会员体验
专利管家(专利管理)
工作空间(专利管理)
风险监控(情报监控)
数据分析(专利分析)
侵权分析(诉讼无效)
联系我们
交流群
官方交流:
QQ群: 891211   
微信请扫码    >>>
现在联系顾问~
热词
    • 2. 发明公开
    • Taster für ein Zahnflankenprofilmessgerät zur Ermittlung der Zahnflankenoberflächenrauheit
    • 按钮用于确定所述Zahnflankenoberflächenrauheit齿面轮廓测量装置。
    • EP0151903A1
    • 1985-08-21
    • EP84810604.3
    • 1984-12-10
    • Maag-Zahnräder und -Maschinen Aktiengesellschaft
    • Berchtold, NikolausRuffner, Heinz
    • G01B7/34
    • G01B7/34
    • Der Taster für ein Zahnflankenprofilmeßgerät zur Ermittlung der Zahnflankenoberflächenrauheit hat statt des sonst üblichen piezoelektrischen oder induktiven Meßsystems einen in einem statischen Magnetfeld zwischen zwei Dauermagneten (D1, D2) angeordneten Hallsensor (30). Einer der beiden Dauermagnete ist an einem Ende eines Tastarms (12) einstellbar befestigt, der am anderen Ende eine Tastspitze (16) zur Zahnflankenoberflächenabtastung trägt. Zur Drehlagerung des Tastarms (12) dient ein übliches Kreuzfedergelenk (14), das zur Einstellung der Tastspitzenauflagekraft aber nicht verspannt zu werden braucht, weil zu diesem Zweck eine maqnetische Vorrichtung (440) vorgesehen ist, die nicht nur die Vorspannkraft des Meßmagnetsystems (D1, D2) kompensiert, sondern durch Überkompensation dieser Vorspannkraft eine wählbare Tastspitzenauflagekraft erzeugt, die bereits während des Einstellvorganges meßbar ist. Da diese Kraft durch die Magnetfelder erzeugt wird und das Kreuzfedergelenk nicht verspannt zu werden braucht, hat der Taster eine wesentlich größere Beweglichkeit und einen wesentlich größeren Frequenzgang als bekannte Taster; außerdem ist sein mechanischer Aufbau einfacher, und der Schaltungsaufwand für eine Auswerteschaltung (20) ist wesentlich geringer als bei den bekannten Tastern.
    • 用于确定Zahnflankenoberflächenrauheit用于Zahnflankenprofilmeßgerät按钮具有,而不是在两个永磁体(D1,D2)之间的静磁场的通常的压电或电感性测量系统中的布置霍尔传感器(30)。 一项所述的两个永久磁铁的可调节地固定到承载用于在另一端扫描齿腹表面的探针尖端(16)的扫描型臂(12)的一端。 用于将感测臂(12)的公共交弹簧接头(14)的旋转安装,但并不需要被钳位到调整Tastspitzenauflagekraft因为用于此目的的磁装置(440)被提供,其不仅Meßmagnetsystems的偏置力(D1, D2)被补偿,而且还由该偏置力,这是可测量的早在调整过程中的过度补偿,生成可选择Tastspitzenauflagekraft。 由于由磁场产生该力和弯曲枢轴不需要被支撑,所述探针具有基本上更大的灵活性和比现有技术探针宽得多的频率响应; 也有一个机械结构更简单,用于评估电路(20)的电路规模比在已知的探针实质上更小。