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1. 发明专利

DE102012025769B3 Leistungshalbleitervorrichtung mit einer Mehrzahl parallel geschalteter Schaltelemente 未知
公开(公告)号：DE102012025769B3
公开(公告)日：2016-07-14
申请号：DE102012025769
申请日：2012-04-30
申请人： MITSUBISHI ELECTRIC CORP
发明人： HUSSEIN KHALID HASSAN , SAITO SHOJI , KUMAGAI TOSHIYUKI
IPC分类号： H03K17/16 , H03K17/082 , H03K17/12
摘要： Eine Leistungshalbleitervorrichtung (208) enthält ein erstes und ein zweites Leistungshalbleiterelement (Q1, Q2), die parallel zueinander geschaltet sind, eine Treibersteuereinheit (108) zum Ein- und Ausschalten des ersten und des zweiten Leistungshalbleiterelements als Reaktion auf einen Einschaltbefehl und einen Ausschaltbefehl und einen Stromerfassungsabschnitt (99) zum Erfassen eines Stroms, der zumindest durch das erste oder das zweite Leistungshalbleiterelement fließt, oder einer Summe der Ströme, die durch beide Leistungshalbleiterelemente fließen. Die Treibersteuereinheit ist in der Lage, einen Bestimmungsvorgang durchzuführen zum Bestimmen, ob ein durch den Stromerfassungsabschnitt gewonnener Stromerfassungswert kleiner gleich einem Schwellenwert (Ith2) ist, wenn das erste und das zweite Leistungshalbleiterelement als Reaktion auf den Einschaltbefehl eingeschaltet sind, und als Reaktion auf einen Ausschaltbefehl, zunächst das erste oder das zweite Leistungshalbleiterelement auszuschalten und danach das andere Leistungshalbleiterelement auszuschalten, wenn der Stromerfassungswert kleiner gleich dem Schwellenwert ist, und das erste und das zweite Leistungshalbleiterelement gleichzeitig auszuschalten, wenn der Stromerfassungswert den Schwellenwert überschreitet.

2. 发明专利

DE102012207222B4 Leistungshalbleitervorrichtung mit einer Mehrzahl parallel geschalteter Schaltelemente 未知
公开(公告)号：DE102012207222B4
公开(公告)日：2016-05-25
申请号：DE102012207222
申请日：2012-04-30
申请人： MITSUBISHI ELECTRIC CORP
发明人： HUSSEIN KHALID HASSAN , KUMAGAI TOSHIYUKI , SAITO SHOJI
IPC分类号： H03K17/16 , H03K17/12
摘要： Leistungshalbleitervorrichtung (208) mit: einem ersten und einem zweiten Leistungshalbleiterelement (Q1, Q2), die parallel zueinander geschaltet sind, und einer Treibersteuereinheit (108) zum Ein- und Ausschalten des ersten und des zweiten Leistungshalbleiterelements (Q1, Q2) als Reaktion auf einen Einschaltbefehl und einen Ausschaltbefehl, die wiederholt von außen empfangen werden, wobei die Treibersteuereinheit (108) in der Lage ist, umzuschalten zwischen einem Fall, in dem als Reaktion auf den Einschaltbefehl das erste und das zweite Leistungshalbleiterelement (Q1, Q2) gleichzeitig eingeschaltet werden, und einem Fall, in dem als Reaktion auf den Einschaltbefehl zunächst das erste oder das zweite Leistungshalbleiterelement (Q1, Q2) eingeschaltet wird und danach das andere Leistungshalbleiterelement eingeschaltet wird, und die Treibersteuereinheit (108) in der Lage ist, als Reaktion auf den Ausschaltbefehl zunächst das erste oder das zweite Leistungshalbleiterelement (Q1, Q2) auszuschalten und danach das andere Leistungshalbleiterelement auszuschalten, dadurch gekennzeichnet, dass die Leistungshalbleitervorrichtung (208) weiter einen Stromerfassungsabschnitt (99) enthält zum Erfassen eines Stroms, der zumindest durch das erste oder das zweite Leistungshalbleiterelement (Q1, Q2) fließt, oder einer Summe der Ströme, die durch beide Leistungshalbleiterelemente fließen, die Treibersteuereinheit (108) in der Lage ist, einen Bestimmungsvorgang durchzuführen zum Bestimmen, ob ein durch den Stromerfassungsabschnitt (99) gewonnener Stromerfassungswert kleiner gleich einem ersten Schwellenwert (Ith1) ist, wenn das erste und das zweite Leistungshalbleiterelement (Q1, Q2) als Reaktion auf den Einschaltbefehl eingeschaltet sind, ...

3. 发明专利

DE102012207222A1 Leistungshalbleitervorrichtung mit einer Mehrzahl parallel geschalteter Schaltelemente 未知
公开(公告)号：DE102012207222A1
公开(公告)日：2012-11-08
申请号：DE102012207222
申请日：2012-04-30
申请人： MITSUBISHI ELECTRIC CORP
发明人： HUSSEIN KHALID HASSAN , KUMAGAI TOSHIYUKI , SAITO SHOJI
IPC分类号： H03K17/16 , H03K17/12
摘要： Eine Leistungshalbleitervorrichtung (200) enthält ein erstes und ein zweites Leistungshalbleiterelement (Q1, Q2), die parallel zueinander geschaltet sind, und eine Treibersteuereinheit (100). Die Treibersteuereinheit (100) schaltet das erste und das zweite Leistungshalbleiterelement (Q1, Q2) als Reaktion auf einen Einschaltbefehl und einen Ausschaltbefehl, die wiederholt von außen empfangen werden, ein und aus. Insbesondere ist die Treibersteuereinheit (100) in der Lage, umzuschalten zwischen einem Fall, in dem als Reaktion auf den Einschaltbefehl das erste und das zweite Leistungshalbleiterelement (Q1, Q2) gleichzeitig eingeschaltet werden, und einem Fall, in dem als Reaktion auf den Einschaltbefehl zunächst das erste oder das zweite Leistungshalbleiterelement (Q1, Q2) eingeschaltet wird und danach das andere Leistungshalbleiterelement eingeschaltet wird. Die Treibersteuereinheit (100) schaltet als Reaktion auf den Ausschaltbefehl zunächst das erste oder das zweite Leistungshalbleiterelement (Q1, Q2) aus, und danach schaltet sie das andere Leistungshalbleiterelement aus.

4. 发明专利

DE102012215880A1 Testplatte 未知
公开(公告)号：DE102012215880A1
公开(公告)日：2013-03-14
申请号：DE102012215880
申请日：2012-09-07
申请人： MITSUBISHI ELECTRIC CORP
发明人： KUMAGAI TOSHIYUKI
IPC分类号： G01R31/28 , H01L21/66
摘要： Eine Testplatte (1) zum Testen eines Leistungsmoduls (2), das eine Leistungshalbleitervorrichtung (3) und eine Erfassungseinheit (4, 5) zum Erfassen von Eigenschaften der Leistungshalbleitervorrichtung (3) enthält, enthält eine Leistungsquellenschaltung (8), die dem Leistungsmodul (2) eine elektrische Leistung zuführt, eine Treiberschaltung (9), die die Leistungshalbleitervorrichtung (3) treibt, eine Anzeigeeinheit (10), die ein Erfassungssignal anzeigt, das von der Erfassungseinheit (4, 5) eingegeben wird, und ein Substrat (7), auf dem die Leistungsquellenschaltung (8), die Treiberschaltung (9) und die Anzeigeeinheit (10) angebracht sind.

5. 发明专利

JP2012249509A Power semiconductor device 有权
标题翻译：功率半导体器件
公开(公告)号：JP2012249509A
公开(公告)日：2012-12-13
申请号：JP2012054269
申请日：2012-03-12
申请人： Mitsubishi Electric Corp , 三菱電機株式会社
发明人： KHALID HASSAN HUSSEIN , KUMAGAI TOSHIYUKI , SAITO SEIJI
IPC分类号： H02M1/08 , H03K17/12
CPC分类号： H03K17/127 , H03K17/164 , H03K17/168 , H03K2217/0036
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To reduce switching loss in a case where a plurality of power semiconductor elements are connected in parallel, as compared with a conventional example.SOLUTION: A power semiconductor device 200 includes first and second power semiconductor elements Q1, Q2 connected in parallel to each other, and a drive control unit 100. The drive control unit 100 turns on or off each of the first and second power semiconductor elements in response to an ON instruction and an OFF instruction repeatedly received from the outside. Specifically, the drive control unit 100 can switch between a case where the first and second power semiconductor elements Q1, Q2 are simultaneously turned on and a case where one of the first and second power semiconductor elements Q1, Q2 is turned on first and thereafter the other thereof is turned on, in response to the ON instruction. The drive control unit 100 turns off one of the first and second power semiconductor elements Q1, Q2 and thereafter turns off the other thereof, in response to the OFF instruction.
摘要翻译：要解决的问题：与常规示例相比，为了减少多个功率半导体元件并联连接的情况下的开关损耗。解决方案：功率半导体器件200包括彼此并联连接的第一和第二功率半导体元件Q1，Q2和驱动控制单元100.驱动控制单元100接通或断开第一和第二功率半导体元件响应于从外部重复接收的ON指令和OFF指令。具体地说，驱动控制单元100可以在第一和第二功率半导体元件Q1，Q2同时导通的情况和第一和第二功率半导体元件Q1，Q2中的一个首先被接通的情况之间切换，之后，其他的响应于ON指令而导通。驱动控制单元100响应于OFF指令而关闭第一功率半导体元件Q1和第二功率半导体元件Q2中的一个，然后关断另一个功率半导体元件Q1，Q2。版权所有（C）2013，JPO＆INPIT

6. 发明专利

JP2006211834A Power semiconductor device 有权
标题翻译：功率半导体器件
公开(公告)号：JP2006211834A
公开(公告)日：2006-08-10
申请号：JP2005021301
申请日：2005-01-28
申请人： Mitsubishi Electric Corp , 三菱電機株式会社
发明人： KUMAGAI TOSHIYUKI
IPC分类号： H02M1/00
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To obtain a power semiconductor device that does not deteriorate its overcurrent detection accuracy even if there is dispersion in temperature dependency of each device.
SOLUTION: An adding circuit 14 obtains an added output voltage V14 that does not have the temperature dependency by offsetting the positive temperature dependency of a detected voltage Vs with negative temperature dependency of an output voltage V13. A comparison circuit 8 judges that the voltage V14 is in an overcurrent supplying state, if the voltage V14 exceeds a reference voltage Vr. A control circuit 7 has an overcurrent protective function that gives a drive circuit 9 a drive signal S7 for stopping the operation of a switching element 2 in the overcurrent state. The control circuit 7 has a reference voltage setting function that sets the reference voltage Vr according to a digital added output voltage value D15 taken in from an A/D conversion circuit 15.
COPYRIGHT: (C)2006,JPO&NCIPI
摘要翻译：要解决的问题：为了获得即使每个装置的温度依赖性的偏差也不会使其过电流检测精度劣化的功率半导体器件。解决方案：加法电路14通过抵消具有输出电压V13的负温度依赖性的检测电压Vs的正温度依赖性来获得不具有温度依赖性的附加输出电压V14。如果电压V14超过参考电压Vr，则比较电路8判定电压V14处于过电流供给状态。控制电路7具有过电流保护功能，其为驱动电路9提供用于停止在过电流状态下的开关元件2的操作的驱动信号S7。控制电路7具有根据从A / D转换电路15取入的数字相加输出电压值D15设定基准电压Vr的基准电压设定功能。（C）2006，JPO＆NCIPI

7. 发明专利

JP2005151631A Semiconductor device and method of setting data on reference level of overcurrent 审中-公开
标题翻译：半导体器件和在过流参考电平上设置数据的方法
公开(公告)号：JP2005151631A
公开(公告)日：2005-06-09
申请号：JP2003382256
申请日：2003-11-12
申请人： Mitsubishi Electric Corp , Renesas Device Design:Kk , 三菱電機株式会社 , 株式会社ルネサスデバイスデザイン
发明人： KUMAGAI TOSHIYUKI
IPC分类号： H02H3/08 , H02M1/00 , H02M1/08 , H03K17/08 , H03K17/082 , H03K17/14 , H03K17/56
CPC分类号： H03K17/0828 , H03K2017/0806
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a semiconductor device which suppresses the temperature dependency of detection level of an overcurrent and easily changes the detection level of an overcurrent, in a semiconductor device which has a function of protecting a switching element from an overcurrent. SOLUTION: In a drive 20 which drives an IGBT1, a current detector 22 detects the amount of a current flowing to the IGBT1. A protective circuit 23 protects the IGBT1 by limiting the main current of the IGBT1 in case that the amount of the main current detected by the current detector 22 reaches a specified reference level. A temperature detector 24 detects the temperature of the IGBT1. A controller 25 adjusts the above reference level, based on the temperature of the IGBT1 detected by the temperature detector 24. The set value of the reference level concerned is preserved as data in a controller 35. COPYRIGHT: (C)2005,JPO&NCIPI
摘要翻译：解决的问题：为了提供一种能够抑制过电流的检测水平的温度依赖性并且容易地改变过电流的检测水平的半导体器件，在具有保护开关元件免于过电流的功能的半导体器件中。解决方案：在驱动IGBT1的驱动器20中，电流检测器22检测流向IGBT1的电流量。在电流检测器22检测出的主电流量达到指定基准电平的情况下，保护电路23通过限制IGBT1的主电流来保护IGBT1。温度检测器24检测IGBT1的温度。控制器25基于由温度检测器24检测到的IGBT1的温度来调节上述基准电平。相关参考电平的设定值被保存为控制器35中的数据。（C）2005年， JPO＆NCIPI

8. 发明专利

JPH0750845A DEGAUSSING CIRCUIT FOR COLOR TELEVISION RECEIVER 失效
公开(公告)号：JPH0750845A
公开(公告)日：1995-02-21
申请号：JP19606693
申请日：1993-08-06
申请人： MITSUBISHI ELECTRIC CORP
发明人： KUMAGAI TOSHIYUKI
IPC分类号： H01F13/00 , H04N9/29
摘要： PURPOSE:To realize the degaussing circuit obtaining the same effect even in every country with a kind of degaussing coil although a power supply voltage of every country ranges widely from AC100V to AC240V. CONSTITUTION:A degaussing coil 4 is provided with positive characteristic thermisters 3A, 3B for AC100V and AC240V and with switches 5A, 5B and a signal from a double voltage control circuit 6 turns on the switch 5A or 5B depending on a power supply voltage. Then the switches are used to connect selectively the positive characteristic thermister 3A or 3B to the degaussing coil 4 depending on the input power supply voltage. Thus, even when the input power supply voltage differs from each country, the current flowing to the degaussing coil is made identical and the same degaussing effect is obtained by one kind of the degaussing coil.

9. 发明专利

JP2003133359A METHOD AND DEVICE FOR FORMING SOLDER BUMP 审中-公开
公开(公告)号：JP2003133359A
公开(公告)日：2003-05-09
申请号：JP2001332303
申请日：2001-10-30
申请人： MITSUBISHI ELECTRIC CORP , MITSUBISHI ELECTRIC ENG
发明人： YAMAGUCHI SHINJI , NAKASU YASUFUMI , YANO MASUYUKI , KUMAGAI TOSHIYUKI
IPC分类号： H05K3/34 , H01L21/60 , H01L23/12
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To a provide a method and device for forming solder bumps, capable of high-precision detection of the liquid solder level, of preventing the generation of cavities in the liquid solder chamber at the start and end of device operation, and of correcting the solder bump discharge rate and diameter. SOLUTION: On-off timing is adjusted for heaters 6, 12, so that the temperature rises earlier at a storage tank 2 than at a discharge nozzle 16 at the start of operation, and at the end of operation, is made to fall earlier at the nozzle 16 than at the tank 2. At the start and at the end, a cooling gas is let through the nozzle 16 or a cooler 30 is brought into contact with the nozzle 16 from the outside. The discharge rate or the diameter of bumps 19 is detected, so that discharging conditions are corrected for the rate and diameter to remain within the tolerance limits, an alarm is issued when the rate or diameter is beyond the limit, or the device is stopped. The liquid solder level is detected by an upper limit sensor 24 and a lower limit sensor 23.

10. 发明专利

JP2001332574A DEVICE AND METHOD FOR FORMING BUMP 失效
公开(公告)号：JP2001332574A
公开(公告)日：2001-11-30
申请号：JP2000151452
申请日：2000-05-23
申请人： MITSUBISHI ELECTRIC CORP , MITSUBISHI ELECTRIC ENG
发明人： NAKASU YASUFUMI , KUMAGAI TOSHIYUKI
IPC分类号： H01L21/60
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a device and method for forming a bump adopting an ink jet type for eliminating the misalignment where a melting bump material is attached, caused by the characteristic of a discharging head and of forming the bump correctly in a short time. SOLUTION: A bump forming device 4 has a discharging head 6 for discharging a melting bump material 5a to a plurality of electrode portions, a table moving mechanism 9 for moving a table 3 on which a work 1 is mounted, a position coordinate storing part 10 for storing position coordinates (Xi, Yi), a discharging position correcting unit 16 for getting the amount of relative movement of the discharging head 6 and moving the position coordinates (Xi, Yi) in the direction opposite to the scanning direction of the discharging head 6 by the amount of relative movement, an image identifying unit 11 for identifying the work 1 from the image data of an image pickup unit 7, a base position correcting unit 12 for correcting the position coordinates based on the position of the identified work 1, and a discharging timing order unit 14 for commanding the discharging timing of the melting bump material 5a to the discharging head 6.

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