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热词
    • 4. 发明公开
    • 안티 퓨즈 어레이 구조
    • 反制阵列架构
    • KR1020150087540A
    • 2015-07-30
    • KR1020140007621
    • 2014-01-22
    • 에스케이하이닉스 주식회사
    • 정재홍
    • H01L21/82
    • G11C17/16H01L23/5252H01L2924/0002H01L2924/00
    • 프로그램여부에따라단락여부가결정되는프로그램트랜지스터를포함하고, 비트라인과상기프로그램트랜지스터에연결되어상기프로그램트랜지스터의단락여부를각각상기비트라인으로출력하는리드트랜지스터로구성되는안티퓨즈에서, 반도체기판내에제1 방향으로형성된활성영역; 상기활성영역상에형성되고상기비트라인과접속된비트라인콘택부; 상기프로그램트랜지스터상에구비되며, 상기활성영역내에전체또는일부가매립되어형성되는프로그램게이트전극;및상기리드트랜지스터상에구비되며, 상기프로그램게이트전극과상기비트라인콘택부사이에형성되는리드게이트전극을포함하는안티퓨즈가제공되며, 활성영역내에매립되는게이트구조로형성하여다수의안티퓨즈가어레이형태로구성되는안티퓨즈어레이의면적을줄일수 있다.
    • 在包括程序晶体管可以由程序短路或不短路的反熔丝中,并且包括连接到编程晶体管并将编程晶体管的短路输出到位线的引线晶体管,反熔丝包括有源区,其中 在半导体中沿第一方向形成; 位线接触部分,形成在有源区上并连接到位线; 编程栅电极,其形成在编程晶体管上,并部分地或完全埋在有源区中; 以及形成在引线晶体管上并形成在编程栅电极和位线接触部之间的引线栅电极。 可以减少反熔丝阵列的区域,其中反熔丝形成有埋在有源区中以形成阵列形状的栅极结构。
    • 5. 发明公开
    • MOS 트랜지스터를 포함하는 반도체 장치
    • 半导体器件包括MOS晶体管
    • KR1020120051919A
    • 2012-05-23
    • KR1020100113291
    • 2010-11-15
    • 에스케이하이닉스 주식회사
    • 정재홍
    • H01L27/085H01L29/78
    • H01L29/6681H01L27/0207H01L27/085
    • PURPOSE: A semiconductor device which includes a metal oxide semiconductor transistor is provided to change the shape of a gate of the transistor which has a biggest line width within a dummy pattern, thereby preventing collapse or deformation of a transistor pattern which has a small gate line width. CONSTITUTION: A gate line width(L21) of a first MOS(Metal Oxide Semiconductor) transistor(T21) is formed smaller than a gate line width(L20) of a second MOS transistor(T22). First and second MOS transistors respectively include first and second active regions(220,240). The first MOS transistor comprises a pair of first sources and a first drain(S21,D21). The first source and the first drain are electrically connected to a data input/output line by contacts(222,224) which are respectively formed on the first source and the first drain. The second MOS transistor comprises a pair of second sources and a second drain(S22,D22).
    • 目的:提供一种包括金属氧化物半导体晶体管的半导体器件,以改变在虚设图形内具有最大线宽的晶体管的栅极形状,从而防止具有小栅极线的晶体管图案的崩溃或变形 宽度。 构成:第一MOS(金属氧化物半导体)晶体管(T21)的栅极线宽度(L21)形成为小于第二MOS晶体管(T22)的栅极线宽度(L20)。 第一和第二MOS晶体管分别包括第一和第二有源区(220,240)。 第一MOS晶体管包括一对第一源极和第一漏极(S21,D21)。 第一源极和第一漏极通过分别形成在第一源极和第一漏极上的触点(222,224)电连接到数据输入/输出线。 第二MOS晶体管包括一对第二源极和第二漏极(S22,D22)。
    • 6. 发明公开
    • 반도체 소자
    • 半导体器件
    • KR1020110076503A
    • 2011-07-06
    • KR1020090133242
    • 2009-12-29
    • 에스케이하이닉스 주식회사
    • 정재홍
    • H01L21/336H01L29/78
    • H01L29/4232H01L21/02225H01L21/108H01L29/78696
    • PURPOSE: A semiconductor device is provided to alleviate a hot electron induced punchthrough phenomenon and form an element isolating film, the active region of a substrate, and a gate line crossing the element isolating film and the active region. CONSTITUTION: An element isolating film(10) and the active region(20) of a substrate are prepared. The element isolating film defines the active region. A part of the surface edge of the active region adjacent to the element isolating film is curved. A gate line(40) crosses the element isolating film and the active region. One of a convexed pattern, a concaved pattern, and corrugated pattern is formed on the curved part of the active region. A gate insulating film is further interposed between the active region and the gate line.
    • 目的:提供半导体器件以减轻热电子引发的穿透现象,并形成元件隔离膜,衬底的有源区和与元件隔离膜和有源区交叉的栅极线。 构成:制备元件隔离膜(10)和基底的有源区(20)。 元件隔离膜限定有源区。 与元件隔离膜相邻的有源区的表面边缘的一部分是弯曲的。 栅极线(40)穿过元件隔离膜和有源区。 在有源区域的弯曲部分上形成凸起图案,凹形图案和波纹图案中的一个。 栅极绝缘膜进一步插入有源区和栅极线之间。
    • 8. 发明公开
    • 고체 촬상 소자 및 그 제조방법
    • 固态成像装置及其制造方法
    • KR1019990081430A
    • 1999-11-15
    • KR1019980015368
    • 1998-04-29
    • 에스케이하이닉스 주식회사
    • 박윤상정재홍
    • H01L27/148
    • 본 발명은 제 1 폴리 게이트와 제 2 폴리 게이트간의 중첩 부분이 없도록하여 중첩부의 예리한 단부에 의한 손상과 제 1 폴리 게이트와 제 2 폴리 게이트간의 내압을 낮출 수 있도록 함으로써 고집적 화소를 제작할 수 있도록 한 고체 촬상 소자 및 그 제조방법에 관한 것으로서, 반도체 기판과, 상기 반도체 기판의 표면내에 형성되는 반대 도전형의 웰 영역과, 상기 웰 영역의 표면에 형성되는 BCCD 영역과, 상기 BCCD 영역의 상측에 일정한 간격을 갖고 스트립 라인 형태로 형성되는 복수개의 제 1 폴리 게이트들과, 상기 제 1 폴리 게이트들과 일정한 간격을 갖으면서 제 1 폴리 게이트들 사이에 형성되는 복수개의 제 2 폴리 게이트들과, 그리고 상기 각 제 1 폴리 게이트 및 제 2 폴리 게이트의 일정영역에 매트릭스 형태로 형성되는 복수개의 광전 변환 영역들� �� 포함하여 구성됨을 특징으로 한다.