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    • 4. 发明公开
    • 반도체 소자 및 이의 제조 방법
    • 半导体器件及其制造方法
    • KR1020160012883A
    • 2016-02-03
    • KR1020150016179
    • 2015-02-02
    • 삼성전자주식회사
    • 도정호백상훈오상규천관영박선영송태중
    • H01L27/092H01L21/8238
    • H01L27/0922H01L21/8238
    • 본발명은전계효과트랜지스터를포함하는반도체소자의제조방법에관한것으로, 보다구체적으로기판내에 PMOSFET 영역과 NMOSFET 영역을정의하는것; 제1 및제2 게이트전극들을형성하는것, 상기제1 및제2 게이트전극들은서로평행하게연장되면서상기 PMOSFET 영역과상기 NMOSFET 영역을가로지르고; 상기제1 및제2 게이트전극들을덮는층간절연막을형성하는것; 상기층간절연막을패터닝하여, 상기제1 게이트전극상에제1 서브콘택홀을형성하는것, 평면적관점에서상기제1 서브콘택홀은상기 PMOSFET 및 NMOSFET 영역들사이에위치하고; 및상기층간절연막을패터닝하여, 상기제2 게이트전극의상면을노출하는제1 게이트콘택홀을형성하는것을포함할수 있다. 이때, 상기제1 서브콘택홀 및상기제1 게이트콘택홀은서로연결되어하나의연통홀(communicating hole)을이룰수 있다.
    • 本发明涉及一种用于制造包括场效应晶体管的半导体器件的方法,具体包括以下步骤:在衬底中限定PMOSFET区域和NMOSFET区域; 形成第一和第二栅电极; 形成层间绝缘膜,所述层间绝缘膜具有与所述PMOSFET区域和所述NMOSFET区域交叉的所述第一和第二栅电极并行延伸并覆盖所述第一和第二栅电极; 通过图案化层间绝缘膜在第一栅电极上形成第一子接触孔; 以及通过对所述层间绝缘膜进行构图而形成暴露所述第二栅极电极的上表面的第一栅极接触孔,而所述第一子接触孔位于所述PMOSFET和NMOSFET区域之间。 这里,第一子接触孔和第一栅极接触孔被连接以形成单个连通孔。 本发明的目的在于提供半导体装置的制造方法,简化制造工序,提高集成度。
    • 5. 发明授权
    • 반도체 장치
    • KR102211638B1
    • 2021-02-04
    • KR1020170072391
    • 2017-06-09
    • 삼성전자주식회사
    • 김효진천관영
    • H01L29/78H01L29/66H01L29/06
    • 반도체장치가제공된다. 반도체장치는, 제1 방향으로연장되는제1 및제2 액티브영역과, 상기제1 액티브영역과상기제2 액티브영역사이에형성되는소자분리영역을포함하고, 상기제1 방향과교차하는제2 방향의제1 폭을갖는셀 영역, 상기셀 영역상에상기제1 방향으로서로이격되고, 상기제2 방향으로연장되는제1 및제2 게이트구조체, 상기셀 영역상에상기제1 방향으로연장되고, 상기제2 방향으로서로제1 간격만큼이격되고, 각각상기제2 방향의제2 폭을갖는제1 및제2 메탈라인, 상기제1 게이트구조체와상기제1 메탈라인을전기적으로연결하고, 적어도일부가상기소자분리영역과오버랩되는제1 게이트컨택, 및상기제2 게이트구조체와상기제2 메탈라인을전기적으로연결하고, 적어도일부가상기소자분리영역과오버랩되는제2 게이트컨택을포함하되, 상기제1 폭을상기제1 간격과상기제2 폭을합한값으로나눈값이 6 이하이다.