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1. 发明公开

KR1020140108712A 투명 기판 내의 결함을 검출하기 위한 조명 시스템 및 상기 조명 시스템을 포함하는 검출 시스템 无效
标题翻译：用于检测透明基板中的缺陷的照明系统和包括其的检测系统
公开(公告)号：KR1020140108712A
公开(公告)日：2014-09-12
申请号：KR1020147021121
申请日：2011-12-31
申请人： 쌩-고벵 글래스 프랑스
发明人： 꾸오샤오펑 , 리후이펀 , 린샤오펑 , 쑨샤오웨이 , 떵원후아
IPC分类号： G01N21/958 , G01N21/896 , G01N21/01
CPC分类号： G01N21/8806 , F21K9/27 , F21Y2103/10 , F21Y2115/10 , G01N21/896 , G01N21/958 , G01N2021/8816 , G01N2201/0633 , G01N2201/105
摘要： 본 발명은 거의 등방성인 조명을 제공하기 위한 조명 장치, 특히 투명한 기판 내의 결함을 검출하기 위한 조명 시스템, 및 상기 조명 시스템을 포함하는 검출 시스템에 관한 것이다. 본 발명의 실시예에 따르면, 바아 형상의 광원 리셉터클; 각각의 제1 광을 각각 방출하는 복수의 제1 스폿 광원 - 각각의 제1 광은 서로 실질적으로 평행하고, 제1 스폿 광원은 리셉터클의 길이방향을 따라서 스폿 광원의 제1 라인으로 배열됨 -; 및 각각의 제2 광을 각각 방출하는 복수의 제2 스폿 광원 - 각각의 제2 광은 서로 실질적으로 평행하고, 제2 스폿 광원은 리셉터클의 길이방향을 따라서 스폿 광원의 제2 라인으로 배열됨 - 을 포함하고, 스폿 광원의 제1 라인 및 스폿 광원의 제2 라인은 실질적으로 일렬로 배열되고, 스폿 광원의 제1 라인 및 스폿 광원의 제2 라인은 길이방향을 따라 리셉터클의 상이한 절반부 내에 위치되고, 제1 광 및 제2 광은 스캔 라인으로 수렴하고, 스캔 라인을 통과하고 투명 기판에 수직인 평면(P)에서, 스캔 라인 상의 각각의 지점에서 수렴된 제1 광 및 제2 광의 투영은, 상기 지점을 통과하고 스캔 라인에 수직인, 평면(P) 내의 라인의 상이한 측들에 위치되는 조명 시스템이 제공된다.

2. 发明公开

KR1020120094465A 낮은 강성을 갖는 분리된 투명 또는 반투명 물체용 결함 검사 장치 및 그의 검사 방법 无效
标题翻译：具有低刚度的分离和透明或透明物品的缺陷检查装置及其检测方法
公开(公告)号：KR1020120094465A
公开(公告)日：2012-08-24
申请号：KR1020127002792
申请日：2010-07-02
申请人： 쌩-고벵 글래스 프랑스
发明人： 린샤오펑 , 슈바이처쟝-필립 , 리후이펀 , 떵원후아 , 천하이펑 , 천따즈
IPC分类号： G01N21/958 , G01N21/90 , G01N21/88
CPC分类号： G01N21/958 , G01N21/9009 , G01N2021/8887
摘要： 분리된 낮은 강성의 투명 또는 반투명 물체를 이동시키기 위한 제1 이동부(102) 및 제2 이동부(104); 분리된 투명 또는 반투명 물체의 이동 경로 상에서 제1 이동부(102)와 제2 이동부(104) 사이에 설치되고 상부 표면을 갖는 투명 브릿지(106); 투명 브릿지(106)의 한 쪽에 설치되고 투명 브릿지(106)를 통해 투명 브릿지(106)의 상부 표면에 확산 광을 투사하는 조명 유닛(108); 및 투명 브릿지(106)의 다른 쪽에 설치되고, 조명 유닛(108)으로부터 투사되고 분리된 투명 또는 반투명 물체를 통해 투과하는 광을 수광하여 분리된 낮은 강성의 투명 또는 반투명 물체가 투명 브릿지(106)의 상부 표면에 도달할 때 이미지를 형성하는 이미지 픽업 유닛(110)을 포함하는 이미지 수집 장치(100)를 구비한, 분리된 낮은 강성의 투명 또는 반투명 물체의 결함 검사 장치(10)를 제공한다. 그의 검사 방법 또한 제공한다.

3. 发明授权

KR101934624B1 사출 성형 장치 有权
公开(公告)号：KR101934624B1
公开(公告)日：2019-01-02
申请号：KR1020167023356
申请日：2015-04-15
申请人： 쌩-고벵 글래스 프랑스
发明人： 장솨이 , 린샤오펑 , 리핑 , 쑨샤오웨이 , 자오샤오위
IPC分类号： B29C45/84 , B29C45/14 , B29K709/08 , B29L31/26 , B29L31/30

4. 发明公开

KR1020120018319A 투명한 기재의 결함을 검출하기 위한 방법 및 시스템 无效
标题翻译：检测透明基板缺陷的方法和系统
公开(公告)号：KR1020120018319A
公开(公告)日：2012-03-02
申请号：KR1020117027013
申请日：2010-05-14
申请人： 쌩-고벵 글래스 프랑스
发明人： 정위앤 , 슈바이처장-필립 , 린샤오펑 , 천따즈
IPC分类号： G01N21/896 , G01N21/88 , G06K9/00 , H04N7/18
CPC分类号： G01N21/896 , G01N21/88 , G01N2021/8825 , G06K9/00 , H04N7/18 , H04N7/181
摘要： 투명한 기재(120)의 결함을 검출하기 위한 방법 및 시스템이 개시된다. 상기 시스템은 기재(120)에 조명을 제공하기 위한 조명 컴포넌트(142, 144) 및 기재(120)를 주사하여 기재(120)의 영상을 제공하기 위한 영상화 컴포넌트(162, 164)를 각각 포함하는 복수의 검출채널; 기재(120)와 복수의 검출 채널에 포함된 조명 컴포넌트(142, 144) 및 영상화 컴포넌트(162, 164) 사이의 상대 이동을 생성하기 위한 운송 모듈(130); 및 복수의 검출 채널에 포함된 조명 컴포넌트(142, 144) 중 적어도 2개의 조명 컴포넌트가 교대로 기재(120)에 조명을 제공하고, 검출 채널에 포함된 조명 컴포넌트(142, 144)가 기재(120)를 조명할 때 임의의 복수의 검출 채널에 포함된 영상화 컴포넌트(142, 144)가 기재(120)를 주사하도록 복수의 검출 채널에 포함된 조명 컴포넌트(142, 144) 및 영상화 컴포넌트(162, 164)를 제어하는 데 사용되는 제어 모듈(190) (여기서, 복수의 검출 채널 중 적어도 2개의 검출 채널에 포함된 영상화 컴포넌트(162, 164)는 동일한 영상화 컴포넌트임)를 포함한다. 본 발명에 기재된 방법 및 시스템은 실제 결함과 허위 결함을 구별할 수 있으며, 기재를 세척하지 않고도 검사할 수 있다.

5. 发明公开

KR1020160113679A 사출 성형 장치 审中-实审
标题翻译：注射成型设备
公开(公告)号：KR1020160113679A
公开(公告)日：2016-09-30
申请号：KR1020167023356
申请日：2015-04-15
申请人： 쌩-고벵 글래스 프랑스
发明人： 장솨이 , 린샤오펑 , 리핑 , 쑨샤오웨이 , 자오샤오위
IPC分类号： B29C45/84 , B29C45/14 , B29K709/08 , B29L31/26 , B29L31/30
CPC分类号： B29C45/842 , B29C45/14778 , B29C45/768 , B29C2945/76163 , B29C2945/76461 , B29C2945/76464 , B29C2945/76471 , B29K2709/08 , B29L2031/26 , B29L2031/265 , B29L2031/3052
摘要： 본발명은유리의에지의둘레에개스킷을형성하기위한사출성형장치에관한것이다. 사출성형장치는사출성형다이(101, 201, 301, 401, 501)와, 사출성형다이의내부에배치되며그리고유리(105, 305, 505)를사출성형다이(101, 201, 301, 401, 501)의내부에고정하도록구성되는고정요소(102)와, 사출성형장치에장착되며그리고유리(105, 305, 505)의이미지또는진동을검출하도록구성되는검출유닛(103)과, 검출유닛(103)과커플링되며그리고검출유닛(103)의검출결과에기초하여유리파손여부를결정하도록구성되는결정유닛(104, 204, 306, 507)을포함한다. 사출성형장치는유리파손여부를결정함으로써유리파손에의한사출성형다이(101, 201, 301, 401, 501)의스크래칭위험이감소될수 있다. 따라서, 사출성형수율이향상될수 있고, 사출성형다이를보수하기위한시간이단축될수 있으며, 사출성형다이의수명이연장될수 있다.

6. 发明公开

KR1020120040257A 기판의 결함을 검출하고 분류하기 위한 방법 및 시스템 无效
标题翻译：用于检测和分类基板缺陷的方法和系统
公开(公告)号：KR1020120040257A
公开(公告)日：2012-04-26
申请号：KR1020127005244
申请日：2010-02-26
申请人： 쌩-고벵 글래스 프랑스
发明人： 슈바이처장-필립 , 리후이펀 , 린샤오펑 , 꾸오샤오펑 , 꾸오펑 , 쑨샤오웨이
IPC分类号： G01N21/896
CPC分类号： G01N21/896 , G01N2021/8967
摘要： 기판의 결함을 검출하고 분류하기 위한 방법 및 시스템이 제공된다. 이 시스템은, 투명 또는 반투명 기판(260)에 광을 조사하도록 구성되는 제1 조명 유닛(210)과 제1 조명 유닛(210)이 기판(260)에 광을 조사할 때 기판(260)으로부터 광을 감지함으로써 이미지를 촬영하도록 구성되는 제1 이미지형성 유닛(220)을 포함하는 제1 채널; 기판(260)에 광을 조사하도록 구성되는 제2 조명 유닛(210)과 제2 조명 유닛(210)이 기판(260)에 광을 조사할 때 기판(260)으로부터 광을 감지함으로써 이미지를 촬영하도록 구성되는 제2 이미지형성 유닛(230)을 포함하는 제2 채널; 각각 제1 이미지형성 유닛(220)에 의해 촬영된 이미지와 제2 이미지형성 유닛(230)에 의해 촬영된 이미지를 사용하여 기판(260)의 두 이미지를 구성하도록 구성되는 이미지 구성 모듈(240); 및 기판(260)이 결함을 가질 경우, 기판(260)의 결함이 기판(260)의 두 이미지에서 나타나는 위치의 관계에 기초하여, 결함이 기판(260) 상에 있는지 또는 기판(260) 내에 있는지를 검출하도록 구성되는 이미지 처리 모듈(250)을 포함한다. 이 방법 및 시스템을 사용함으로써, 투명 또는 반투명 기판(260)이 결함을 갖는지가 검출되고 분류될 수 있다.

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