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    • 3. 发明申请
    • SYSTEM AND METHOD FOR EXTRACTING MATERIAL DIFFERENCES BETWEEN DIFFERENT CIRCUIT BOARD DESIGN DIAGRAMS
    • 不同电路板设计图之间提取材料差异的系统与方法
    • US20070038964A1
    • 2007-02-15
    • US11308970
    • 2006-06-01
    • Ge-Xin ZengChang-Wen FuDe-Sheng Qiu
    • Ge-Xin ZengChang-Wen FuDe-Sheng Qiu
    • G06F17/50
    • G06F17/5022
    • A system is provided for extracting material changes in different design diagrams of a motherboard. The system includes: an extracting module for extracting a first raw BOM from a first circuit design diagram of the motherboard, and for extracting a second raw BOM from a second circuit design diagram of the motherboard, wherein the second circuit design diagram is partially identical to the first circuit design diagram; a converting module for converting the first raw BOM to a first standard BOM, and for converting the second raw BOM to a second standard BOM; a integrity checking module for determining whether data in the two standard BOMs are error free; and an comparing module for comparing the two standard BOMs to extract material changes. A related method is also disclosed.
    • 提供一种用于提取主板不同设计图中的材料变化的系统。 该系统包括:提取模块,用于从母板的第一电路设计图提取第一原始BOM,并从主板的第二电路设计图提取第二原始BOM,其中第二电路设计图部分相同于 第一电路设计图; 用于将第一原始BOM转换为第一标准BOM并将第二原始BOM转换为第二标准BOM的转换模块; 用于确定两个标准BOM中的数据是否无错误的完整性检查模块; 以及用于比较两个标准BOM以提取材料变化的比较模块。 还公开了相关方法。