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1. 发明申请

WO2003048787A1 PRÜFSONDE FÜR EINEN FINGERTESTER UND FINGERTESTER 审中-公开
标题翻译：用探头指状测试和手指测试仪
公开(公告)号：WO2003048787A1
公开(公告)日：2003-06-12
申请号：PCT/EP2002/012770
申请日：2002-11-14
申请人： ATG TEST SYSTEMS GMBH & CO. KG , ROMANOV, Viktor
发明人： ROMANOV, Viktor
IPC分类号： G01R1/067
CPC分类号： G01R1/06705 , G01R1/067 , G01R1/06711 , G01R1/06716 , G01R1/0675 , G01R1/07392 , G01R31/2805
摘要： Die Erfindung betrifft eine Prüfsonde (1) für einen Fingertester zum Testen von unbestückten Leiterplatten. Die Prüfsonde weist eine Prüfnadel (2) auf, die mit einer Prüfspitze (5) mit einem Leiterplattentestpunkt in Kontakt bringbar ist, und mittels zumindest zweier Haltearme (6, 7, 8, 9) schwenkbar an einer Halterung (10) befestigt ist. Die Erfindung zeichnet sich dadurch aus, dass zumindest einer der Haltearme aus einem elektrisch leitenden Material ausgebildet und mit der Prüfnadel elektrisch verbunden ist. Der erfindungsgemäße Fingertester weist eine erfindungsgemäße Prüfsonde auf, die wird von einem speziellen Linearmotor angetrieben wird.
摘要翻译：本发明涉及一种测试探针（1），用于手指测试仪裸印刷电路板的测试。测试探针包括接触探针（2），其上的探针（5）可接合一电路板测试点接触，并且通过至少两个保持臂（6，7，8，9）可枢转地在载体（10）被附接。本发明的特征在于，保持臂的至少一个导电材料形成并电连接到所述测试针。本发明的指状测试根据本发明，这是由一个专用的线性马达驱动具有测试探针。

2. 发明授权

EP1451594B1 PRÜFSONDE FÜR EINEN FINGERTESTER UND FINGERTESTER 有权
标题翻译：用探头指状测试和手指测试仪
公开(公告)号：EP1451594B1
公开(公告)日：2005-09-28
申请号：EP02792764.9
申请日：2002-11-14
申请人： atg test systems GmbH & Co. KG
发明人： ROMANOV, Viktor
IPC分类号： G01R1/067
CPC分类号： G01R1/06705 , G01R1/067 , G01R1/06711 , G01R1/06716 , G01R1/0675 , G01R1/07392 , G01R31/2805
摘要： The invention relates to a test probe (1) for a finger tester for testing bare printed circuit boards. Said test probe comprises a test needle (2) which can be brought into contact with a test point of a printed circuit board by means of a test tip (5), and is pivotally fixed to a holding element (10) by means of at least two holding arms (6, 7, 8, 9). The invention is characterised in that at least one of said holding arms consists of an electroconductive material and is electrically connected to the test needle. The inventive finger tester comprises an inventive test probe which is driven by a special linear motor.

3. 发明公开

EP1451594A1 PRÜFSONDE FÜR EINEN FINGERTESTER UND FINGERTESTER 有权
标题翻译：用探头指状测试和手指测试仪
公开(公告)号：EP1451594A1
公开(公告)日：2004-09-01
申请号：EP02792764.9
申请日：2002-11-14
申请人： atg test systems GmbH & Co. KG
发明人： ROMANOV, Viktor
IPC分类号： G01R1/067
CPC分类号： G01R1/06705 , G01R1/067 , G01R1/06711 , G01R1/06716 , G01R1/0675 , G01R1/07392 , G01R31/2805
摘要： The invention relates to a test probe (1) for a finger tester for testing bare printed circuit boards. Said test probe comprises a test needle (2) which can be brought into contact with a test point of a printed circuit board by means of a test tip (5), and is pivotally fixed to a holding element (10) by means of at least two holding arms (6, 7, 8, 9). The invention is characterised in that at least one of said holding arms consists of an electroconductive material and is electrically connected to the test needle. The inventive finger tester comprises an inventive test probe which is driven by a special linear motor.

4. 发明申请

WO2008071541A2 MODUL FÜR EINE PRÜFVORRICHTUNG ZUM TESTEN VON LEITERPLATTEN 审中-公开
标题翻译： MODULE FOR测试仪，电路板检测
公开(公告)号：WO2008071541A2
公开(公告)日：2008-06-19
申请号：PCT/EP2007/062888
申请日：2007-11-27
申请人： ATG LUTHER & MAELZER GMBH , GÜLZOW, Andreas , ROMANOV, Viktor , GOLDSCHMITT, Volker , MÜLLER, Werner , DEHMEL, Rüdiger , ROTHAUG, Uwe
发明人： GÜLZOW, Andreas , ROMANOV, Viktor , GOLDSCHMITT, Volker , MÜLLER, Werner , DEHMEL, Rüdiger , ROTHAUG, Uwe
IPC分类号： G01R1/073 , G01R31/28
CPC分类号： G01R31/2808 , G01R1/07328
摘要： Die Erfindung betrifft ein Modul für eine Prüfvorrichtung zum Testen von Leiterplatten. Derartige Prüfvorrichtungen weisen ein Grundraster auf, auf dem ein Adapter und/oder ein Translator angeordnet werden können, um Kontaktstellen des Grundrasters mit Leiterplattentestpunkten mit einer zu testenden Leiterplatte zu verbinden. Das Modul weist eine Stützplatte und eine Kontaktplatte auf. Die Kontaktplatte ist aus einem starren Leiterplattenabschnitt, der als Grundrasterelement bezeichnet wird, und zumindest einem flexiblen Leiterplattenabschnitt ausgebildet. Am Grundrasterelement sind Kontaktstellen vorgesehen, die jeweils ein Teil der Kontaktstellen des Grundrasters bilden. Das Grundrasterelement ist an einer Stirnfläche der Stützplatte angeordnet und der biegsame Leiterplattenabschnitt ist derart abgebogen, dass zumindest ein Teil des übrigen Bereichs der Kontaktplatte parallel zur Stützplatte angeordnet ist. Die Kontaktstellen des Grundrasterelementes stehen jeweils im elektrischen Kontakt mit in der Kontaktplatte verlaufenden Leiterbahnen, die sich von dem Grundrasterelement in den flexiblen Leiterabschnitt erstrecken.
摘要翻译：本发明涉及一种用于测试印刷电路板的测试装置的模块。这样的测试装置具有在其上的适配器和/或翻译可以被布置为连接用的印刷电路板的电路板的测试点的基本格的接触点被测试的基本画面。该模块包括一个支承板和接触板。接触板被从其中被称为基本栅格元件的刚性电路板部分在柔性印刷电路板部分制成，并且至少。上设置在基本光栅元件的接触点，每个成形的基本网格的接触点的一部分。基本网格元件被布置在支撑板和柔性电路板部的端部表面被弯曲，以使得至少所述接触板的剩余部分的一部分被布置成平行于支撑板。基本网格元件的接触点的每个都与其中从在柔性导体部分的基本栅格元件延伸导体轨迹延伸的接触板的电接触。

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