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1. 发明申请

WO2007093748A3 PROCEDE D'ANALYSE DE SURFACE D'ONDE PAR INTERFEROMETRIE MULTILATERALE A DIFFERENCE DE FREQUENCE 审中-公开
公开(公告)号：WO2007093748A3
公开(公告)日：2007-08-23
申请号：PCT/FR2007/050810
申请日：2007-02-15
申请人： ONERA (Office National d'Etudes et de Recherches Aérospatiales) , PRIMOT, Jérôme , VELGHE, Sabrina , GUERINEAU, Nicolas , HAÏDAR, Riad , TAUVY, Michel
发明人： PRIMOT, Jérôme , VELGHE, Sabrina , GUERINEAU, Nicolas , HAÏDAR, Riad , TAUVY, Michel
IPC分类号： G01J9/02 , G01B9/02
摘要： Le procédé consiste à placer un réseau de diffraction GR à maillage bidimensionnel sur le trajet du faisceau à analyser et à traiter au moins deux interférogrammes à au moins deux couleurs différentes, chaque interférogramme étant obtenu dans un plan P s à partir de deux sous- faisceaux Rl, R2 d'ordres de diffraction différents. Application à l'analyse et à la correction de surfaces d'onde morcelées S.

2. 发明申请

WO2007083061A1 INTERFEROMETRE OPTIQUE ACHROMATIQUE ET COMPACT, DU TYPE A DECALAGE TRILATERAL 审中-公开
标题翻译： TRILATERAL SHIFT类型的高精度和紧凑光学干涉仪
公开(公告)号：WO2007083061A1
公开(公告)日：2007-07-26
申请号：PCT/FR2007/050656
申请日：2007-01-16
申请人： ONERA (Office National d'Etudes et de Recherches Aérospatiales) , PRIMOT, Jérôme , GUERINEAU, Nicolas , VELGHE, Sabrina
发明人： PRIMOT, Jérôme , GUERINEAU, Nicolas , VELGHE, Sabrina
IPC分类号： G01J9/02
CPC分类号： G01J9/02
摘要： Procédé et dispositif pour l'analyse de surface d'onde d'un faisceau de lumière, dans lequel on place un réseau de diffraction GR dans un plan perpendiculaire au faisceau de lumière à analyser et optiquement conjugué du plan d'analyse. Différents faisceaux émergents du réseau interfèrent en formant une image dont les déformations sont liées aux gradients de la surface d'onde analysée. Le procédé est caractérisé en ce que le réseau (GR) réalise la multiplication d'une fonction d'intensité, réalisée par un réseau bidimensionnel (GI) à maille hexagonale de surface S transmettant la lumière du faisceau à analyser en plusieurs faisceaux émergents disposés suivant un maillage hexagonal avec une fonction de phase, réalisée par un réseau bidimensionnel (GP) à maille hexagonale de surface 3S qui introduit, entre deux faisceaux émergents adjacents un déphasage égal à 2π/3 (modulo 2π) .
摘要翻译：本发明涉及一种用于分析光束波面的方法和装置，其特征在于将衍射光栅（GR）放置在垂直于待分析光束的平面中，并与光学共轭于分析平面。光栅的不同出射光束通过形成其变形与分析的波面的梯度相关的图像而干涉。该方法的特征在于，光栅（GR）将由六边形网格二维光栅（GI）产生的强度函数与表面S相乘，该表面S根据六边形网格在几个出射光束中透射要分析的光束的光具有相位函数，由具有表面3S的六边形网格光栅（GP）产生，其在两个相邻的出射光束之间引入等于2p / 3（模2p）的相移。

3. 发明申请

WO2016042161A1 ANALYSEUR DE SURFACE D'ONDE ET PROCEDE POUR DETERMINER DES ECARTS DE PISTON ET DE TILT EXISTANT ENTRE PLUSIEURS FAISCEAUX LUMINEUX 审中-公开
标题翻译： WAVEFRONT分析仪和确定几个光束之间的幅度和倾斜差异的方法
公开(公告)号：WO2016042161A1
公开(公告)日：2016-03-24
申请号：PCT/EP2015/071519
申请日：2015-09-18
申请人： ONERA (OFFICE NATIONAL D'ETUDES ET DE RECHERCHES AÉROSPATIALES)
发明人： BELLANGER, Cindy , DEPREZ, Maxime , LOMBARD, Laurent , PRIMOT, Jérôme
IPC分类号： G01J9/02
CPC分类号： G01J9/02 , G01J9/0215 , G01J2009/002
摘要： Un analyseur de surface d'onde est modifié pour déterminer simplement des écarts de piston et de tilt qui peuvent exister entre des zones différentes d'une surface d'onde initiale (S 0 ). Pour cela, des interférences à deux ondes seulement sont produites à partir de faisceaux (F 1 , F 2 ) qui proviennent de zones voisines dans la surface d'onde initiale. Un tel analyseur peut être utilisé pour combiner de façon cohérente des rayonnements laser qui sont produits par des sources différentes agencées en parallèle. Une autre utilisation est la détermination d'écarts de hauteur et d'inclinaison qui sont présents entre des segments de miroir voisins d'un télescope de type Keck.
摘要翻译：波前分析器被修改为简单地确定可能存在于初始波前（S0）的不同区域之间的幅度和倾斜的差异。为了实现这一点，仅在起始波前的相邻区域的波束（F1，F2）产生两波之间的干扰。这样的分析仪可以用于将由不同的源并行产生的激光辐射相干组合。另一个用途是确定Keck望远镜的相邻镜片段之间存在的高度和倾斜度的差异

4. 发明授权

EP3194916B1 ANALYSEUR DE SURFACE D'ONDE ET PROCEDE POUR DETERMINER DES ECARTS DE PISTON ET DE TILT EXISTANT ENTRE PLUSIEURS FAISCEAUX LUMINEUX 有权
公开(公告)号：EP3194916B1
公开(公告)日：2018-08-29
申请号：EP15763638.2
申请日：2015-09-18
申请人： ONERA (Office National d'Etudes et de Recherches Aérospatiales)
发明人： BELLANGER, Cindy , DEPREZ, Maxime , LOMBARD, Laurent , PRIMOT, Jérôme
IPC分类号： G01J9/02
CPC分类号： G01J9/02 , G01J9/0215 , G01J2009/002

5. 发明授权

EP1974194B1 INTERFEROMETRE OPTIQUE ACHROMATIQUE ET COMPACT, DU TYPE A DECALAGE TRILATERAL 有权
标题翻译：无色紧凑型光三面VERSCHIEBUNGSINTERFEROMETER
公开(公告)号：EP1974194B1
公开(公告)日：2013-02-27
申请号：EP07718069.3
申请日：2007-01-16
申请人： ONERA (Office National d'Etudes et de Recherches Aérospatiales)
发明人： PRIMOT, Jérôme , GUERINEAU, Nicolas , VELGHE, Sabrina
IPC分类号： G01J9/02
CPC分类号： G01J9/02

6. 发明公开

EP1974194A1 INTERFEROMETRE OPTIQUE ACHROMATIQUE ET COMPACT, DU TYPE A DECALAGE TRILATERAL 有权
标题翻译：无色紧凑型光三面VERSCHIEBUNGSINTERFEROMETER
公开(公告)号：EP1974194A1
公开(公告)日：2008-10-01
申请号：EP07718069.3
申请日：2007-01-16
申请人： ONERA (Office National d'Etudes et de Recherches Aérospatiales)
发明人： PRIMOT, Jérôme , GUERINEAU, Nicolas , VELGHE, Sabrina
IPC分类号： G01J9/02
CPC分类号： G01J9/02
摘要： The invention concerns a method and a device for analyzing a wave surface of a light beam, which consists in placing a diffraction grating (GR) in a plane perpendicular to the light beam to be analyzed and optically conjugated to the analyzing plane. Different emergent beams of the grating interfere by forming an image the deformations of which are related to the gradients of the analyzed wave surface. The method is characterized in that the grating (GR) multiplies an intensity function, produced by a hexagonal mesh two-dimensional grating (GI) with surface S transmitting the light of the beam to be analyzed in several emergent beams in accordance with a hexagonal mesh with a phase function, produced by a hexagonal mesh grating (GP) with surface 3S which introduces, between two adjacent emergent beams a phase-shift equal to 2π/3 (modulo 2π) .

7. 发明公开

EP3194916A1 ANALYSEUR DE SURFACE D'ONDE ET PROCEDE POUR DETERMINER DES ECARTS DE PISTON ET DE TILT EXISTANT ENTRE PLUSIEURS FAISCEAUX LUMINEUX 有权
标题翻译： ANALYSEUR DE SURFACE D'DEDE ET PROCEDE POUR决策者DES ECARTS DE活塞ET DE倾斜现存入侵者FAISCEAUX LUMINEUX
公开(公告)号：EP3194916A1
公开(公告)日：2017-07-26
申请号：EP15763638.2
申请日：2015-09-18
申请人： ONERA (Office National d'Etudes et de Recherches Aérospatiales)
发明人： BELLANGER, Cindy , DEPREZ, Maxime , LOMBARD, Laurent , PRIMOT, Jérôme
IPC分类号： G01J9/02
CPC分类号： G01J9/02 , G01J9/0215 , G01J2009/002
摘要： A wavefront analyser is modified to simply determine the differences in amplitude and tilt which can exist between the different regions of an initial wavefront (S
0 ). To achieve this, interference between two waves only is produced from beams (F
1 , F
2 ) which come from neighbouring regions on the initial wavefront. Such an analyser can be used to coherently combine laser radiation produced by different sources arranged in parallel. Another use is for the determination of the differences in height and inclination which exist between the neighbouring mirror segments of a Keck telescope
摘要翻译：修改波前分析器以简单地确定初始波前（S0）的不同区域之间可能存在的振幅和倾斜的差异。为了实现这一点，仅在来自初始波阵面上的相邻区域的光束（F1，F2）产生两个波之间的干涉。这样的分析器可以用于将由不同源平行布置的激光辐射相干地组合起来。另一个用途是确定Keck望远镜的相邻反射镜片段之间存在的高度差和倾斜度差异

8. 发明公开

EP1984716A2 PROCEDE D'ANALYSE DE SURFACE D'ONDE PAR INTERFEROMETRIE MULTILATERALE A DIFFERENCE DE FREQUENCE 有权转让
标题翻译：维生素WIT多功能微生物干细胞微生物菌株FREQUENZDIFFERENZ
公开(公告)号：EP1984716A2
公开(公告)日：2008-10-29
申请号：EP07731635.4
申请日：2007-02-15
申请人： ONERA (Office National d'Etudes et de Recherches Aérospatiales)
发明人： PRIMOT, Jérôme , VELGHE, Sabrina , GUERINEAU, Nicolas , HAÏDAR, Riad , TAUVY, Michel
IPC分类号： G01J9/02 , G01B9/02
CPC分类号： G01J9/02 , G01J2009/0226
摘要： The invention relates to a wavefront analysis method involving multilateral interferometry with frequency difference. According to the invention, a diffraction grating (GR) with two-dimensional meshing is placed on the path of the beam to be analysed and at least two interferograms with at least two different colours are processed, each interferogram being obtained in a plane (Ps) from two sub-beams (R1, R2) with different diffraction orders. The invention can be used to analyse and correct sheared wavefronts (S).
摘要翻译：该方法包括将待分析光束的路径上的二维啮合的衍射光栅定位并处理至少两种不同颜色的至少两个干涉图，每个干涉图在具有不同衍射的两个子光束的平面中获得命令。本发明可用于分析和纠正分割波前。

9. 发明授权

EP1984716B1 PROCEDE D'ANALYSE DE SURFACE D'ONDE PAR INTERFEROMETRIE MULTILATERALE A DIFFERENCE DE FREQUENCE 有权转让
标题翻译： PROCEDE D'ANALYSE DE SURFACE D'ONDE PAR INTERFEROMETRIE MULTILATERALE差异DE FREQUENCE
公开(公告)号：EP1984716B1
公开(公告)日：2017-09-06
申请号：EP07731635.4
申请日：2007-02-15
申请人： ONERA (Office National d'Etudes et de Recherches Aérospatiales)
发明人： PRIMOT, Jérôme , VELGHE, Sabrina , GUERINEAU, Nicolas , HAÏDAR, Riad , TAUVY, Michel
IPC分类号： G01J9/02 , G01B9/02
CPC分类号： G01J9/02 , G01J2009/0226

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