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    • 3. 发明申请
    • SQUID-MIKROSKOP FÜR RAUMTEMPERATURPROBEN
    • SQUID显微镜室温试样
    • WO2003048797A1
    • 2003-06-12
    • PCT/DE2002/004245
    • 2002-11-19
    • FORSCHUNGSZENTRUM JÜLICH GMBHFARDMANESH, MehdiSCHUBERT, JürgenBANZET, Marko
    • FARDMANESH, MehdiSCHUBERT, JürgenBANZET, Marko
    • G01R33/035
    • G01R33/0358
    • Die Erfindung betrifft ein Bauteil für ein SQUID-Mikroskop sowie selbiges. Aufgabe der Erfindung ist die Bereitstellung eines SQUID-Mikroskops, bei dem ein sehr kleiner Abstand zwischen der Probe und der Mikroskopspitze möglich ist. Erfindungsgemäss wird die Aufgabe gelöst, indem ein Substrat bereitgestellt wird, welches eine Kante aufweist. Die geschlossene Leiterbahn, die die Probe mit dem SQUID koppelt bzw. der Weiterleitung des magnetischen Flusses dient, wird über die Kante geführt. Die beiden an die Kante angrenzenden Seiten des Substrats schliessen einen Winkel ein, der zwischen 90 und 180° liegt. Durch Vorsehen des Winkels gelingt es, das Substrat zusammen mit der geschlossenen Leiterbahn näher an das Fenster einer Vakuumkammer heran zu bringen, als dies beim Stand der Technik möglich ist. Hinter dem Fenster ist die zu untersuchende Probe angeordnet.
    • 本发明涉及一种用于显微镜SQUID的成分,以及相同的。 本发明的目的是提供一个SQUID显微镜,其中所述样品和显微镜尖端之间的非常小的距离是可能的。 根据本发明,提供了一种具有边沿由衬底实现的对象。 使用哪个连接至该SQUID或磁通量的转发样品的闭合导体,被引导越过边缘。 邻近于所述衬底的边缘两侧的两个包围其位于90°和180°之间的角度。 通过设置角度以使与连续导电路径更靠近真空室的窗口一起放大基板,比现有技术中可能是可能的。 窗口下分析样品后面布置。