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1. 发明授权

KR100874935B1 백점 결함 보완 회로 및 이 백점 결함 보완 회로를 이용한 이미지 센서 有权
标题翻译： 백점결함보완회로및이백점결함보완회로를이용한이미지센서
公开(公告)号：KR100874935B1
公开(公告)日：2008-12-19
申请号：KR1020030007674
申请日：2003-02-07
申请人： 후지쯔 세미컨덕터 가부시키가이샤
发明人： 코쿠보아사오 , 후나코시쥰 , 야마모토카츠요시
IPC分类号： H04N5/367
CPC分类号： H04N5/3675
摘要： A circuit for correction of white pixel defects capable of complementing white pixel faults without using a storage device for holding white pixel fault spots, and an image sensor using the circuit for correction of white pixel defects. Pixels constituting a pixel section are sequentially subjected to white pixel fault complementation process. A nearby pixel data holding section acquires pixel data from a readout circuit and holds the data. A comparison-determination section compares lightness of a target pixel with that of a nearby pixel and determines, based on the comparison result, whether or not the target pixel is associated with a white pixel fault having a lightness higher than that of the nearby pixel by a predetermined value or more. When it is judged by the comparison-determination section that the target pixel is associated with a white pixel fault, a complementary calculation section performs a complementary calculation by using the pixel data of the target and nearby pixels held by the nearby pixel data holding section, to generate complemented data.
摘要翻译：一种用于校正白色像素缺陷的电路，该电路能够补充白色像素故障，而不使用用于保持白色像素故障点的存储设备，以及使用该电路来校正白色像素缺陷的图像传感器。构成像素部分的像素顺序经受白像素故障补充处理。附近的像素数据保持部分从读出电路获取像素数据并保存该数据。比较确定部分比较目标像素的亮度与邻近像素的亮度，并且基于比较结果确定目标像素是否与具有亮度高于邻近像素的亮度的白色像素故障相关联预定值或更多。当由比较确定部分判断目标像素与白像素故障相关联时，互补计算部分通过使用由邻近像素数据保持部分保持的目标和邻近像素的像素数据来执行互补计算，生成补充数据。

2. 发明公开

KR1020030067567A 백점 결함 보완 회로 및 이 백점 결함 보완 회로를 이용한 이미지 센서 有权
标题翻译：一种使用背散射缺陷补偿电路和反向散射补偿电路的图像传感器
公开(公告)号：KR1020030067567A
公开(公告)日：2003-08-14
申请号：KR1020030007674
申请日：2003-02-07
申请人： 후지쯔 세미컨덕터 가부시키가이샤
发明人： 코쿠보아사오 , 후나코시쥰 , 야마모토카츠요시
IPC分类号： H04N5/367
CPC分类号： H04N5/3675
摘要： 본 발명은 백점(白點) 고장의 발생 부위를 유지하기 위한 기억 장치를 이용하지 않고서 백점 고장 보완을 실행하는 것을 과제로 한다.
화소부(200)를 구성하는 화소에 대한 백점 고장 보완 처리를 순차 행한다. 주변 화소 데이터 유지부(110)는 판독 회로(300)로부터 화소 데이터를 취득하여, 이것을 유지한다. 비교 판정부(120)는 유지된 대상 화소와 그 주변 화소와의 명도를 비교하고, 이 비교 결과에 기초하여, 대상 화소가 주변 화소에 비하여 미리 정해진 소정 값 이상의 명도를 갖는 백점 고장인지의 여부를 판정한다. 보완 연산부(130)에서는, 비교 판정부(120)에 의해 대상 화소가 백점 고장이라고 판정된 경우, 주변 화소 데이터 유지부(110)에 유지되어 있는 대상 화소의 화소 데이터와 그 주변의 주변 화소의 화소 데이터를 사용하여 보완 연산을 실행하여, 보완 데이터를 생성한다.

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