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1. 发明公开

KR20070089057A TEST SYSTEM, ADDED APPARATUS, AND TEST METHOD 审中-公开
标题翻译：测试系统，添加设备和测试方法
公开(公告)号：KR20070089057A
公开(公告)日：2007-08-30
申请号：KR20070017719
申请日：2007-02-22
申请人： ADVANTEST CORP
发明人： WATANABE YUYA , SUGAMORI SHIGERU
IPC分类号： G06F11/22
CPC分类号： G01R31/31919 , G01R31/31922
摘要： A test system, an additional apparatus and a test method are provided to perform logic simulation of design data of a DUT(Device Under Test), thereby effectively performing event based-test without directly making a test pattern. A test system comprises the followings: an event data acquiring unit(42) for acquiring event data; a signal generating unit(44) for generating a device input signal to a device to be tested; a signal supply unit(46) for supplying the generated device input signal to the device to be tested; a signal input unit for inputting a device output signal; a variation detecting unit(48) for detecting whether the inputted device output signal is varied; a variation timing detecting unit(50) for detecting variation timing of the device output signal; a storing unit(60) for storing the variation timing of the device output signal and signal values after varying; a reading unit(64) for reading the output events; and a determining unit(52).
摘要翻译：提供了一种测试系统，附加设备和测试方法来对DUT（被测设备）的设计数据执行逻辑仿真，从而有效地执行基于事件的测试，而不直接制作测试模式。测试系统包括：用于获取事件数据的事件数据获取单元（42）; 信号生成单元（44），用于产生到被测设备的设备输入信号; 信号提供单元（46），用于将所生成的设备输入信号提供给要测试的设备; 用于输入设备输出信号的信号输入单元; 用于检测所输入的设备输出信号是否变化的变化检测单元（48）变化定时检测单元，用于检测设备输出信号的变化定时; 存储单元（60），用于存储设备输出信号的变化定时和变化后的信号值; 读取单元（64），用于读取输出事件; 和确定单元（52）。

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