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    • 1. 发明申请
    • TESTADAPTER FÜR COMPUTER-CHIPS
    • 测试适配器计算机芯片
    • WO2010063588A1
    • 2010-06-10
    • PCT/EP2009/065471
    • 2009-11-19
    • HUBER+SUHNER AGLOVELESS, Richard
    • LOVELESS, Richard
    • G01R1/04H01R13/46
    • G01R1/0433
    • Die Erfindung betrifft einen Testadapter (1) zum Wirkverbinden eines zu Testen Chips mit einer Testvorrichtung. Der Testadapter weist einen dreidimensionalen Aufbau mit einer Bodenplatte (8) und einer Deckelplatte (2) auf. Die Deckelplatte (2) weist ein Kontaktfeld (3) mit in Anzahl und Anordnung auf den zu testenden Chip abgestimmten Kontaktelementen (9) auf. Zwischen der Bodenplatte (8) und der Deckelplatte (2) sind Seitenflächen (4) angeordnet, die in einem Winkel zur Deckelplatte (2) angeordnet sind und eine auf den zu testenden Chip abgestimmte Anzahl von Einzelverbindern (5) aufweisen.
    • 本发明涉及一种用于芯片操作地连接到与测试装置测试的测试适配器(1)。 测试适配器包括具有底板(8)和一个盖板(2)的三维结构。 盖板(2)具有一个接触场(3)在数匹配和布置在芯片将被测试的接触元件(9)。 底板(8)和所述盖板(2)之间是侧表面(4)被布置,它们以一定的角度在盖板(2)和相匹配的芯片将被测试个体的连接器的数目(5)。