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    • 5. 发明申请
    • 반사 계수 검출을 위한 방법 및 장치
    • WO2022158845A1
    • 2022-07-28
    • PCT/KR2022/000974
    • 2022-01-19
    • 삼성전자 주식회사포항공과대학교 산학협력단
    • 박현철송호진김용훈양성기최승욱이승훈
    • G01R23/06G01R19/25G01R19/00G01R23/165G01R23/00
    • 본 개시(disclosure)는 LTE(Long Term Evolution)와 같은 4G(4th generation) 통신 시스템 이후 보다 높은 데이터 전송률을 지원하기 위한 5G(5th generation) 또는 pre-5G 통신 시스템에 관련된 것이다. 본 개시의 다양한 실시 예들에 따르면, 무선 통신 시스템에서 전자 장치의 반사 계수(reflection coefficient)를 검출(detecting)하는 회로는, 적어도 하나의 프로세서(processor), 복수의 ADC(analog to digital converter)들, 복수의 RF 소자들 및 제1 전송 선로, 제2 전송 선로 및 제3 전송 선로를 포함하는 복수의 전송 선로들을 포함하고, 상기 복수의 ADC들, 상기 복수의 RF 소자들 및 상기 복수의 전송 선로들은 각각 대응하여 서로 연결되고, 상기 복수의 ADC들은 상기 적어도 하나의 프로세서에 연결되고, 상기 제1 전송 선로는 상기 전자 장치의 전송 선로와 일정 거리 이격되어 배치되어 상기 전송 선로의 제1 지점에서 전기적으로 연결되고, 상기 제2 전송 선로는 상기 전송 선로와 일정 거리 이격되어 배치되어 상기 전송 선로의 제2 지점에서 전기적으로 연결되고, 상기 제3 전송 선로는 상기 전송 선로와 일정 거리 이격되어 배치되어 상기 전송 선로의 제3 지점에서 전기적으로 연결되고, 상기 제1 지점은 상기 제2 지점으로부터 제1 길이만큼 이격되고, 상기 제3 지점은 상기 제2 지점으로부터 제2 길이만큼 이격될 수 있다.