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热词
    • 1. 发明申请
    • NANOSCALE SILICON PARTICLES
    • 纳米硅胶颗粒
    • WO2007025793A1
    • 2007-03-08
    • PCT/EP2006/063953
    • 2006-07-06
    • DEGUSSA AGBAUMER, AndreaBRANDT, Martin,S.STUTZMANN, MartinWIGGERS, Hartmut
    • BAUMER, AndreaBRANDT, Martin,S.STUTZMANN, MartinWIGGERS, Hartmut
    • C01B33/027
    • C01B33/027Y10T428/2993
    • Nanoscale silicon particles that have a BET specific surface area in the range of 100 to 800 m2/g, that consist of an essentially round, mostly unfacetted crystalline Si core surrounded by an amorphous shell, the amorphous shell comprising silica and hydrogen-terminated silicon atoms and have a paramagnetic defect density in the range of 1013 to 1017 1/mg. Essentially hydrogen terminated, nanoscale silicon particles having a paramagnetic defect density in the range of 10 12 to 10 16 1/mg obtained by treating the nanoscale silicon particles with hydrofluoric acid. Essentially alkyl terminated nanoscale silicon particles having a paramagnetic defect density in the range of 3xl0 12 to 3xl0 16 1/mg obtained by treating the essentially hydrogen terminated, nanoscale silicon particles with one or more compounds selected from the group of 1-alkenes and/or 1-alkynes. Partially alkyl terminated nanoscale silicon particles having a paramagnetic paramagnetic defect density in the range of 3xl0 12 to 3xl0 16 1/mg obtained by treating the nanoscale silicon particles with one or more compounds selected from the group of 1-alkenes and/or 1-alkynes.
    • 具有100-800m2 / g范围内的BET比表面积的纳米级硅颗粒,其由被无定形壳包围的基本上圆形的,大部分为未结晶的晶体Si核构成,所述无定形壳包含二氧化硅和氢封端的硅原子 并且具有1013至1017 1 / mg范围内的顺磁性缺陷密度。 基本上氢封端,通过用氢氟酸处理纳米级硅颗粒而获得的具有在10 12至10 16 / mg范围内的顺磁性缺陷密度的纳米尺度硅颗粒。 本质上是烷基封端的纳米尺度硅颗粒,其具有通过用一个(例如)处理基本上氢的封端的纳米级硅颗粒获得的3×10 12至3×10 16 / mg范围内的顺磁性缺陷密度 或更多选自1-烯烃和/或1-炔烃的化合物。 通过用一种或多种化合物处理纳米尺度硅颗粒而获得的部分烷基封端的纳米尺度硅颗粒具有在3×10 12至3×10 16 / mg范围内的顺磁性顺磁性缺陷密度 选自1-烯烃和/或1-炔烃。
    • 4. 发明申请
    • VERFAHREN ZUR HERSTELLUNG SILIZIUMHALTIGER OBERFLÄCHEN UND OPTOELEKTRONISCHE BAUELEMENTE
    • 用于生产硅结构面和光电电子元件
    • WO2007025536A1
    • 2007-03-08
    • PCT/DE2006/001537
    • 2006-09-01
    • KOYNOV, SvetoslavBRANDT, Martin, S.STUTZMANN, Martin
    • KOYNOV, SvetoslavBRANDT, Martin, S.STUTZMANN, Martin
    • H01L31/0236H01L31/18H01L33/00H01L21/308
    • H01L31/1804H01L31/02363H01L33/22Y02E10/547Y02P70/521
    • Es wird ein Verfahren beschrieben zur Texturierung von siliziumhaltigen Oberflächen und Bauelementen. Dazu wird eine metallhaltige Schicht auf die siliziumhaltige Oberfläche gebracht und diese Oberfläche dann in einer Lösung aus HF oder NH 4 F oder Mischungen davon und einem Oxidationsmittel geätzt. Die Oberfläche zeigt nach der Texturierung eine Oberflächenstruktur mit typischen Strukturgrößen von 50 bis 250 nm. Die Reflektivität der siliziumhaltigen Oberfläche wird durch das Verfahren typischerweise auf weniger als 5% reduziert, wie in der Abbildung am Beispiel der Reflektion einer mit dem Verfahren textu- rierten einkristallinen Siliziumoberfläche gezeigt ist. Das Verfahren lässt sich auf Materialien unterschiedlicher struktureller Modifikation (ein-, poly-, mikro-, nano-, protokristallin oder amorph), Orientierung, Legierung und Dotierung anwenden und ist insbesondere auch für Bauelemente geeignet, die mit Hilfe von Dünnschichttechnik hergestellt werden. Bauelemente, deren Oberflächen mit Hilfe dieses Verfahrens texturiert sind, können vorteilhaft als Solarzellen, Photodetektoren, Leuchtdioden oder zur Ein- und Auskopplung von Licht in Wellenleitern verwendet werden.
    • 描述了一种用于含硅表面和部件的纹理化的方法。 为了这个目的,一个含金属层被施加到表面上,然后含硅 F或它们的混合物,和氧化剂,该表面在HF或NH 的溶液中被蚀刻。4 面向纹理具有50至250nm的典型的结构尺寸的表面结构的表面上。在含硅表面的反射率通过该方法典型地降低至小于5%,作为织构在图中所述方法捕获的原始单晶硅反射的示例 硅表面被示出。 该方法可以被应用于不同的结构修饰(单,多,微,纳米,原晶或无定形的)的材料,适用取向合金和掺杂剂,特别适合于被使用薄膜技术制造的部件。 部件其表面用该方法是有纹理的,可以有利地用作太阳能电池,光电探测器,发光二极管或用于进出光在波导中的耦合。
    • 7. 发明申请
    • SEMICONDUCTOR BIOSENSORS
    • 半导体生物传感器
    • WO2010142773A2
    • 2010-12-16
    • PCT/EP2010/058183
    • 2010-06-10
    • HELMHOLTZ ZENTRUM MÜNCHEN DEUTSCHES FORSCHUNGSZENTRUM FÜR GESUNDHEIT UND UMWELT (GMBH)THALHAMMER, StefanHOFSTETTER, MarkusHOWGATE, JohnSTUTZMANN, Martin
    • THALHAMMER, StefanHOFSTETTER, MarkusHOWGATE, JohnSTUTZMANN, Martin
    • G01N27/414
    • G01T1/02G01N33/48728
    • The present invention relates to semiconductor devices, in particular to a device for monitoring a cell signal such as an electrical signal produced by living cells in response to external stimulation, optionally in real time, comprising (a) at least one discrete area comprising a high electron mobility transistor (HEMT); and (b)non-excitable cells attached to said HEMT (HEMT element). Preferably, said device, and preferably said at least one discrete area which comprises a HEMT, has a surface suitable for cell attachment or growth. Accordingly, the device can be applied in uses and methods for monitoring a cell signal such as an electrical signal produced by living cells in response to external stimulation, optionally in real time. Likewise, the device can be applied for screening compounds that reverse, protect from and/or shield cells from external stimuli which cause damage to cells. Also, kits comprising the device are an aspect of the present invention.
    • 本发明涉及半导体器件,特别涉及一种用于监测细胞信号(例如,响应于外部刺激而由活细胞产生的电信号,可选地实时地)产生的电信号的装置,包括:(a)至少一个离散的区域,包括高的 电子迁移率晶体管(HEMT); 和(b)附着于所述HEMT(HEMT元件)的不可兴奋细胞。 优选地,所述装置,优选地包括HEMT的所述至少一个离散区域具有适于细胞附着或生长的表面。 因此,该设备可以应用于可选地实时监视响应于外部刺激的由活细胞产生的电信号的细胞信号的用途和方法。 同样,该装置可用于筛选从外部刺激反向,保护和/或屏蔽细胞的化合物,从而引起细胞损伤。 而且,包括该装置的试剂盒是本发明的一个方面。