专利快速检索-快速检索全球专利，免费商用专利数据库-IPRDB

1. 发明专利

DE102010010285B4 Probenuntersuchung mittels Terahertz-Spektroskopie 未知
公开(公告)号：DE102010010285B4
公开(公告)日：2012-03-22
申请号：DE102010010285
申请日：2010-03-04
申请人： TECH UNI CAROLO WILHELMINA ZU BRAUNSCHWEIG
发明人： SCHELLER MAIK , KOCH MARTIN PROF DR , JANSEN CHRISTIAN , WIETZKE STEFFEN
IPC分类号： G01N21/35 , G01N22/00
摘要： Verfahren zur Materialuntersuchung einer Probe (3) mittels Terahertz-Spektroskopie zur Identifikation von Materialunregelmäßigkeiten der Probe (3) mit den folgenden Schritten: (a) es werden mittels einer Terahertzwellen-Sendeeinrichtung (5, 8) elektromagnetische Wellen (6, 9) mit einer Frequenz im Terahertz-Rereich auf die zu untersuchende Probe (3) gesendet, (b) es werden mittels einer Terahertzwellen-Empfangseinrichtung (1, 8) elektromagnetische Wellen (7, 9) im Terahertz-Bereich von der Probe (3) aufgenommen, (c) die aufgenommenen Wellen (7, 9) werden von der Terahertzwellen-Empfangseinrichtung (1, 8) als Zeitbereichsignal oder als Frequenzbereichssignal einer Auswerteeinrichtung (10) zugeführt, (d) soweit ein der Auswerteeinrichtung (10) zugeführtes Signal ein Zeitbereichssignal ist, wandelt die Auswerteeinrichtung (10) das Zeitbereichssignal durch eine erste Spektral-Transformation in ein Frequenzbereichssignal (H), (e) die Auswerteeinrichtung (10) wandelt das Frequenzbereichssignal (H) mittels einer zweiten Spektral-Transformation in eine Ausgabefunktion (Q(x)), durch die ermittelte Anomaliewerte (Q) entsprechenden optischen Tiefenwerten (x) der Probe zugeordnet sind, (f) die Auswerteeinrichtung (10) stellt die Ausgabefunktion...

2. 发明专利

DE102010010285A1 Probenuntersuchung mittels Terahertz-Spektroskopie 未知
公开(公告)号：DE102010010285A1
公开(公告)日：2011-09-08
申请号：DE102010010285
申请日：2010-03-04
申请人： TECH UNI CAROLO WILHELMINA ZU BRAUNSCHWEIG
发明人： SCHELLER MAIK , KOCH MARTIN PROF DR , JANSEN CHRISTIAN , WIETZKE STEFFEN
IPC分类号： G01N21/35
摘要： Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Materialuntersuchung einer Probe (3) mittels Terahertz-Spektroskopie zur Identifikation von Materialunregelmäßigkeiten der Probe (3) mit den folgenden Schritten: (a) es werden mittels einer Terahertzwellen-Sendeeinrichtung (5, 8) elektromagnetische Wellen (6, 9) mit einer Frequenz im Terahertz-Bereich auf die zu untersuchende Probe (3) gesendet, (b) es werden mittels einer Terahertzwellen-Empfangseinrichtung (1, 8) elektromagnetische Wellen (7, 9) im Terahertz-Bereich von der Probe (3) aufgenommen, (c) die aufgenommenen Wellen (7, 9) werden von der Terahertzwellen-Empfangseinrichtung (1, 8) als Zeitbereichsignal oder als Frequenzbereichssignal einer Auswerteeinrichtung (10) zugeführt, (d) soweit ein der Auswerteeinrichtung (10) zugeführtes Signal ein Zeitbereichssignal ist, wandelt die Auswerteeinrichtung (10) das Zeitbereichssignal durch eine erste Spektral-Transformation in ein Frequenzbereichssignal (H), (e) die Auswerteeinrichtung (10) wandelt das Frequenzbereichssignal (H) mittels einer zweiten Spektral-Transformation in eine Ausgabefunktion (Q(x)), durch die ermittelte Anomaliewerte (Q) entsprechenden optischen Tiefenwerten (x) der Probe zugeordnet sind, (f) die Auswerteeinrichtung (10) stellt die Ausgabefunktion (Q(x)) als Anomaliewerte (Q) in Bezug zu optischen Tiefenwerten (x) auf einem Anzeigegerät dar und/oder bestimmt aus der Ausgabefunktion (Q(x)) nach wenigstens einem vorgegebenen Vergleichskriterium automatisch wenigstens eine Materialunregelmäßigkeit (12) der Probe (3).

你已经成功收藏专利！

检索式保存成功!

IPRDB

热门服务

关于我们

友情链接

联系方式