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1. 发明授权

US07877816B2 Scanning probe in pulsed-force mode, digital and in real time 有权
标题翻译：以脉冲力模式扫描探头，数字和实时
公开(公告)号：US07877816B2
公开(公告)日：2011-01-25
申请号：US11584843
申请日：2006-10-23
申请人： Peter Spizig , Detlef Sanchen , Jörg Förstner , Joachim Koenen , Othmar Marti , Gerhard Volswinkler
发明人： Peter Spizig , Detlef Sanchen , Jörg Förstner , Joachim Koenen , Othmar Marti , Gerhard Volswinkler
IPC分类号： G01N13/12
CPC分类号： G01Q10/06 , G01Q30/04 , G01Q60/32 , Y10S977/85 , Y10S977/851 , Y10S977/852 , Y10S977/86
摘要： Microscope, in particular a scanning probe microscope, comprising a programmable logic device.
摘要翻译：显微镜，特别是扫描探针显微镜，包括可编程逻辑器件。

2. 发明授权

US07129486B2 Scanning probe with digitized pulsed-force mode operation and real-time evaluation 有权
标题翻译：扫描探头采用数字化脉冲力模式操作和实时评估
公开(公告)号：US07129486B2
公开(公告)日：2006-10-31
申请号：US10433917
申请日：2001-12-12
申请人： Peter Spizig , Detlef Sanchen , Jörg Förstner , Joachim Koenen , Othmar Marti
发明人： Peter Spizig , Detlef Sanchen , Jörg Förstner , Joachim Koenen , Othmar Marti
IPC分类号： G01N23/00
CPC分类号： G01Q60/34 , G01Q10/06 , G01Q30/04 , G01Q60/32
摘要： The invention relates to a method for creating the image of a sample surface to be analyzed, with a resolution which is better than 1 μm laterally in relation to the sample surface and better than 100 nm vertically in relation to said surface. According to the invention, the surface is scanned on a point-by-point basis by a scanning probe, the distance between the scanning probe and the sample surface at each scanning point being periodically modulated, in such a way that a force-time curve of the probe is produced for this point. The force-time curve is recorded at each scanning point, digitized using an A/D converter, evaluated online in real-time and stored, together with the entire data stream, in a first area of a memory device. One or several characteristic variables of the force-time curves are determined for each scanning point from the real-time evaluation results and the stored digitized force-time curves and an image of the sample surface is obtained from said characteristic variables of the scanning points.
摘要翻译：本发明涉及一种用于创建待分析样品表面的图像的方法，其分辨率相对于样品表面横向优于1μm，相对于所述表面垂直于100nm。根据本发明，通过扫描探针逐点扫描表面，在每个扫描点处扫描探针和样品表面之间的距离被周期性地调制，使得力 - 时间曲线的探针是为此而产生的。在每个扫描点记录力 - 时间曲线，使用A / D转换器进行数字化，实时在线评估，并与整个数据流一起存储在存储器件的第一区域中。从实时评估结果和存储的数字化力 - 时间曲线确定每个扫描点的力 - 时间曲线的一个或几个特征变量，并且从扫描点的所述特征变量获得样本表面的图像。

3. 发明申请

US20100313311A1 Scanning probe in pulsed-force mode, digital and in real time 有权
标题翻译：以脉冲力模式扫描探头，数字和实时
公开(公告)号：US20100313311A1
公开(公告)日：2010-12-09
申请号：US12804110
申请日：2010-07-14
申请人： Peter Spizig , Detief Sanchen , Jörg Förstner , Joachim Koenen , Othmar Marti , Gerhard Volswinkler
发明人： Peter Spizig , Detief Sanchen , Jörg Förstner , Joachim Koenen , Othmar Marti , Gerhard Volswinkler
IPC分类号： G01Q30/04
CPC分类号： G01Q60/34 , G01Q10/06 , G01Q30/04 , G01Q60/32
摘要： A microscope, in particular a scanning probe microscope, comprising a programmable logic device.
摘要翻译：显微镜，特别是扫描探针显微镜，包括可编程逻辑器件。

4. 发明授权

US08286261B2 Scanning probe in pulsed-force mode, digital and in real time 有权
标题翻译：以脉冲力模式扫描探头，数字和实时
公开(公告)号：US08286261B2
公开(公告)日：2012-10-09
申请号：US12804110
申请日：2010-07-14
申请人： Peter Spizig , Detief Sanchen , Jörg Förstner , Joachim Koenen , Othmar Marti , Gerhard Volswinkler
发明人： Peter Spizig , Detief Sanchen , Jörg Förstner , Joachim Koenen , Othmar Marti , Gerhard Volswinkler
IPC分类号： G01Q60/00
CPC分类号： G01Q60/34 , G01Q10/06 , G01Q30/04 , G01Q60/32
摘要： A microscope, in particular a scanning probe microscope, comprising a programmable logic device.
摘要翻译：显微镜，特别是扫描探针显微镜，包括可编程逻辑器件。

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