专利快速检索-快速检索全球专利，免费商用专利数据库-IPRDB

1. 发明专利

BRPI0520370B8 SISTEMA E MÉTODO PARA MEDIÇÃO E MAPEAMENTO DE UMA SUPERFÍCIE COM RELAÇÃO A UMA REFERÊNCIA 未知
公开(公告)号：BRPI0520370B8
公开(公告)日：2023-01-10
申请号：BRPI0520370
申请日：2005-10-20
申请人： SCANALYSE PTY LTD , OUTOTEC PTY LTD
发明人： MIKE PAUL STEWART , DEREK LICHTI , JOCHEN FRANKE
IPC分类号： G01B11/30 , B02C17/00 , G01B21/30
摘要： SISTEMA E MÉTODO PARA MEDIÇÃO E MAPEA- MENTO DE UMA SUPERFÍCIE COM RELAÇÃO A UMA REFERÊNCIA. Sistema e método para medição do deslocamento de uma superfície (47) em relação a uma referência de base (45), bem como para mapear o deslocamento de uma superfície da superfície (47) com relação à referência de base (45). A presente invenção possui aplicação específica para determinar o desgaste de revestimentos (27) usada em moinho de bolas (23). Um scanner a laser (11) gera dados nebulosos pontuais com relação a uma medição da orientação espacial de uma superfície distal (47) com relação a um ponto de referência para definir uma imagem tridimensional da superfície (47). Dados de referência são armazenados com relação à orientação espacial (45) com relação à superfície. Um computador (13) processa os dados nebulosos pontuais e os dados de referência de base para determinar o deslocamento relativo da superfície (47) com relação à referência de base. Isto é feito por meio de um processo de referência (57) que orienta os dados nebulosos pontuais em relação a dados de referência principais da superfície de base (45) e transforma a nuvem de pontos de dados em um sistemade coordenadas que coincide com os dados de referência de base. Um processo de processamento de deslocamento (59) então calcula o deslocamento entre a superfície (47) e a referência de base (45) utiliza ambos os conjuntos de dados no sistema de coordenadas e produz dados de deslocamento em relação ao mesmo. Um processo de comparação (67) compara os dados de deslocamento contra um limite prescrito e gera um relatório (apêndice) que graficamente exibe o resultado da comparaçao.

2. 发明专利

BRPI0520370B1 SISTEMA E MÉTODO PARA MEDIÇÃO E MAPEAMENTO DE UMA SUPERFÍCIE COM RELAÇÃO A UMA REFERÊNCIA 未知
公开(公告)号：BRPI0520370B1
公开(公告)日：2022-09-27
申请号：BRPI0520370
申请日：2005-10-20
申请人： SCANALYSE PTY LTD
发明人： MIKE PAUL STEWART , DEREK LICHTI , JOCHEN FRANKE
IPC分类号： G01B11/30 , B02C17/00 , G01B21/30
摘要： SISTEMA E MÉTODO PARA MEDIÇÃO E MAPEA- MENTO DE UMA SUPERFÍCIE COM RELAÇÃO A UMA REFERÊNCIA. Sistema e método para medição do deslocamento de uma superfície (47) em relação a uma referência de base (45), bem como para mapear o deslocamento de uma superfície da superfície (47) com relação à referência de base (45). A presente invenção possui aplicação específica para determinar o desgaste de revestimentos (27) usada em moinho de bolas (23). Um scanner a laser (11) gera dados nebulosos pontuais com relação a uma medição da orientação espacial de uma superfície distal (47) com relação a um ponto de referência para definir uma imagem tridimensional da superfície (47). Dados de referência são armazenados com relação à orientação espacial (45) com relação à superfície. Um computador (13) processa os dados nebulosos pontuais e os dados de referência de base para determinar o deslocamento relativo da superfície (47) com relação à referência de base. Isto é feito por meio de um processo de referência (57) que orienta os dados nebulosos pontuais em relação a dados de referência principais da superfície de base (45) e transforma a nuvem de pontos de dados em um sistemade coordenadas que coincide com os dados de referência de base. Um processo de processamento de deslocamento (59) então calcula o deslocamento entre a superfície (47) e a referência de base (45) utiliza ambos os conjuntos de dados no sistema de coordenadas e produz dados de deslocamento em relação ao mesmo. Um processo de comparação (67) compara os dados de deslocamento contra um limite prescrito e gera um relatório (apêndice) que graficamente exibe o resultado da comparaçao.

你已经成功收藏专利！

检索式保存成功!

IPRDB

热门服务

关于我们

友情链接

联系方式