底部的肖特基接触(82)的沉积; ⅰ)生产属于每个逻辑电路的互连和连接(83和85)的。