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1. 发明申请

WO2011058191A1 VORRICHTUNG UND VERFAHREN ZUM LOKALISIEREN VON MODULIERTEN STRAHLUNGSQUELLEN 审中-公开
标题翻译：装置和方法，用于定位调制的辐射源
公开(公告)号：WO2011058191A1
公开(公告)日：2011-05-19
申请号：PCT/EP2010/067576
申请日：2010-11-16
申请人： OPTO-MST SENSOREN UND SYSTEME GMBH , FREITAG, Hans-Joachim , ORTLEPP, Hans-Georg , SCHMIDT, Andreas , BUSCHMANN, Uwe
发明人： FREITAG, Hans-Joachim , ORTLEPP, Hans-Georg , SCHMIDT, Andreas , BUSCHMANN, Uwe
IPC分类号： G01S3/783
CPC分类号： G01S3/7835 , G01S3/784 , G01S7/4804
摘要： Es wird eine Vorrichtung (50) zum Lokalisieren von modulierten, optischen Strahlungsquellen, die aufweist: mehrere Strahlungsdetektoren (31-34), welche jeweils Einzelsektorsignale abgeben, die jeweils einem Raumsektor zugeordnet sind, aus dem die Strahlung auf den Strahlungsdetektor einfällt, und eine Auswerteeinrichtung (35), der die Einzelsektorsignale der Strahlungsdetektoren (31-34) zugeführt sind und die daraus Angaben über die Einfallsrichtung, aus der die Strahlen auf die Vorrichtung (50) einfallen, erzeugt, wobei die Auswerteeinrichtung (35) alle dem gleichen Sektor zugeordneten Einzelsektorsignale der Strahlungsdetektoren (31-34) zu einem Gesamtsektorsignal zusammenfaßt und aus einem Vergleich der Gesamtsektorsignale die Angaben über die Einfallsrichtung erzeugt.
摘要翻译：它是用于定位所述调制的光辐射源，包括一个装置（50）：多个辐射探测器（31-34），其分配，它们分别分配给一个空间扇区，从放射线检测器上的入射辐射每个单个扇区信号，和评估装置（35），辐射探测器（31-34）的单个扇区信号被馈送和由其生成的数据上的入射方向，从光束入射到该设备（50），其中所述评估装置（35）全部转让给相同的扇区个体扇区信号所述辐射检测器（31-34）的总结了总扇区信号，并产生对总扇区信号的比较的入射方向的信息。

2. 发明申请

WO2011058190A1 VORRICHTUNG UND VERFAHREN ZUM LOKALISIEREN VON MODULIERTEN, OPTISCHEN STRAHLUNGSQUELLEN 审中-公开
标题翻译：装置和方法，用于定位调制，光辐射源
公开(公告)号：WO2011058190A1
公开(公告)日：2011-05-19
申请号：PCT/EP2010/067555
申请日：2010-11-16
申请人： OPTO-MST SENSOREN UND SYSTEME GMBH , FREITAG, Hans-Joachim , ORTLEPP, Hans-Georg , SCHMIDT, Andreas , BUSCHMANN, Uwe
发明人： FREITAG, Hans-Joachim , ORTLEPP, Hans-Georg , SCHMIDT, Andreas , BUSCHMANN, Uwe
IPC分类号： G01S3/783
CPC分类号： G01S3/783
摘要： Es wird eine Vorrichtung zum Lokalisieren VON modulierten, optischen Strahlungsquellen beschrieben, die eine Blendeneinrichtung (9; 12, 13) und eine Detektoreinrichtung (2, 3) umfaßt, die bezogen auf längs einer Haupteinfallsachse einfallender Strahlung hinter der Blendenöffnung (5, 7) liegt, wobei die Detektoreinrichtung (2, 3) mindestens drei Detektorelemente (4a-d; 6a-d) aufweist, die um ein Zentrum (Z2, Z3; Z) herum angeordnet sind, und die Blendeneinrichtung eine Blendenöffnung (5, 7) aufweist, die mittig über dem Zentrum (Z1, Z2; Z) und längst der Haupteinfallsachse (A2, A3; A) vom Zentrum (Z2, Z3; Z) beabstandet angeordnet ist und alle Detektorelemente (4a-d; 6a-d) in Sicht längs der Haupteinfallsachse (A2, A3; A) nur teilweise überdeckt.
摘要翻译：它被调制到一个设备用于定位具有光阑装置描述的光学辐射源（9; 12,13）和检测器装置（2，3），其沿入射辐射的入射孔径背后的主轴线基于（5,7）其中，所述检测器装置（2，3）的至少三个检测器组件（4A-D;图6a-d）中设置围绕一个中心（Z2，Z3; Z）布置周围，并且孔径装置的孔（5,7），居中在中心（Z1，Z2; Z）和一直是主要入射轴（A2，A3; A）从中心（Z2，Z3; Z）布置间隔开，所有的检测器元件（4A-D;图6a-d）的在视图沿入射的主轴线（A2，A3; A）仅部分地覆盖。

3. 发明公开

EP2502088A1 VORRICHTUNG UND VERFAHREN ZUM LOKALISIEREN VON MODULIERTEN STRAHLUNGSQUELLEN 有权
标题翻译：装置和方法，用于定位调制的辐射源
公开(公告)号：EP2502088A1
公开(公告)日：2012-09-26
申请号：EP10784740.2
申请日：2010-11-16
申请人： Opto-MST Sensoren Und Systeme GmbH
发明人： FREITAG, Hans-Joachim , ORTLEPP, Hans-Georg , SCHMIDT, Andreas , BUSCHMANN, Uwe
IPC分类号： G01S3/783
CPC分类号： G01S3/7835 , G01S3/784 , G01S7/4804
摘要： The invention relates to a device (50) for localizing modulated optical radiation sources, comprising: a plurality of radiation detectors (31-34), each emitting individual sector signals associated with a respective space sector, from which the radiation is incident on the radiation detector, and an evaluation unit (35), to which the individual sector signals of the radiator detectors (31-34) are sup[plied and which, based thereon, generates data about the direction of incidence from which the beams incident on the device (50) originate, wherein the evaluation unit (35) combines all the individual sector signals of the radiation detectors (31-34) associated with the same sector to form a total sector signal and generates the data about the incident direction based on a comparison of the total sector signals.
摘要翻译：本发明涉及一种用于定位调制的光辐射源，包括一个装置（50）：辐射探测器的多个（31-34），与respectivement空间扇区相关联的每个发光个体扇区信号，从该辐射入射到辐射检测器，以及评估单元（35）到的散热器检测器（31-34）的个别扇区信号是SUP [合股和其中，基于其，基因率约入射从该光束入射在装置上的方向上的数据（50）发起，worin评估单元（35）结合了所有用相同的扇区相关联的辐射检测器（31-34）的个别扇区信号，以形成一个完全扇区信号和基因率基于比较有关的入射方向中的数据总扇区信号的。

4. 发明授权

EP2502088B1 VORRICHTUNG UND VERFAHREN ZUM LOKALISIEREN VON MODULIERTEN STRAHLUNGSQUELLEN 有权
标题翻译：装置和方法，用于定位调制的辐射源
公开(公告)号：EP2502088B1
公开(公告)日：2017-03-29
申请号：EP10784740.2
申请日：2010-11-16
申请人： Opto-MST Sensoren Und Systeme GmbH
发明人： FREITAG, Hans-Joachim , ORTLEPP, Hans-Georg , SCHMIDT, Andreas , BUSCHMANN, Uwe
IPC分类号： G01S3/783 , G01S3/784 , G01S7/48
CPC分类号： G01S3/7835 , G01S3/784 , G01S7/4804

5. 发明授权

EP2502087B1 VORRICHTUNG UND VERFAHREN ZUM LOKALISIEREN VON MODULIERTEN, OPTISCHEN STRAHLUNGSQUELLEN 有权
标题翻译：装置和方法，用于定位调制，光辐射源
公开(公告)号：EP2502087B1
公开(公告)日：2016-06-08
申请号：EP10779787.0
申请日：2010-11-16
申请人： Opto-MST Sensoren Und Systeme GmbH
发明人： FREITAG, Hans-Joachim , ORTLEPP, Hans-Georg , SCHMIDT, Andreas , BUSCHMANN, Uwe
IPC分类号： G01S3/783
CPC分类号： G01S3/783

6. 发明公开

EP2502087A1 VORRICHTUNG UND VERFAHREN ZUM LOKALISIEREN VON MODULIERTEN, OPTISCHEN STRAHLUNGSQUELLEN 有权
标题翻译：装置和方法，用于定位调制，光辐射源
公开(公告)号：EP2502087A1
公开(公告)日：2012-09-26
申请号：EP10779787.0
申请日：2010-11-16
申请人： Opto-MST Sensoren Und Systeme GmbH
发明人： FREITAG, Hans-Joachim , ORTLEPP, Hans-Georg , SCHMIDT, Andreas , BUSCHMANN, Uwe
IPC分类号： G01S3/783
CPC分类号： G01S3/783
摘要： The invention relates to a device for localizing modulated optical radiation sources, comprising a diaphragm unit (9; 12, 13) and a detector unit (2, 3), which is located behind the diaphragm opening (5, 7) in relation to radiation shining in along a main incidence axis, wherein the detector unit (2, 3) comprises at least three detector elements (4a-d; 6a-d) disposed around a center (Z2, Z3; Z), and the diaphragm unit comprises a diaphragm opening (5, 7), which is disposed centrally over the center (Z2, Z3; Z) and spaced apart from the center (Z2, Z3; Z) along the main incidence axis and covers all detector elements (4a-d; 6a-d) only partially as viewed along the main incidence axis (A2, A3; A).

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