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1. 发明授权

KR100836832B1 전자부품의 외관 검사장치 有权
标题翻译：用于检测电子部件外观的装置
公开(公告)号：KR100836832B1
公开(公告)日：2008-06-11
申请号：KR1020060111085
申请日：2006-11-10
申请人： 윈텍 주식회사
发明人： 김동현 , 김진석 , 김상현 , 김인용 , 김기창
IPC分类号： G01N21/88 , H05K13/08 , G01R31/26
摘要： 본 발명에 따르면, 전자부품을 공급시키는 피더유닛과; 이 피더유닛으로부터 공급된 전자부품을 수용하여 외관 검사위치로 이송시키는 이송유닛과; 이 이송유닛의 하부에 배치되어 이송유닛에 수용된 전자부품의 위치를 감지하는 위치검출부와; 이송유닛에 의해 검사위치로 이송된 전자부품을 촬영하는 촬영부와; 이 촬영부로부터 이동된 전자부품을 그 상태에 따라 분류하여 외부로 방출시키는 배출유닛; 및 피더유닛이 이송유닛으로 적정량의 전자부품을 공급하도록 제어하고, 위치검출부로부터 감지된 전자부품의 위치정보를 이용하여 해당 전자부품이 검사위치에 도달하면 촬영부가 전자부품을 촬영하도록 제어하며, 촬영부로부터 촬영된 전자부품의 영상에 근거하여 전자부품의 양부 판정을 수행한 후, 판정된 결과에 따라서 배출부가 전자부품을 분류하여 배출시키도록 제어하는 제어부를 포함하는 전자부품의 외관 검사장치가 제공된다. 개시된 전자부품의 외관 검사장치에 따르면, 다수의 수용홀이 형성된 휠을 이용하여 많은 양의 전자부품을 신속히 처리할 수 있으며, 중간 단계인 소성 전의 전자부품을 일면만을 검사함으로 인해 검사 처리 속도의 향상을 기할 수 있는 장점이 있다.
전자부품, 검사, 외관

2. 发明公开

KR1020070050851A 전자부품의 외관 검사장치 有权
标题翻译：用于检测电子部件的装置的装置
公开(公告)号：KR1020070050851A
公开(公告)日：2007-05-16
申请号：KR1020060111085
申请日：2006-11-10
申请人： 윈텍 주식회사
发明人： 김동현 , 김진석 , 김상현 , 김인용 , 김기창
IPC分类号： G01N21/88 , H05K13/08 , G01R31/26
摘要： 본 발명에 따르면, 전자부품을 공급시키는 피더유닛과; 이 피더유닛으로부터 공급된 전자부품을 수용하여 외관 검사위치로 이송시키는 이송유닛과; 이 이송유닛의 하부에 배치되어 이송유닛에 수용된 전자부품의 위치를 감지하는 위치검출부와; 이송유닛에 의해 검사위치로 이송된 전자부품을 촬영하는 촬영부와; 이 촬영부로부터 이동된 전자부품을 그 상태에 따라 분류하여 외부로 방출시키는 배출유닛; 및 피더유닛이 이송유닛으로 적정량의 전자부품을 공급하도록 제어하고, 위치검출부로부터 감지된 전자부품의 위치정보를 이용하여 해당 전자부품이 검사위치에 도달하면 촬영부가 전자부품을 촬영하도록 제어하며, 촬영부로부터 촬영된 전자부품의 영상에 근거하여 전자부품의 양부 판정을 수행한 후, 판정된 결과에 따라서 배출부가 전자부품을 분류하여 배출시키도록 제어하는 제어부를 포함하는 전자부품의 외관 검사장치가 제공된다. 개시된 전자부품의 외관 검사장치에 따르면, 다수의 수용홀이 형성된 휠을 이용하여 많은 양의 전자부품을 신속히 처리할 수 있으며, 중간 단계인 소성 전의 전자부품을 일면만을 검사함으로 인해 검사 처리 속도의 향상을 기할 수 있는 장점이 있다.
전자부품, 검사, 외관

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