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    • 6. 发明专利
    • Temperaturüberwachungsverfahren und System
    • DE102019100265B4
    • 2022-06-30
    • DE102019100265
    • 2019-01-08
    • INFINEON TECHNOLOGIES AG
    • REITER TOMAS MANUELROEWE TOMYOO INPIL
    • H02H5/04H01L23/46H02M1/00H02M7/00
    • Verfahren, umfassend:Überwachen einer Temperaturdifferenz zwischen zwei doppelseitig gekühlten Leistungsmodulen mehrerer doppelseitig gekühlter Leistungsmodule (106; 602, 604, 606, 608, 610, 612; 908, 910, 912, 916, 918) , die in Stapeln von doppelseitig gekühlten Leistungsmodulen (106; 602, 604, 606, 608, 610, 612; 908, 910, 912, 916, 918) angeordnet sind, wobei jedes doppelseitig gekühlte Leistungsmodul der mehreren doppelseitig gekühlten Leistungsmodule (106; 602, 604, 606, 608, 610, 612; 908, 910, 912, 916, 918) thermisch mit einem oder mehreren Kühlkanälen mehrerer Kühlkanäle (614, 616, 618; 905, 906) eines Kühlrohrsystems gekoppelt ist und die beiden doppelseitig gekühlten Leistungsmodule thermisch mit demselben Kühlkanal der mehreren Kühlkanäle (614, 616, 618; 905, 906) gekoppelt sind;Vergleichen der Temperaturdifferenz mit einer ersten Temperaturschwelle;Detektieren einer Kühlrohrsystemblockierung, wenn die Temperaturdifferenz über der ersten Temperaturschwelle liegt;nach dem Detektieren der Kühlrohrsystemblockierung, Deaktivieren von Gatetreiberschaltungen (107; 506, 508; 960, 968, 976), die mit den mehreren doppelseitig gekühlten Leistungsmodulen (106; 602, 604, 606, 608, 610, 612; 908, 910, 912, 916, 918) gekoppelt sind, oder Betreiben der doppelseitig gekühlten Leistungsmodule (106; 602, 604, 606, 608, 610, 612; 908, 910, 912, 916, 918) in einem Niederleistungsmodus;Überwachen von absoluten Temperaturen eines oder mehrerer doppelseitig gekühlter Leistungsmodule der mehreren doppelseitig gekühlten Leistungsmodule (106; 602, 604, 606, 608, 610, 612; 908, 910, 912, 916, 918);Berechnen des Durchschnitts der überwachten absoluten Temperaturen, um eine Durchschnittstemperatur zu erzeugen; undVergleichen der Durchschnittstemperatur mit einer zweiten Temperaturschwelle, wobei das Detektieren der Kühlrohrsystemblockierung ein Detektieren der Kühlrohrsystemblockierung umfasst, wenn die Durchschnittstemperatur über einer zweiten Temperaturschwelle liegt.
    • 7. 发明专利
    • Kühlsystem für gemoldete Module und entsprechendes Herstellungsverfahren
    • DE102014106134B4
    • 2021-04-29
    • DE102014106134
    • 2014-04-30
    • INFINEON TECHNOLOGIES AG
    • YOO INPILCASTRO SERRATO CARLOS
    • H01L23/473H01L21/50H01L23/48
    • Kühlsystem für gemoldete Module, umfassend:mehrere individuelle Module (100), welche jeweils einen Halbleiter-Chip, welcher durch eine Moldmasse (102) verkapselt ist, mehrere Anschlüsse (104), welche mit dem Halbleiter-Chip elektrisch verbunden sind und zumindest teilweise von der Moldmasse (102) unbedeckt sind, und eine Kühlplatte (106) umfassen, welche zumindest teilweise von der Moldmasse (102) unbedeckt ist;einen gemoldeten Körper (108), welcher um ein Äußeres von jedem der mehreren individuellen Module (100) gemoldet ist, wodurch ein Mehrfach-Chip-Modul (110) ausgebildet ist, wobei die Anschlüsse (104) jedes individuellen Moduls und die Kühlplatten (106) zumindest teilweise von dem gemoldeten Körper (108) unbedeckt sind; undeinen Deckel (116; 300) mit einer Öffnung (118, 120; 304), welcher an einem Äußeren des gemoldeten Körpers (108) an einer ersten Seite (109) des Mehrfach-Chip-Moduls (110) befestigt ist, wobei der Deckel (116) das Mehrfach-Chip-Modul (110) an der ersten Seite (109) abdichtet, um einen Hohlraum (200) zwischen dem Deckel (116) und dem gemoldeten Körper (108) auszubilden, um ein Austreten oder Eintreten einer Flüssigkeit durch die Öffnung (118, 120) zu ermöglichen, um die Kühlplatten (106) jedes individuellen Moduls (100) zu kontaktieren.
    • 8. 发明专利
    • Kunststoffkühler für Halbleitermodule
    • DE102016103788A1
    • 2016-09-08
    • DE102016103788
    • 2016-03-03
    • INFINEON TECHNOLOGIES AG
    • GRASSMANN ANDREASYOO INPIL
    • H01L23/46
    • Eine Kühlvorrichtung weist einen Halbleiterchip, der von einer Formmasse eingekapselt ist, eine Mehrzahl von Anschlüssen, die mit dem Halbleiterchip elektrisch verbunden sind und aus der Formmasse hervorstehen, und eine erste Kühlplatte auf, die mindestens teilweise von der Formmasse nicht abgedeckt ist. Jedes Modul weist einen Halbleiterchip, der von einer Formmasse eingekapselt ist, eine Mehrzahl von Anschlüssen, die mit dem Halbleiterchip elektrisch verbunden sind und aus der Formmasse hervorstehen, und eine erste Kühlplatte auf, die von der Formmasse mindestens teilweise nicht abgedeckt ist. Das Kunststoffgehäuse umgibt die Peripherie jedes Moduls umgibt, um ein Mehrchipmodul zu bilden. Das Kunststoffgehäuse weist ein erstes singuläres Kunststoffteil, das die Module aufnimmt, und ein zweites singuläres Kunststoffteil auf, das an einer Peripherie des ersten Kunststoffteils befestigt ist. Das zweite Kunststoffteil weist Ausschnitte, die die ersten Kühlplatten freilegen, und eine Abdichtstruktur auf, die ein Dichtungsmaterial enthält, das eine wasserdichte Dichtung um die Peripherie jedes Moduls auf einer Seite der Module mit den ersten Kühlplatten bildet.