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1. 发明申请

WO2010062543A3 APPARATUS AND METHOD FOR IDENTIFYING COMPONENTS IN A CONTAINER 审中-公开
标题翻译：用于识别集装箱中组件的装置和方法
公开(公告)号：WO2010062543A3
公开(公告)日：2011-05-05
申请号：PCT/US2009062033
申请日：2009-10-26
申请人： MORPHO DETECTION INC , COZZINI CRISTINA FRANCESCA , BALLER MARKO KLAUS , HARDING GEOFFREY
发明人： COZZINI CRISTINA FRANCESCA , BALLER MARKO KLAUS , HARDING GEOFFREY
IPC分类号： G01V5/00
CPC分类号： G01N23/20083 , G01N2223/639 , G01V5/0016 , G01V5/0025
摘要： A scanner includes a transmission detector, an x-ray source positioned to emit a beam of x-rays toward the transmission detector, and a scatter detector positioned to receive x-rays scattered from the beam of x-rays by an object. The scanner includes a computer programmed to receive data from the transmission detector and from the scatter detector, and determine a material composition of the object based on the data received from the transmission and scatter detectors.
摘要翻译：扫描器包括传输检测器，定位成朝向传输检测器发射X射线束的x射线源，以及散射检测器，其被定位成接收由物体从X射线束散射的X射线。扫描器包括被编程为从传输检测器和散射检测器接收数据的计算机，并且基于从传输和散射检测器接收的数据来确定对象的材料组成。

2. 发明申请

WO2010065460A3 PRIMARY COLLIMATOR AND SYSTEMS FOR X-RAY DIFFRACTION IMAGING, AND METHOD FOR FABRICATING A PRIMARY COLLIMATOR 审中-公开
标题翻译：用于X射线衍射成像的主要收缩器和系统，以及用于制造主要收缩机的方法
公开(公告)号：WO2010065460A3
公开(公告)日：2010-08-19
申请号：PCT/US2009066115
申请日：2009-11-30
申请人： MORPHO DETECTION INC , HARDING GEOFFREY , STRECKER HELMUT RUDOLF , DELFS JOHANNES
发明人： HARDING GEOFFREY , STRECKER HELMUT RUDOLF , DELFS JOHANNES
IPC分类号： G21K1/02 , H01J35/14
CPC分类号： G21K1/025 , G01V5/00
摘要： A primary collimator (18) for a multiple inverse fan beam x-ray diffraction imaging (MIFB XDI) (10) system. The MIFB XDI system includes a multi-focus x-ray source (MFXS) (12) defining a plurality of focus points (1) arranged along a length of the MFXS. Each focus point is sequentially activated to emit an x-ray fan beam including a plurality of primary beams each directed to a corresponding convergence point. The primary collimator includes a first diaphragm configured to be positioned with respect to the MFXS. The first diaphragm defines a plurality of first channels through a thickness of the first diaphragm. Each first channel is aligned with a corresponding focus point and configured to transmit the x-ray fan beam. A second diaphragm is positioned with respect to the first diaphragm and defines a plurality of second channels through a thickness of the second diaphragm. Each second channel is axially aligned with a corresponding first channel.
摘要翻译：用于多反向风扇束x射线衍射成像（MIFB XDI）（10）系统的主准直器（18）。 MIFB XDI系统包括多焦点x射线源（MFXS）（12），其限定沿着MFXS的长度布置的多个焦点（1）。顺序地激活每个对焦点以发射包括多个主光束的x射线扇形束，每个主光束指向相应的会聚点。主准直器包括构造成相对于MFXS定位的第一隔膜。第一隔膜通过第一隔膜的厚度限定多个第一通道。每个第一通道与对应的焦点对准，并且被配置成透射x射线扇形束。第二隔膜相对于第一隔膜定位，并且通过第二隔膜的厚度限定多个第二通道。每个第二通道与对应的第一通道轴向对准。

3. 发明申请

WO2010051366A3 SYSTEM AND METHOD FOR X-RAY DIFFRACTION IMAGING 审中-公开
标题翻译：用于X射线衍射成像的系统和方法
公开(公告)号：WO2010051366A3
公开(公告)日：2010-08-12
申请号：PCT/US2009062547
申请日：2009-10-29
申请人： MORPHO DETECTION INC , HARDING GEOFFREY
发明人： HARDING GEOFFREY
IPC分类号： G01V5/00
CPC分类号： G01V5/0016 , G01N23/20083 , G01T1/00 , G01V5/0025
摘要： An X-ray diffraction imaging system is provided. The X-ray diffraction imaging system includes an X-ray source configured to emit an X-ray pencil beam and a scatter detector configured to receive scattered radiation having a scatter angle from the X-ray pencil beam. The scatter detector is located substantially in a plane and includes a plurality of detector strips. A first detector strip has a first width equal to a linear extent of the X-ray pencil beam measured at the plane in a direction parallel to the first width.
摘要翻译：提供了一种X射线衍射成像系统。 X射线衍射成像系统包括被配置为发射X射线笔形束的X射线源和被配置为从X射线笔形束接收具有散射角的散射辐射的散射检测器。散射检测器基本上位于一个平面内并包括多个检测条。第一探测器条具有第一宽度，该第一宽度等于在平行于第一宽度的方向上在该平面处测量的X射线笔形射束的线性范围。

4. 发明申请

WO2010059784A3 METHODS AND SYSTEM FOR EXTERNAL CALIBRATION AND CORRECTION OF THE DIFFRACTION ANGLE THETA OF AN X-RAY DIFFRACTION IMAGING SYSTEM USING A STANDARD REFERENCE MATERIAL LIKE POLYETHYLENE, SODIUM CHLORIDE OR ALUMINIUM 审中-公开
标题翻译：使用标准参考材料的X射线衍射成像系统的衍射角度的外部校准和校正方法和系统，如聚乙烯，氯化钠或铝
公开(公告)号：WO2010059784A3
公开(公告)日：2010-08-05
申请号：PCT/US2009065081
申请日：2009-11-19
申请人： MORPHO DETECTION INC , HARDING GEOFFREY
发明人： HARDING GEOFFREY
IPC分类号： G01N23/04 , G01N23/20 , G01T1/29 , G01V5/00
CPC分类号： G01N23/04 , G01N2223/303 , G01V5/00
摘要： A method for calibrating a detection system including a multi-focus X-ray source includes performing a scan of a calibration material using the detection system to acquire scan data, determining a diffraction profile of the calibration material using the scan data, deriving an actual scatter angle using the determined diffraction profile, deriving an offset angle using the determined actual scatter angle, storing the derived offset angle, and generating a table including the stored offset angle.
摘要翻译：用于校准包括多焦点X射线源的检测系统的方法包括使用检测系统执行校准材料的扫描以获取扫描数据，使用扫描数据确定校准材料的衍射轮廓，导出实际散射角度，使用所确定的衍射轮廓，使用确定的实际散射角导出偏移角，存储导出的偏移角，以及生成包括所存储的偏移角的表。

5. 发明专利

JP2010190900A Compact multi-focus x-ray source, x-ray diffraction imaging system, and method for fabricating compact multi-focus x-ray source 有权
$Compact multi-focus x-ray source, x-ray diffraction imaging system, and method for fabricating compact multi-focus x-ray source$
标题翻译：紧凑的多焦点X射线源，X射线衍射成像系统以及用于制作紧凑型多焦点X射线源的方法
公开(公告)号：JP2010190900A
公开(公告)日：2010-09-02
申请号：JP2010053715
申请日：2010-02-19
申请人： Morpho Detection Inc , モルフォディテクションインコーポレイテッド
发明人： HARDING GEOFFREY
IPC分类号： G01N23/04 , G01N23/20 , G21K5/02 , G21K5/10
CPC分类号： H01J35/02
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a multi-focus x-ray source (MFXS) for a multiple inverse fan beam x-ray diffraction imaging (MIFB XDI) system.
SOLUTION: The MFXS includes a plurality of focus points (N) defined along a length of the MFXS collinear with the y-axis. The MFXS is configured to generate the plurality of primary beams, and at least M coherent x-ray scatter detectors are configured to detect coherent scatter rays from the primary beams as the primary beams propagate through a section of the object positioned within the examination area when a spacing P between adjacent coherent x-ray scatter detectors satisfies the equation: P=(Ws×V)/(M×U), where Ws is a lateral extent of the plurality of focus points, U is a distance from the y-axis to a top surface of the examination area, and V is a distance from the top surface to the line at the coordinate X=L.
COPYRIGHT: (C)2010,JPO&INPIT
摘要翻译：要解决的问题：为多反向风扇束x射线衍射成像（MIFB XDI）系统提供多焦点x射线源（MFXS）。解决方案：MFXS包括沿着与y轴共线的MFXS的长度限定的多个聚焦点（N）。 MFXS被配置为生成多个主光束，并且至少M个相干X射线散射检测器被配置为当主光束传播通过位于检查区域内的物体的一部分时检测来自主光束的相干散射光线，当相邻的相干x射线散射探测器之间的间距P满足以下等式：P =（Ws×V）/（M×U）其中Ws是多个聚焦点的横向范围，U是距离y- 轴线到检查区域的上表面，V是在坐标X = L处从顶面到线的距离。版权所有（C）2010，JPO＆INPIT

6. 发明专利

DE102012007051A1 System und Verfahren zur Korrektur von Röntgenbeugungsprofilen 未知
公开(公告)号：DE102012007051A1
公开(公告)日：2012-10-18
申请号：DE102012007051
申请日：2012-04-05
申请人： MORPHO DETECTION INC
发明人： HARDING GEOFFREY , ZIENERT GABRIEL
IPC分类号： G01N23/20 , G01N23/00
摘要： Bereitgestellt wird ein Verfahren zum Korrigieren eines XRD-Profils (X-Ray Diffraction XRD, Röntgenbeugung), das von einem XDi-System (X-Ray Diffraction Imaging XDi, Röntgenbeugungsabbildung) gemessen wird. Das XDi-System beinhaltet eine Anode, einen Detektor und ein Steuer- bzw. Regelsystem. Das Verfahren beinhaltet ein Ermitteln eines Emissionsspektrums der Anode unter Verwendung des Steuer- bzw. Regelsystems. Das Emissionsspektrum beinhaltet Spektralstrukturen. Das Verfahren beinhaltet des Weiteren ein Berechnen einer stückweise vorliegenden Spektralkorrekturfunktion unter Verwendung der Spektralstrukturen in dem Emissionsspektrum, ein Ermitteln eines gemessenen Spektrums eines Objektes und ein Anwenden der Spektralkorrekturfunktion auf das gemessene Spektrum zur Erzeugung eines spektral korrigierten gemessenen Spektrums.

7. 发明专利

ES2643993T3 Sistema y método para la formación de imágenes de difracción de rayos X 未知
$Sistema y método para la formación de imágenes de difracción de rayos X$
公开(公告)号：ES2643993T3
公开(公告)日：2017-11-27
申请号：ES09745230
申请日：2009-10-29
申请人： MORPHO DETECTION INC
发明人： HARDING GEOFFREY
IPC分类号： G01V5/00
摘要： Un sistema de detección de dispersión de rayos X que comprende una fuente de rayos X (12), un colimador secundario (20) y un detector de dispersión (40), en el que: dicha fuente de rayos X (12) está configurada para emitir un haz concentrado de rayos X (70 y 202); dicho colimador secundario (20) está configurado para garantizar que una parte de la radiación dispersa que llega a dicho detector de dispersión (40) posee un ángulo de dispersión constante con respecto al haz concentrado de rayos X; y dicho detector de dispersión (40) está configurado para recibir radiación dispersa (36) que tiene un ángulo de dispersión desde el haz concentrado de rayos X, comprendiendo la radiación dispersa una pluralidad de partes de la radiación dispersa; dicho detector de dispersión está ubicado sustancialmente en un plano y comprende una pluralidad de bandas de detección (100, 102, 104, 106 y 108) y dicha pluralidad de bandas de detección comprenden: una primera banda de detección (104 y 212) que tiene una primera anchura igual y paralela a una extensión lineal del haz concentrado de rayos X, en la que el haz concentrado de rayos X atraviesa el plano; dicha primera banda de detección está configurada para recibir una primera parte de la pluralidad de partes de radiación dispersa, originándose la primera parte desde una primera distancia, medida de forma perpendicular al plano, del plano; y una segunda banda de detección (100, 102, 106 y 108) que está configurada para recibir una segunda parte de la pluralidad de partes de radiación dispersa, originándose la segunda parte desde una segunda distancia del plano, medida de forma perpendicular al plano, que se caracteriza porque dicha segunda banda de detección comprende una segunda anchura definida por: **(Ver fórmula)** donde b es la segunda anchura, bm es la primera anchura, L2m es la primera distancia y L2 es la segunda distancia.

8. 发明专利

DE112011100436T5 Mehrfachebenen-Mehrfachinversfächerstrahl-Erfassungssysteme und Verfahren zur Verwendung hiervon 未知
公开(公告)号：DE112011100436T5
公开(公告)日：2013-04-11
申请号：DE112011100436
申请日：2011-02-03
申请人： MORPHO DETECTION INC
发明人： KOSCIESZA DIRK , HARDING GEOFFREY , OLESINSKI STEPHAN , STRECKER HELMUT RUDOLF
IPC分类号： G21K1/02
摘要： Ein Erfassungssystem (100) beinhaltet eine Mehrfachbrennpunktstrahlungsquelle (108), die ausgelegt ist zum Erzeugen von Röntgenstrahlung, und einen Primärkollimator (116), der eine erste Reihe von Aperturen (140) und eine zweite Reihe von Aperturen (160) definiert. Die erste Reihe von Aperturen bildet die ersten Röntgenstrahlen (136) innerhalb einer ersten Ebene (104) aus der Röntgenstrahlung, und die zweite Reihe von Aperturen bildet zweite Röntgenstrahlen (133) innerhalb einer zweiten Ebene (106) aus der Röntgenstrahlung. Die erste Ebene ist von der zweiten Ebene verschieden. Das Erfassungssystem beinhaltet des Weiteren einen Streudetektor (122), der eine erste Reihe von Streudetektorelementen und eine zweite Reihe von Streudetektorelementen beinhaltet. Die erste Reihe von Streudetektorelementen ist ausgelegt zum Erfassen von gestreuter Strahlung aus den ersten Röntgenstrahlen und die zweite Reihe von Streudetektorelementen ist ausgelegt zum Erfassen von gestreuter Strahlung aus den zweiten Röntgenstrahlen.

9. 发明专利

AT475082T 未知
公开(公告)号：AT475082T
公开(公告)日：2010-08-15
申请号：AT05027668
申请日：2005-12-16
申请人： MORPHO DETECTION INC
发明人： HARDING GEOFFREY
IPC分类号： G01N23/201 , G01V5/00
摘要： The arrangement has a primary collimator arranged between a testing region and a focal point and directing only scattered radiation of an object. An X-component of a scattering voxel of the object is clearly imaged on a Z-component of a detector (9). The detector in a YZ plane is provided with a distance to Z-axis and designed as a two dimensional pixel detector that has a number of energy resolving detector units. An independent claim is also included for a method for determining an impulse transfer spectrum.

10. 发明专利

DE102010047205A1 Sekundärkollimator und Verfahren desselben 未知
公开(公告)号：DE102010047205A1
公开(公告)日：2011-04-28
申请号：DE102010047205
申请日：2010-09-30
申请人： MORPHO DETECTION INC
发明人： HARDING GEOFFREY , STRECKER HELMUT RUDOLF OTTO , EDIC PETER MICHAEL
IPC分类号： G21K1/02 , G01N23/00
摘要： ators, der wenigstens eine Platte mit einer Mehrzahl von darin festgelegten Schlitzen aufweist, beinhaltet ein Bestimmen einer Spaltdicke zwischen Plattenpositionen des Sekundärkollimators auf Grundlage wenigstens einer Abmessung der wenigstens einen Platte und Herstellen einer Basisplatte aus einem Basisplattenrohling. Die Basisplatte beinhaltet wenigstens zwei Schlitze, die voneinander um die Spaltdicke beabstandet sind. Die wenigstens eine Platte ist in eine erste Ritze von den wenigstens zwei Ritzen eingeführt, um den Sekundärkollimator zu bilden.

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