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1. 发明专利

KR102236309B1 KR102236309B1 - Method for evaluating residual solvent of polymer film 有权
公开(公告)号：KR102236309B1
公开(公告)日：2021-04-02
申请号：KR1020210016823A
申请日：2021-02-05
申请人： 주식회사 엘지화학
发明人： 김지은 , 이종근 , 박원찬 , 권인혜 , 이정용 , 김승하 , 김선형
IPC分类号： G01N33/00 , C08J5/18 , G01N33/44 , G06F17/11
CPC分类号： G01N33/00 , C08J5/18 , G01N33/442 , G06F17/11 , G01N2033/009
摘要： 본 발명은 혼합용매의 승온열량, 소요열량 및 증기압등의 요소로 구성된 식 1을 이용하여 계산된 결과값인 RS-Score(Residual Solvent Score)를 기준으로 고분자 필름의 내구성에 영향을 미치는 잔류 용매의 함량에 대한 수준을 분류할 수 있는 고분자 필름의 잔류 용매 평가방법을 제공한다. 이러한 평가방법은 고분자 필름에 사용되는 혼합용매에 대한 최적의 조성비를 개발하는 데 있어 다양한 조성비율을 갖는 혼합용매로 제조된 고분자 필름의 잔류 용매량을 직접 분석하지 않고도 잔류 용매의 함량을 예측할 수 있어 최적의 혼합용매를 개발하는 데 따르는 시간과 비용을 절약할 수 있다.
[식 1]
RS-Score=c
1 [log(Mi*Ni)]+ c
1 log(c
2 *c
3 )
상기 식 1에 있어서, c
1 , c
2 , c
3 , Mi, Ni는 상세한 설명에 정의된 것과 동일하다.

2. 发明申请

WO2018124664A1 마이크로 전기 소자의 전사 방법 审中-公开
公开(公告)号：WO2018124664A1
公开(公告)日：2018-07-05
申请号：PCT/KR2017/015381
申请日：2017-12-22
申请人： 주식회사 엘지화학
发明人： 이성경 , 손세환 , 이종근
IPC分类号： H01L33/00 , G03F7/20 , G03F7/075
CPC分类号： G03F7/075 , G03F7/20 , H01L33/00
摘要： 본 발명은, 웨이퍼의 일면에 형성된 복수개의 소자칩을 광투광성 기재와 상기 광투광성 기재 상에 형성된 접착층을 포함하는 제1접착 필름의 접착층으로 전사하는 단계; 상기 제1접착 필름의 광투과성 기재를 통하여 상기 복수개의 소자칩이 전사된 접착층의 다른 일면을 선택적으로 노광하는 단계; 및 제1접착 필름 상의 복수개의 소자칩을 광투광성 기재와 상기 광투광성 기재 상에 형성된 접착층을 포함하는 제2접착 필름의 접착층과 접촉시켜 선택적으로 전사하는 단계; 를 포함하며, 상기 소자칩에 대한 상기 제 1접착 필름의 접착층의 비노광부가 갖는 접착력이 상기소자칩에 대한 상기 제 2접착 필름의 접착층의 접착력 보다 크며, 상기 소자칩에 대한 상기 제1접착 필름의 접착층의 노광부가 갖는 접착력이 상기 소자칩에 대한 상기 제2접착 필름의 접착층의 접착력 보다 작은 마이크로 전기 소자의 전사 방법에 관한 것이다.

3. 发明授权

KR101440975B1 색차 분석을 이용한 편광판 얼룩 자동 검사 장치 有权
标题翻译：使用色差分析在偏光板上进行染色的自动检查装置
公开(公告)号：KR101440975B1
公开(公告)日：2014-09-18
申请号：KR1020110040371
申请日：2011-04-28
申请人： 주식회사 엘지화학
发明人： 이종근 , 나균일 , 김태훈 , 이유민 , 이상덕
IPC分类号： G01N21/94 , G01M11/00
摘要： 본 발명은 색차 분석을 이용한 편광판 얼룩 자동 검사 장치에 관한 것으로, 적어도 1장의 기준 편광판 및 상기 기준 편광판에 장착되는 피검사 편광판 또는 편광 소자를 포함하는 검사부; 상기 검사부의 일면에 위치하며, 상기 검사부에 광을 조사하는 광원부; 상기 검사부의 다른 면에 위치하며, 상기 피검사 편광판 또는 편광소자를 촬영하고, 그 화상을 연산부로 전송하는 촬영부; 및 상기 촬영부에서 전송된 피검사 편광판 또는 편광 소자의 화상을 검사영역 별로 색차 분석하여 미세 얼룩을 검출하고 및 상기 미세 얼룩의 정도를 수치 데이터로 정량화하는 연산부를 포함하는 것을 특징으로 한다.

4. 发明公开

KR1020120122300A 색차 분석을 이용한 편광판 얼룩 자동 검사방법 有权
标题翻译：使用色差分析对偏光板染色的自动检查方法
公开(公告)号：KR1020120122300A
公开(公告)日：2012-11-07
申请号：KR1020110040370
申请日：2011-04-28
申请人： 주식회사 엘지화학
发明人： 이종근 , 나균일
IPC分类号： G01N21/94 , G01M11/00 , G01N21/25
摘要： PURPOSE: A method for automatically inspecting for smudges on a polarizing plate by using color difference analysis is provided to monitor a smudge extent of a polarizing plate in real time in a producing line, thereby enhancing quality management and reducing manufacturing time. CONSTITUTION: A method for automatically inspecting for smudges on a polarizing plate by using color difference analysis is as follows: An inspection polarizing plate or a polarization device is mounted on one or more reference polarizing plates(S100). Lights are irradiated on the inspection polarizing plate or polarization device(S200). The inspection polarizing plate or polarization device are photographed(S300). Color differences of each pixel are calculated by using data extracted from the photographed images. The extent of a smudge is digitized by using the calculated color difference data(S470). [Reference numerals] (S100) Mounting an inspection polarizing plate; (S200) Irradiating lights; (S300) Photographing an inspection polarizing plate; (S400) Quantification of a smudge; (S410) Extraction RGB data and location data; (S420) Data processing; (S421) Converting RGB data into color data, chroma data, and brightness data; (S422) Histogram-equalization processing by extracting brightness data; (S423) Re-converting color data, chroma data, and histogram-equalization processed brightness data into RGB data; (S430) Setting a minute inspection region by using location data; (S440) Chrominance measurement; (S450) Equalization chrominance data with respect to a longitudinal direction; (S460) Calculating amplitude variations on chrominance; (S470) Digitalizing the extent of a smudge
摘要翻译：目的：通过使用色差分析自动检查偏光板上的污迹，可以在生产线上实时监控偏光板的污迹程度，从而提高质量管理，缩短制造时间。构成：通过使用色差分析自动检查偏光板上的污迹的方法如下：在一个或多个参考偏光板上安装检查偏光板或偏振装置（S100）。光照射在检查偏光板或偏光装置上（S200）。拍摄检查偏光板或偏光装置（S300）。通过使用从拍摄图像提取的数据来计算每个像素的色差。通过使用计算的色差数据对涂抹的程度进行数字化（S470）。（附图标记）（S100）安装检查偏光板; （S200）照明灯; （S300）拍摄检查偏光板; （S400）涂抹量化; （S410）提取RGB数据和位置数据; （S420）数据处理; （S421）将RGB数据转换为彩色数据，色度数据和亮度数据; （S422）提取亮度数据的直方图均衡处理; （S423）将颜色数据，色度数据和直方图均衡处理的亮度数据重新转换为RGB数据; （S430）使用位置数据设定分检区域; （S440）色度测量; （S450）相对于纵向的均衡色度数据; （S460）计算色度上的振幅变化; （S470）数字化涂抹的程度

5. 发明授权

KR100735458B1 메틸아세테이트를 용매로 포함하는 접착제 조성물 有权
标题翻译：包含乙酸甲酯作为溶剂的粘合剂组合物
公开(公告)号：KR100735458B1
公开(公告)日：2007-07-03
申请号：KR1020050020098
申请日：2005-03-10
申请人： 주식회사 엘지화학
发明人： 전상기 , 장석기 , 이종근 , 서창욱
IPC分类号： C09J175/04
摘要： 본 발명은 메틸아세테이트를 용매로 사용한 새로운 친환경 접착제 조성물에 관한 것으로서, 특히 기존접착제에 사용하는 유해한 휘발성 유기용매가 아닌 인체에 무해하며, 저비점의 메틸아세테이트를 용매로 하는 접착제 조성물에 관한 것이다.
아세톤과 동일한 정도의 저비점을 갖는 메틸아세테이트를 용매로 사용함으로써 공정 중의 건조속도를 높이고, 아조트로픽 현상(azotropic phenomenon)을 통해서 제품에서 잔류할 수 있는 총휘발성유기화합물(TVOC ; Total Volatile Organic compound)을 함께 휘발시키므로써 제품의 생산성과 친환경성을 크게 향상시킬 수 있다.
친환경 접착제, 메틸아세테이트, 휘발성 유기용매, 기재, 라미네이팅 시트(화장시트)

6. 发明公开

KR1020210018395A 고분자 필름의 잔류 용매 평가방법 有权
公开(公告)号：KR1020210018395A
公开(公告)日：2021-02-17
申请号：KR1020210016823
申请日：2021-02-05
申请人： 주식회사 엘지화학
发明人： 김지은 , 이종근 , 박원찬 , 권인혜 , 이정용 , 김승하 , 김선형
IPC分类号： G01N33/00 , G06F17/11 , G01N33/44 , C08J5/18
摘要： 본발명은혼합용매의승온열량, 소요열량및 증기압등의요소로구성된식 1을이용하여계산된결과값인 RS-Score(Residual Solvent Score)를기준으로고분자필름의내구성에영향을미치는잔류용매의함량에대한수준을분류할수 있는고분자필름의잔류용매평가방법을제공한다. 이러한평가방법은고분자필름에사용되는혼합용매에대한최적의조성비를개발하는데 있어다양한조성비율을갖는혼합용매로제조된고분자필름의잔류용매량을직접분석하지않고도잔류용매의함량을예측할수 있어최적의혼합용매를개발하는데 따르는시간과비용을절약할수 있다. [식 1] RS-Score=c1[log(Mi*Ni)]+ c1log(c2*c3) 상기식 1에있어서, c1, c2, c3, Mi, Ni는상세한설명에정의된것과동일하다.

7. 发明授权

KR101440974B1 색차 분석을 이용한 편광판 얼룩 자동 검사방법 有权
标题翻译：使用色差分析对偏光板染色的自动检查方法
公开(公告)号：KR101440974B1
公开(公告)日：2014-09-17
申请号：KR1020110040370
申请日：2011-04-28
申请人： 주식회사 엘지화학
发明人： 이종근 , 나균일
IPC分类号： G01N21/94 , G01M11/00 , G01N21/25
摘要： 본 발명은 색차 분석을 이용한 편광판 얼룩자동 검사 방법에 관한 것으로, (a) 적어도 1장의 기준 편광판에 피검사 편광판 또는 편광소자를 장착하는 단계; (b) 상기 피검사 편광판 또는 편광소자에 광을 조사하는 단계; (c) 상기 피검사 편광판 또는 편광소자를 촬영하는 단계; 및 (d) 상기 (c) 단계에서 촬영된 화상으로부터 추출된 데이터를 이용하여 각 화소의 색차를 연산하고, 상기 연산된 색차 데이터를 이용하여 얼룩의 정도를 수치화하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.

8. 发明授权

KR102236309B1 고분자 필름의 잔류 용매 평가방법 有权
公开(公告)号：KR102236309B1
公开(公告)日：2021-04-02
申请号：KR1020210016823
申请日：2021-02-05
申请人： 주식회사 엘지화학
发明人： 김지은 , 이종근 , 박원찬 , 권인혜 , 이정용 , 김승하 , 김선형
IPC分类号： G01N33/00 , G06F17/11 , G01N33/44 , C08J5/18
摘要： 본발명은혼합용매의승온열량, 소요열량및 증기압등의요소로구성된식 1을이용하여계산된결과값인 RS-Score(Residual Solvent Score)를기준으로고분자필름의내구성에영향을미치는잔류용매의함량에대한수준을분류할수 있는고분자필름의잔류용매평가방법을제공한다. 이러한평가방법은고분자필름에사용되는혼합용매에대한최적의조성비를개발하는데 있어다양한조성비율을갖는혼합용매로제조된고분자필름의잔류용매량을직접분석하지않고도잔류용매의함량을예측할수 있어최적의혼합용매를개발하는데 따르는시간과비용을절약할수 있다. [식 1] RS-Score=c1[log(Mi*Ni)]+ c1log(c2*c3) 상기식 1에있어서, c1, c2, c3, Mi, Ni는상세한설명에정의된것과동일하다.

9. 发明公开

KR1020060099084A 메틸아세테이트를 용매로 포함하는 접착제 조성물 有权
标题翻译：包含乙酸甲酯作为溶剂的粘合组合物
公开(公告)号：KR1020060099084A
公开(公告)日：2006-09-19
申请号：KR1020050020098
申请日：2005-03-10
申请人： 주식회사 엘지화학
发明人： 전상기 , 장석기 , 이종근 , 서창욱
IPC分类号： C09J175/04
CPC分类号： C09J175/06 , C08G18/28 , C09J9/00
摘要： 본 발명은 메틸아세테이트를 용매로 사용한 새로운 친환경 접착제 조성물에 관한 것으로서, 특히 기존접착제에 사용하는 유해한 휘발성 유기용매가 아닌 인체에 무해하며, 저비점의 메틸아세테이트를 용매로 하는 접착제 조성물에 관한 것이다.
아세톤과 동일한 정도의 저비점을 갖는 메틸아세테이트를 용매로 사용함으로써 공정 중의 건조속도를 높이고, 아조트로픽 현상(azotropic phenomenon)을 통해서 제품에서 잔류할 수 있는 총휘발성유기화합물(TVOC ; Total Volatile Organic compound)을 함께 휘발시키므로써 제품의 생산성과 친환경성을 크게 향상시킬 수 있다.
친환경 접착제, 메틸아세테이트, 휘발성 유기용매, 기재, 라미네이팅 시트(화장시트)

10. 发明公开

KR1020120122301A 색차 분석을 이용한 편광판 얼룩 자동 검사 장치 有权
标题翻译：使用色差分析在偏光板上进行染色的自动检查装置
公开(公告)号：KR1020120122301A
公开(公告)日：2012-11-07
申请号：KR1020110040371
申请日：2011-04-28
申请人： 주식회사 엘지화학
发明人： 이종근 , 나균일 , 김태훈 , 이유민 , 이상덕
IPC分类号： G01N21/94 , G01M11/00
CPC分类号： G01N21/94 , G01N21/958 , G02F1/1309
摘要： PURPOSE: A method for automatically inspecting a smudge on a polarizing plate by using a color difference analysis is provided to enhance a quality managing ability, to reduce manufacturing time, and to improve producing efficiency. CONSTITUTION: A method for automatically inspecting a smudge on a polarizing plate by using a color difference analysis comprises an inspection unit(40), a light source unit(10), a photographing unit(50), and an computing unit(60). The inspection unit comprises one or more reference polarizing plates(20) and an inspection polarizing plate or polarization device(30). The inspection polarizing plate is mounted on one or more reference polarizing plates. The light source unit is arranged on a surface of the inspection unit and irradiates lights on the inspection unit. The photographing unit is arranged on the other surface of the inspection unit and photographs the inspection polarizing plate or polarization device and transmits images thereof to the computation unit. The computation unit analyzes color differences of the transmitted images of the inspection polarizing plate or polarization device per each inspection region, thereby detecting the minute smudge and quantifying the same as a numeric data.
摘要翻译：目的：提供通过使用色差分析自动检查偏光板上的污迹的方法，以提高质量管理能力，减少制造时间，提高生产效率。构成：通过使用色差分析自动检查偏振片上的污迹的方法包括检查单元（40），光源单元（10），拍摄单元（50）和计算单元（60）。检查单元包括一个或多个参考偏振片（20）和检查偏振片或偏振装置（30）。检查偏光板安装在一个或多个参考偏振片上。光源单元布置在检查单元的表面上并照射检查单元上的灯。拍摄单元布置在检查单元的另一个表面上，并且对该检偏光板或偏光装置进行拍摄，并将图像发送到计算单元。计算单元分析每个检查区域的检查偏光板或偏光装置的透射图像的色差，从而检测微小污迹并将其量化为数值数据。

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