专利快速检索-快速检索全球专利，免费商用专利数据库-IPRDB

1. 发明专利

RU2764644C1 СПОСОБ ОБНАРУЖЕНИЯ ДЕФЕКТОВ ПОВЕРХНОСТИ, УСТРОЙСТВО ОБНАРУЖЕНИЯ ДЕФЕКТОВ ПОВЕРХНОСТИ, СПОСОБ ПРОИЗВОДСТВА СТАЛЬНЫХ МАТЕРИАЛОВ, СПОСОБ УПРАВЛЕНИЯ КАЧЕСТВОМ СТАЛЬНОГО МАТЕРИАЛА, УСТАНОВКА ПО ПРОИЗВОДСТВУ СТАЛЬНЫХ МАТЕРИАЛОВ, СПОСОБ ГЕНЕРАЦИИ МОДЕЛЕЙ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ДЕФЕКТОВ ПОВЕРХНОСТИ И МОДЕЛЬ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ДЕФЕКТОВ ПОВЕРХНОСТИ 未知
公开(公告)号：RU2764644C1
公开(公告)日：2022-01-19
申请号：RU2021118774
申请日：2019-11-08
申请人： JFE STEEL CORP
发明人： ONO KHIROAKI , TATE MASAMI
IPC分类号： G01N21/892 , G01N21/88
摘要： Изобретенияотносятсяк контрольно-измерительнойтехнике, аименнок оптическомуобнаружениюповерхностныхдефектовстальногоматериала. Изобретенияпозволяютточноразличатьучасткисталии поверхностныедефекты, атакжеспособныповыситьвыходпродукцииизсталипутемточногоопределенияповерхностныхдефектов. Изобретенияпозволяютобнаруживатьповерхностныедефектыв сталипутемоптическогообнаруженияповерхностныхдефектовстальногоматериалаи включаютв себяэтапоблучения, накоторомоднуи тужецелевуюисследуемуючастьоблучаютсветовымилучамис разныхнаправленийс использованиемдвухилиболееразличимыхисточниковсвета; иэтапобнаружения, накоторомдетектируютдефектповерхностив целевойисследуемойчастинаосновестепениперекрытияяркихучастков, извлеченныхиздвухилиболееизображений, сформированныхотраженнымисветовымилучами. 7 н. и 3 з.п. ф-лы, 22 ил.

2. 发明专利

RU2637723C1 СПОСОБ ОБНАРУЖЕНИЯ ДЕФЕКТОВ ПОВЕРХНОСТИ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОБНАРУЖЕНИЯ ДЕФЕКТОВ ПОВЕРХНОСТИ 未知
公开(公告)号：RU2637723C1
公开(公告)日：2017-12-06
申请号：RU2016129424
申请日：2014-12-24
申请人： JFE STEEL CORP
发明人： ONO KHIROAKI , KODAMA TOSIFUMI , KOSIKHARA TAKAKHIRO , OGAVA AKIKHIRO , IIDZUKA YUKINORI
IPC分类号： G01N21/892
摘要： Группаизобретенийотноситсяк способуи устройствуобнаружениядефектовповерхностистальногоматериала. Способоптическогообнаружениядефектаповерхностистальногоматериаласодержитэтапосвещениязаданногоучасткаконтроляосветительнымисветовымипучкамис различныминаправлениямиизлученияс использованиемдвухилиболееразличныхисточниковсвета. Этапобнаружения, накоторомполучаютизображенияс помощьюотраженныхсветовыхпучков, соответствующихуказаннымосветительнымсветовымпучкам, идефектповерхностиназаданномучасткеконтроляобнаруживаютпосредствомвыполненияпроцессавычитаниямеждуполученнымиизображениями. Устройствообнаружениядефектаповерхностистальногоматериаласодержитузелосвещениязаданногоучасткаконтроляосветительнымисветовымипучками, узелобнаружения, выполненныйс возможностьюполученияизображенийс помощьюотраженныхсветовыхпучкови обнаружениядефектаповерхностиназаданномучасткеконтроляпосредствомвыполненияпроцессавычитаниямеждуполученнымиизображениями. Техническийрезультатзаключаетсяв обеспечениивысокойотличительнойточностиокалиныилибезвредногорисункаотдефектаповерхности. 2 н. и 19 з.п. ф-лы, 26 ил.

你已经成功收藏专利！

检索式保存成功!

IPRDB

热门服务

关于我们

友情链接

联系方式