专利快速检索-快速检索全球专利，免费商用专利数据库-IPRDB

1. 发明申请

WO1987003152A1 ROOM TEMPERATURE TO CRYOGENIC ELECTRICAL INTERFACE 审中-公开
标题翻译：室温到低温电接口
公开(公告)号：WO1987003152A1
公开(公告)日：1987-05-21
申请号：PCT/US1986002419
申请日：1986-11-07
申请人： HYPRES, INC.
发明人： HYPRES, INC. , FARIS, Sadeg, Mustafa
IPC分类号： H03K05/159
CPC分类号： F17C13/00 , H03K19/195
摘要： Apparatus for electrically interfacing a circuit operable at one temperature with a circuit operable at another temperature, comprising a primary cooling or heating surface (12) disposed inside a vacuum chamber (13) which is thermally connected to the first circuit. Transmission lines (18) may extend through the wall of the vacuum chamber to the second circuit which can be located outside. In one embodiment the first circuit is operable at cryogenic temperatures and is fabricated on an elongated fused quartz substrate (30) together with transmission lines. The first circuit may be thermally connected to the primary surface via a secondary surface, which may itself be thermally connected to the primary surface via a flexible support and/or a thermal switch (44). The use of a flexible element in the construction of the apparatus prevents thermally induced movement from shattering the substrate.

2. 发明公开

EP0286671A1 TIME DOMAIN REFLECTOMETER 失效
标题翻译：时域反射计。
公开(公告)号：EP0286671A1
公开(公告)日：1988-10-19
申请号：EP87906958.0
申请日：1987-09-23
申请人： HYPRES, INC.
发明人： WHITELEY, Stephen, R. , FARIS, Sadeg, Mustafa
IPC分类号： G01R13 , G01R29 , H03K17
CPC分类号： G01R29/0276 , G01R13/342 , H03K17/92
摘要： Circuit (20) permettant d'échantillonner et de reproduire avec précision, avec une résolution de l'ordre de la picoseconde, des signaux inconnus pouvant être d'origine électrique ou optique, ou provenir d'un rayonnement X, gamma ou de particules. Le circuit (20) comprend une porte d'échantillonnage supraconductrice (21) présentant au moins deux états pouvant être distingués l'un de l'autre. La porte d'échantillonnage pourrait comprendre par exemple un dispositif de Josephson ou un dispositif supraconducteur à interférence quantique. Des organes de communication, comprenant une source de signaux inconnus, permettent de commuter l'état de la porte d'échantillonnage. Les organes de communication comprennent une source d'impulsions d'échantillonnage et une source de courant de polarisation qui sont combinés avec le signal inconnu pour modifier l'état de la porte d'échantillonnage. Un circuit de suppression de bruit est également prévu. Un organe de synchronisation (24, 28, 29, etc.) établit une référence de temps et un retard d'échantillonnage, et comprend la source d'impulsions d'échantillonnage et des lignes de retard. Un générateur à gradins (25) relié à la source de signaux inconnus envoie un signal à la source de signaux inconnus afin de déclencher la production de signaux inconnus et, partant, l'échantillonnage. Ce circuit peut être implanté dans tous les appareils où il est nécessaire de mesurer avec précision des formes d'ondes inconnues avec une résolution et une sensibilité exceptionnellement élevées.

3. 发明公开

EP0283510A1 LOW-TEMPERATURE MONOLITHIC CHIP 失效
标题翻译：低温的单芯片。
公开(公告)号：EP0283510A1
公开(公告)日：1988-09-28
申请号：EP87906863.0
申请日：1987-09-11
申请人： HYPRES, INC.
发明人： FARIS, Sadeg, Mustafa , HOHENWARTER, Gert, K., G. , WHITELEY, Stephen, R.
IPC分类号： H01B12 , H01L23 , H01L25 , H01L39
CPC分类号： H01L39/04
摘要： La puce monolithique décrite est appropriée pour être utilisée dans un dispositif supraconducteur. La puce comprend un substrat (10) ayant une région de haute température (14) et une région de basse température (12), un dispositif supraconducteur (24) formé sur la région de basse température (12) et différentes lignes de transmission de signaux entre le dispositif et la région de haute température (14). Plusieurs configurations sont décrites pour une éventuelle séparation de la région de haute température (14) et de la région de basse température (12) ainsi que pour des lignes de signaux de grande largeur de bande (20) et de faible largeur de bande (18). Les puces peuvent avoir des substrats de géométrie différente.

4. 发明公开

EP0267237A1 RESISTOR STRUCTURE FOR SUPERCONDUCTING CIRCUITS 失效
标题翻译：电阻结构超导电路。
公开(公告)号：EP0267237A1
公开(公告)日：1988-05-18
申请号：EP87903100.0
申请日：1987-04-09
申请人： HYPRES, INC.
发明人： FARIS, Sadeg, Mustafa
IPC分类号： H01L27 , H01L39
CPC分类号： H01L39/24 , H01L27/18 , H01L39/249
摘要： Procédé de fabrication de structures à résistance pour des circuits intégrés supraconducteurs. Le procédé consiste à former une bande supraconductrice (60) puis à modifier une région sur cette bande (78) pour abaisser sa température critique jusqu'à une valeur inférieure à la température de fonctionnement. La modification peut s'effectuer mécaniquement, chimiquement ou physiquement. Le paramètre d'ordre du matériau peut être abaissé en bombardant le matériau avec des ions à un niveau d'énergie et un dosage suffisants et pendant une durée suffisante. Le paramètre d'ordre peut également être réduit en plaçant un matériau magnétique en contact ou à proximité étroite avec la région (78).

5. 发明公开

EP0245471A1 ROOM TEMPERATURE TO CRYOGENIC ELECTRICAL INTERFACE 失效
标题翻译： DEVICE FOR两个电路的这是室温，一前一期深冷温度为电气连接。
公开(公告)号：EP0245471A1
公开(公告)日：1987-11-19
申请号：EP86907151.0
申请日：1986-11-07
申请人： HYPRES, INC.
发明人： FARIS, Sadeg, Mustafa
IPC分类号： H01F6 , F17C13 , H03K19
CPC分类号： F17C13/00 , H03K19/195
摘要： Appareil destiné à servir d'interface électrique entre un circuit fonctionnant à une température donnée et un circuit fonctionnant à une autre température, comportant une surface (12) de refroidissement ou de chauffage disposée dans une chambre à vide (13) reliée du point de vue thermique au premier circuit. Des lignes de transmission (18) peuvent passer par la paroi de la chambre à vide et être reliées au deuxième circuit, qui peut être situé à l'extérieur. Dans une réalisation le premier circuit peut fonctionner à des températures cryogéniques et est monté sur un substrat allongé (30) en silice fondue, avec des lignes de transmission. Le premier circuit peut être relié thermiquement à la surface primaire par l'intermédiaire d'une surface secondaire, qui elle-même peut être reliée thermiquement à la surface primaire au moyen d'un support flexible et/ou un thermo-interrupteur (44). L'utilisation d'un élément souple dans la construction de l'appareil empêche l'éclatement du substrat par suite d'un mouvement d'origine thermique.

你已经成功收藏专利！

检索式保存成功!

IPRDB

热门服务

关于我们

友情链接

联系方式