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    • 2. 发明申请
    • PROCEDE ET DISPOSITIF D'IDENTIFICATION D'UN MATERIAU PAR ANALYSE SPECTRALE DE RAYONNEMENTS ELECTROMAGNETIQUES TRAVERSANT CE MATERIAU
    • 通过材料电磁辐射的光谱分析来识别材料的方法和装置
    • WO2013001247A1
    • 2013-01-03
    • PCT/FR2012/051510
    • 2012-06-29
    • COMMISSARIAT À L'ÉNERGIE ATOMIQUE ET AUX ÉNERGIES ALTERNATIVESBELDJOUDI, GuillaumeREBUFFEL, VéroniqueRINKEL, Jean
    • BELDJOUDI, GuillaumeREBUFFEL, VéroniqueRINKEL, Jean
    • G01B15/02G01V5/00G01N23/087
    • G01R23/18A61B6/52G01B15/025G01N23/087G01N2223/3037G01R23/16G06K9/00523
    • Ce procédé d'identification d'un matériau comporte les étapes suivantes : mesure (200) d'un spectre d'un rayonnement électromagnétique transmis à travers le matériau à identifier; détermination (202, 204) d'au moins une bande d'énergies, dite bande de mesure, et de coefficients spectraux d'une fonction de comparaison dans cette bande de mesure, à partir du spectre mesuré; estimation (PH1, PH2), à l'aide des coefficients spectraux déterminés, de la nature et/ou de l'épaisseur du matériau à identifier sur la base d'un ensemble de paramètres spectraux de référence relatifs à des matériaux et/ou épaisseurs de référence et définis dans des bandes de référence. L'estimation comporte au moins les deux étapes suivantes : sélection préalable (208i, 208p) d'une pluralité de matériaux et/ou épaisseurs de référence, dits candidats possibles, à partir d'une confrontation des coefficients spectraux déterminés avec au moins une partie des paramètres spectraux de référence; estimation (222) de la nature et/ou de l'épaisseur du matériau à identifier à partir d'une confrontation des coefficients spectraux déterminés avec les paramètres spectraux d'au moins une partie des candidats possibles, dans au moins une bande d'énergies commune aux bandes de référence de ladite au moins une partie des candidats possibles et à la bande de mesure.
    • 本发明涉及一种用于识别材料的方法,包括以下步骤:测量(200)透过待鉴定材料的电磁辐射谱; 从测量的光谱中确定(202,204)至少一个称为测量带的能带和所述测量带中的比较函数的频谱系数; 基于与参考厚度和/或材料有关的参考光谱参数的集合并且在参考频带内定义,使用预定的频谱系数来估计(PH1,PH2)要识别的材料的性质和/或厚度。 该估计至少包括以下两个步骤:从参考光谱的至少一部分确定的光谱系数的比较中,先前选择(208i,208p)多个参考厚度和/或材料(称为可能的候选) 参数; 并且从至少一个可能候选的一部分的光谱参数确定的光谱系数的比较中估计(222)待识别的材料的性质和/或厚度, 所述至少一部分可能候选的参考频带和测量带。