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1. 发明专利

KR102235144B1 KR102235144B1 - Method and apparatus for navigation 有权
公开(公告)号：KR102235144B1
公开(公告)日：2021-04-05
申请号：KR1020200118519A
申请日：2020-09-15
申请人： (주)파이버프로
发明人： 이봉완 , 정호진 , 용재철 , 강선영
IPC分类号： G01C21/10 , B64D45/00 , G01C19/64 , G01C21/20 , G01P15/02
CPC分类号： G01C21/10 , B64D45/00 , G01C19/64 , G01C21/20 , G01P15/02
摘要： 항법 방법 및 장치가 개시된다. 항법 장치는 항체에 배치되고, 적어도 하나의 프로세서; 가속도계; 광섬유 자이로 센서를 포함하고, 상기 프로세서는, 정지된 항체에 대해 초기 위치 정보를 획득하고, 가속도 센서와 광섬유 자이로 센서로부터 각각 가속도와 각속도 정보를 획득하고, 상기 가속도 및 각속도 정보를 이용하여 초기 정렬 과정을 통해 초기 자세 정보를 획득하고, 상기 초기 위치와 초기 자세 정보를 기초로 상기 항체에 대해 항법 과정을 수행하는 단계를 포함하고, 상기 측정 각속도 정보를 획득하는 상기 광섬유 자이로 센서의 복수의 회전광에 변조 진폭을 가지는 사각파의 광 변조 신호를 인가하여 출력광을 수신하고, 상기 프로세서는, 상기 출력광의 세기를 기초로 사냑(sagnac) 위상을 도출하고, 상기 사냑 위상을 기초로 상기 측정 각속도 정보를 계산함으로써 측정 각속도 정보를 상기 측정 각속도 정보를 획득하고, 상기 변조 진폭은, 상기 정밀 정렬 과정에서 상기 광섬유 자이로 센서의 측정 잡음이 작아지는 방향으로 조정되고, 상기 항법 과정에서 상기 광섬유 자이로 센서의 출력광의 신호 성분이 커지는 방향으로 조정된다.

2. 发明申请

WO2013141537A1 광학적 방법을 이용한 두께 및 형상 측정 장치 및 측정 방법 审中-公开
标题翻译：通过使用光学方法测量厚度和形状的装置和方法
公开(公告)号：WO2013141537A1
公开(公告)日：2013-09-26
申请号：PCT/KR2013/002171
申请日：2013-03-18
申请人： (주)파이버프로
发明人： 이봉완 , 이윤숙
IPC分类号： G01B11/06 , G01B11/24 , G01B9/02
CPC分类号： G01B11/06 , G01B11/24
摘要： 본 발명에 따른 두께 및 형상 측정 장치는 광원, 기준 반사판, 상기 광원으로부터 전달받은 광을 측정 시료의 제1 면으로 출광하고, 출광된 광 중 일부가 제1 면에서 반사되는 제1 반사광, 제1 면을 투과한 광 중 일부가 제1 면의 반대쪽에 위치한 측정 시료의 제2 면에서 반사되는 제2 반사광, 및 제2 면을 투과한 광 중 일부가 기준 반사면에서 반사되는 제3 반사광을 수광하는 광 전달부, 광 전달부로부터 제1, 제2, 및 제3 반사광이 간섭되어 생성되는 간섭 광을 전달받고, 간섭 광의 광 출력을 파장에 따라 검출하여 광 스펙트럼을 측정하는 분광기, 및 광 스펙트럼의 주기성을 분석하여 제1 면, 제2 면, 및 기준 반사면 사이의 상대 거리들을 측정하는 신호처리부를 포함한다.
摘要翻译：根据本发明的用于测量厚度和形状的装置包括：光源; 参考反光板; 光输送单元，用于将从光源接收的光朝向测量样本的第一表面输出，并接收其中一些输出的光从第一表面反射的第一反射光，其中具有一些光的第二反射光穿透第一表面的第一表面从位于第一表面的相对侧的测量样品的第二表面反射，并且其中穿过第二表面的一些光从参考反射表面反射的第三反射光; 用于接收来自光输送单元的第一，第二和第三反射光之间的干涉产生的干涉光，并根据波长检测干涉光的光焦度以测量光谱; 以及信号处理单元，用于分析光谱的周期性，以便测量第一表面，第二表面和参考反射表面之间的相对距离。

3. 发明授权

KR102097935B1 사냑 루프를 이용한 광신호와 전자신호 간 위상 검출기 및 위상 검출 방법 有权
公开(公告)号：KR102097935B1
公开(公告)日：2020-04-07
申请号：KR1020180164258
申请日：2018-12-18
申请人： (주)파이버프로 , 한국과학기술원
发明人： 이봉완 , 홍준기 , 김정원 , 전찬기 , 나용진
IPC分类号： G01J9/02

4. 发明授权

KR102089259B1 전-편광유지 광섬유 모드 잠금 레이저 有权
公开(公告)号：KR102089259B1
公开(公告)日：2020-03-16
申请号：KR1020180094692
申请日：2018-08-14
申请人： 한국과학기술원 , (주)파이버프로
发明人： 김정원 , 김도현 , 이봉완
IPC分类号： H01S3/11 , H01S3/067 , H01S3/16

5. 发明授权

KR101657291B1 센서 기능이 포함되어 있는 광섬유 프로브를 사용하는 광 측정 시스템 有权
标题翻译：光纤测量系统采用光纤探头，包括感应功能
公开(公告)号：KR101657291B1
公开(公告)日：2016-09-20
申请号：KR1020140044401
申请日：2014-04-14
申请人： (주)파이버프로
发明人： 이봉완 , 용재철 , 서민성
IPC分类号： G01J1/04 , G01R1/073
摘要： 본발명은광부품에대한광학적특성을측정하기위한광 측정장치에관한것으로, 프로브용광섬유에광섬유브래그격자가형성된광 프로브에서의브래그격자신호의변화를이용하여광 프로브와웨이퍼사이의간격을보다용이하게일정하게유지시킬수 있는광 측정시스템에관한것이다.

6. 发明公开

KR1020130114323A 비 접촉식 물리량 측정 시스템 有权
标题翻译：非接触式测量物理量
公开(公告)号：KR1020130114323A
公开(公告)日：2013-10-17
申请号：KR1020120036548
申请日：2012-04-09
申请人： (주)파이버프로
发明人： 서민성 , 이봉완 , 전상배
IPC分类号： G01B11/06 , G01B9/02
摘要： PURPOSE: A contactless physical quantity measurement system is not sensitive to external vibration or a temperature change and to measure the thickness and a shape of an optical medium at the same time. CONSTITUTION: A contactless physical quantity measurement system includes a wavelength variable light source, an optical medium (105), a light receiving diode, and a signal detecting unit (108). Lights emitted by the wavelength variable light source are vertically incident into the optical medium. The optical medium has penetrative properties in respect to the lights and is processed to be flat. The light receiving diode measures a change in the intensity of optical signals caused by the coherence of lights reflected by an output surface and lights reflected by an incident surface of the optical medium. The signal detecting unit detects the optical signal intensity change measured by the light receiving diode, thereby measuring a coherent spectrum between the lights reflected by the incident surface of the optical medium and the lights reflected by the output surface of the optical medium. [Reference numerals] (100) Injected current modulating circuit; (101) Constant temperature maintaining circuit; (104) Optical parallelizing device; (106) Optical detector; (107) Optical filter; (108) Optical detecting unit
摘要翻译：目的：无接触物理量测量系统对外界振动或温度变化不敏感，同时测量光学介质的厚度和形状。构成：非接触物理量测量系统包括波长可变光源，光介质（105），光接收二极管和信号检测单元（108）。由波长可变光源发出的光垂直入射到光学介质中。光学介质相对于光具有渗透性，并被加工成平坦的。光接收二极管测量由输出表面反射的光的相干性和由光介质的入射表面反射的光引起的光信号强度的变化。信号检测单元检测由光接收二极管测量的光信号强度变化，从而测量由光介质的入射表面反射的光和由光介质的输出表面反射的光之间的相干光谱。（附图标记）（100）注入电流调制电路; （101）恒温保持电路; （104）光学平行化装置; （106）光检测器; （107）滤光片; （108）光学检测单元

7. 发明公开

KR1020120107242A 광 스펙트로미터 기반 다채널 고속 물리량 측정 시스템 有权
标题翻译：使用光学光谱仪的多通道物理量子高速测量系统
公开(公告)号：KR1020120107242A
公开(公告)日：2012-10-02
申请号：KR1020110024819
申请日：2011-03-21
申请人： (주)파이버프로
发明人： 이봉완 , 서민성 , 오호근
IPC分类号： G01B11/00 , G01N21/25
摘要： PURPOSE: A multi-channel high speed physical quantity measuring system of an optical spectrometer base is provided to measure a physical quantity with a plurality of optical fiber brag lattice sensor arrays by using lights received no influences of electronic waves. CONSTITUTION: A multi-channel high speed physical quantity measuring system of an optical spectrometer base comprises a light source(100), an injection current modulation circuit(108), an optical coupler(104), a plurality of optical fiber brag lattice sensor arrays(107), an optical spectrometer(101), a digital signal processing unit(102), and a control and signal processing unit(103). The light source uses a light source of a broad band. The injection current modulation circuit modulates the current of the light source for generating optical pulses into a direct pulse form, thereby injecting the same. The optical coupler constitutes an optical passage of optical pulses output from the light source as a multi-channel of a parallel configuration. The optical fiber brag lattice sensor array measures a length delay optical fiber and physical quantity for generating time delays per each channel of the optical coupler. The optical spectrometer measure an optical spectrum being incident to the brag lattice sensor arrays of the channel and reflected at a high speed. The digital signal processing unit converts analog optical signals being output from the optical spectrometer into digital signals. The control and signal processing unit analyzes spectrum signals of the optical fiber brag lattice sensor arrays connected to each channel, thereby measuring the physical quantity. [Reference numerals] (100) Light source; (101) Optical spectrometer; (102) Digital signal processing unit; (103) Control and signal processing unit; (108) Injection current modulation circuit; (AA) Lights reflected from a optical fiber brag lattice; (BB) Optical refraction lattice; (CC) Analog->digital signal convertor; (DD) Mirror; (EE) Light current->voltage conversion amplifier; (FF) Optical reception diode
摘要翻译：目的：提供一种光谱仪基座的多通道高速物理量测量系统，通过使用不受电子波影响的光线，通过多根光纤布拉格阵列传感器阵列测量物理量。构成：光谱仪基座的多通道高速物理量测量系统包括光源（100），注入电流调制电路（108），光耦合器（104），多个光纤布拉格晶格传感器阵列（107），光谱仪（101），数字信号处理单元（102）和控制信号处理单元（103）。光源使用宽带的光源。注入电流调制电路将用于产生光脉冲的光源的电流调制成直接脉冲形式，从而将其注入。光耦合器构成从光源输出的作为并行配置的多通道的光脉冲的光通路。光纤布拉格格式传感器阵列测量长度延迟光纤和物理量，以产生每个光耦合器的每个通道的时间延迟。光谱仪测量入射到通道的布拉格晶格传感器阵列并以高速反射的光谱。数字信号处理单元将从光谱仪输出的模拟光信号转换为数字信号。控制和信号处理单元分析连接到每个通道的光纤布拉格点阵传感器阵列的频谱信号，从而测量物理量。（附图标记）（100）光源; （101）光谱仪; （102）数字信号处理单元; （103）控制和信号处理单元; （108）注入电流调制电路; （AA）从光纤布拉格格子反射的光; （BB）光折射晶格; （CC）模拟 - >数字信号转换器; （DD）镜; （EE）电流 - >电压转换放大器; （FF）光接收二极管

8. 发明公开

KR1020060011419A 복굴절 측정 장치 및 그 방법 有权
标题翻译：用于测量双向性的方法及其方法
公开(公告)号：KR1020060011419A
公开(公告)日：2006-02-03
申请号：KR1020040060263
申请日：2004-07-30
申请人： (주)파이버프로
发明人： 정호진 , 이봉완
IPC分类号： G01J4/00
摘要： 본 발명은 광학 물질의 복굴절 특성을 측정하는 장치 및 그 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다. 본 발명은 측정하고자 하는 광학 물질에 원편광을 입사시키고 광학 물질을 통과한 빛을 45도 방향으로 정렬된 QWP(Quarter Wave Plate)에 통과시키고 0도 방향으로 정렬된 PEM(Photo-Elastic Modulator)을 사용하여 편광을 변조한다. 변조된 빛을 서로 수직한 두 선편광 성분으로 분할하는 편광 분할기에 통과시키고 분할된 두 빛을 각각 광 검출기로 검출한 후 이를 신호 처리하여 광학 물질의 복굴절 특성을 측정한다.

9. 发明公开

KR1019990070552A 광섬유 편광스크램블러 및 그 구동 파라미터 입력방법 有权
公开(公告)号：KR1019990070552A
公开(公告)日：1999-09-15
申请号：KR1019980005470
申请日：1998-02-21
申请人： (주)파이버프로
发明人： 이봉완 , 고연완 , 여영배 , 김병윤
IPC分类号： G02B5/30
摘要： 적어도 2개 이상의 광섬유 복굴절 변조기들을 이용하여 효율적으로 출력광의 편광도를 낮추어 주는 광섬유 편광스크램블러 및 그 구동파라미터 입력방법에 관해 개시하고 있다. 본 발명에서는 광섬유 편광스크램블러를 구성하는 복굴절변조기 사이의 각도가 원형복굴절의 영향을 보상할 수 있도록 설정되며, 이러한 광섬유 편광스크램블러를 구동함에 있어서, 복굴절 변조주파수 및 복굴절 변조진폭을 정확히 설정하는 방법을 제시함으로써 효율적인 편광스크램블링 효과를 얻을 수 있다.

10. 发明授权

KR101452931B1 비 접촉식 물리량 측정 시스템 有权
标题翻译：非接触式测量物理量
公开(公告)号：KR101452931B1
公开(公告)日：2014-10-21
申请号：KR1020120036548
申请日：2012-04-09
申请人： (주)파이버프로
发明人： 서민성 , 이봉완 , 전상배
IPC分类号： G01B11/06 , G01B9/02
摘要： 본 발명은 비 접촉식 물리량 측정시스템에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 파장 가변형 광원;과, 상기 파장 가변형 광원으로부터 출력된 빛이 수직으로 입사되고, 빛에 대해 투과 특성을 가지며 평탄하게 가공된 광학 매질;과, 광학매질에 수직으로 입사된 파장 가변형 광원이 광학매질의 입사면에서 반사된 빛과, 출력면에서 반사된 빛의 간섭에 의한 광신호의 세기변화를 측정하는 광 검출기;와, 상기 광검출기에서 측정한 광신호 세기변화를 검출하여, 광학매질 입사면 반사광과 광학매질 출력면 반사광 사이의 간섭 스펙트럼을 측정하는 신호검출부;를 포함하여 구성함으로써, 광학 매질의 두께를 접촉 없이 측정하는 것을 특징으로 하는 비 접촉식 물리량 측정시스템에 관한 것이다.

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