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    • 1. 发明专利
    • KR102223033B1 - wafer storage container
    • KR102223033B1
    • 2021-03-04
    • KR1020140051677A
    • 2014-04-29
    • 삼성전자주식회사
    • 조현호김혁기남정훈
    • H01L21/673B65D85/38
    • H01L21/67383H01L21/67379
    • 서로 마주보는 제1측 바디부 및 제2측 바디부, 상기 제1측 및 제2측 바디부들의 상부와 연결된 상부 바디부, 상기 제1측 및 제2측 바디부들의 일측 단부와 연결된 후면 바디부, 및 상기 제1측 및 제2측 바디부들의 하부와 연결되며, 상기 제1측 및 제2측 바디부들, 상기 상부 바디부 및 후면 바디부와 함께 내부 공간을 한정하는 하부 바디부를 포함하는 쉘 바디부; 상기 상부 바디부와 상기 제1측 바디부 사이의 엣지 영역 상에 배치되며 상기 하부 바디부로부터 상기 상부 바디부 방향으로 돌출된 제1 핸들부; 상기 상부 바디부와 상기 제2측 바디부 사이의 엣지 영역 상에 배치되며 상기 하부 바디부로부터 상기 상부 바디부 방향으로 돌출된 제2 핸들부; 상기 내부 공간에 의해 노출되는 상기 제1측 바디부의 제1 내측벽에 배치된 제1 슬롯부; 및 상기 내부 공간에 의해 노출되는 상기 제2측 바디부의 제2 내측벽에 배치된 제2 슬롯부를 포함하되, 상기 제1 및 제2 핸들부들의 각각은 상기 쉘 바디부에 결합되는 서브 핸들부 및 상기 서브 핸들부 상의 메인 핸들부를 포함하고, 상기 제1 및 제2 슬롯부들의 각각은 복수의 개별 슬롯 가이드 및 상기 개별 슬롯 가이드 상의 복수의 서포터들을 포함하고, 상기 각각의 서포터들은 쉘 바디부의 웨이퍼 출입부로부터 상기 쉘 바디부의 상기 후면 바디부 방향으로 갈수록 높아지는 경사진 면을 갖는 웨이퍼 수납장치가 제공된다.
    • 2. 发明公开
    • 웨이퍼 수납 용기
    • 晶圆储存容器
    • KR1020170076179A
    • 2017-07-04
    • KR1020150186131
    • 2015-12-24
    • 삼성전자주식회사
    • 조현호김동연김혁기남정훈김진호
    • H01L21/673
    • H01L21/67376H01L21/67373
    • 웨이퍼보관용기는베이스, 가이드, 커버, 로킹부재및 실링부재를포함할수 있다. 상기베이스는복수개의웨이퍼들이안치되는안치면을가질수 있다. 상기가이드는상기베이스의안치면에배치되어, 상기웨이퍼들이수용되는공간을한정할수 있다. 상기커버는상기베이스의안치면을덮을수 있다. 상기로킹부재는상기커버를상기베이스에로킹시킬수 있다. 상기실링부재는상기로킹부재와상기가이드사이를실링하여, 상기수용공간으로외기가침투하는것을방지할수 있다. 따라서, 실링부재가가이드와로킹부재사이를실링하게되므로, 오염물질을포함하는외기가가이드내의수용공간으로침투하는것이억제될수 있다.
    • 晶片存储容器可以包括基座,引导件,盖子,锁定构件和密封构件。 基座可以具有其上放置有多个晶片的平板表面。 引导件可以设置在基座的基座表面上以限定容纳晶片的空间。 盖可以覆盖底座的底面。 锁定构件可以将盖锁定到基座。 密封构件在锁定构件和引导件之间密封以防止外部空气渗入容纳空间。 因此,由于密封构件在引导件和锁定构件之间进行密封,因此可以抑制包含污染物的外部空气渗入引导件中的容纳空间。
    • 3. 发明公开
    • 반도체 장치의 층간절연막 형성 방법
    • 用于制造半导体器件的中间层介质的方法
    • KR1020020078427A
    • 2002-10-18
    • KR1020010018786
    • 2001-04-09
    • 삼성전자주식회사
    • 남정훈
    • H01L21/31
    • PURPOSE: A method for fabricating an interlayer dielectric of a semiconductor device is provided to eliminate a void between adjacent gate regions without increasing the density of boron phosphorous silicate glass(BPSG) layer and decreasing a deposition rate of the BPSG layer, by flowing dopants before a main deposition process using O3 is performed. CONSTITUTION: An access transistor composed of a gate region and an impurity diffusion region is formed on a semiconductor substrate(100). After the dopants are flowed to the upper portion of the semiconductor substrate having the access transistor, the BPSG layer is deposited by using O3. A reflow process is performed.
    • 目的:提供一种用于制造半导体器件的层间电介质的方法,以在不增加硼磷硅玻璃(BPSG)层的密度的情况下消除相邻栅极区域之间的空隙,并且通过在掺杂剂之前流动掺杂剂来降低BPSG层的沉积速率 使用O3进行主沉积处理。 构成:在半导体基板(100)上形成由栅极区域和杂质扩散区域构成的存取晶体管。 在掺杂剂流到具有存取晶体管的半导体衬底的上部之后,通过使用O 3沉积BPSG层。 进行回流处理。
    • 5. 发明公开
    • 플라즈마 처리장치
    • 等离子体加工设备
    • KR1020090056475A
    • 2009-06-03
    • KR1020070123630
    • 2007-11-30
    • 삼성전자주식회사
    • 권경수채희선장우성지연홍김도형이경섭남정훈
    • H01L21/205H01L21/3065
    • H01J37/32165H01J37/32357
    • A plasma processing apparatus is provided to prevent recombination of a source gas while maximizing resolution ratio by generating plasma inside/outside of a chamber. A process chamber is formed at a chamber(110) to process a substrate(90) through plasma, and a source gas supply unit(180) supplies a source gas for processing the substrate to the chamber. A remote plasma generation unit(160) is arranged between a chamber and a source gas supply unit, and it supplies power to excite the source gas to first energy level plasma. A direct plasma generating unit(150) includes a chamber to excite the first energy level gas to second energy level plasma.
    • 提供了一种等离子体处理装置,用于防止源气体的复合,同时通过在室内/外部产生等离子体来最大化分辨率。 在室(110)处形成处理室,以通过等离子体处理衬底(90),并且源气体供应单元(180)将用于处理衬底的源气体供应到腔室。 远程等离子体生成单元(160)设置在室和源气体供给单元之间,并且其供应功率以将源气体激发到第一能级等离子体。 直接等离子体产生单元(150)包括用于将第一能量级气体激发到第二能级等离子体的室。
    • 6. 发明公开
    • 화학기상증착 장치의 가스 인젝터
    • 化学气相沉积装置燃气喷射器
    • KR1020030035370A
    • 2003-05-09
    • KR1020010067420
    • 2001-10-31
    • 삼성전자주식회사
    • 김도형남정훈
    • H01L21/205
    • PURPOSE: A gas injector of a chemical vapor deposition(CVD) apparatus is provided to improve a gap-fill capacity and deposition uniformity by installing a gas injector having the same length as a conventional gas injector wherein the diameter of the process gas spray part of the gas injector is smaller than that of the process gas inflow part of the gas injector. CONSTITUTION: A process chamber is prepared. A spray unit(150) sprays process gas on the upper portion of a wafer(140) placed on an electrostatic chuck(130), installed in the inner wall of the process chamber. The spray unit is composed of the first gas injector in which the diameter of the spray part is smaller than that of the inflow part to increase the pressure of the process gas.
    • 目的:提供化学气相沉积(CVD)装置的气体注射器,以通过安装具有与常规气体注射器相同长度的气体注射器来改善间隙填充能力和沉积均匀性,其中工艺气体喷射部分的直径 气体喷射器小于气体喷射器的工艺气体流入部分。 规定:处理室已准备好。 喷射单元(150)在放置在处理室的内壁中的静电卡盘(130)上的晶片(140)的上部喷射处理气体。 喷射单元由第一气体喷射器组成,其中喷射部分的直径小于流入部分的直径,以增加处理气体的压力。
    • 7. 发明公开
    • 버블러를 구비하는 챔버 장비 및 이를 이용하는 반도체장치 제조방법
    • 具有泡罩的腔室设备及使用其制造半导体器件的方法
    • KR1020000027419A
    • 2000-05-15
    • KR1019980045339
    • 1998-10-28
    • 삼성전자주식회사
    • 남정훈김병훈김재석
    • H01L21/205
    • PURPOSE: A chamber equipment having a bubbler for manufacturing a semiconductor device is provided to reduce chemical consumption, by preventing consumption of a reaction gas which does not contribute to deposition. CONSTITUTION: A chamber equipment having a bubbler for manufacturing a semiconductor device comprises a plurality of dispersion heads, a plurality of susceptors, a first piping(700), a bubbler(500), a second piping(510), a third piping(530), and a switching part. The dispersion heads are equipped in a chamber as concentric circle shapes. The susceptors are equipped opposite to the dispersion heads, are rotatory moved for the dispersion heads in order, and a semiconductor substrate is mounted on the susceptors in order. The first piping supplies a reaction gas to the dispersion heads. The bubbler is connected to the first piping and has chemicals. The second piping is connected to the bubbler and supplies a bubbling gas generating the reaction gas from the chemicals. The third piping is branched and is directly connected to the first piping. The switching part is mounted on a connection part of the second and the third piping, and supplies the bubbling gas by switching the bubbling gas to the third piping through the second piping.
    • 目的:提供具有用于制造半导体器件的起泡器的室设备,以通过防止对沉积无贡献的反应气体的消耗来减少化学品消耗。 构成:具有用于制造半导体器件的起泡器的腔室设备包括多个分散头,多个基座,第一管道(700),起泡器(500),第二管道(510),第三管道(530) )和切换部。 分散头装在腔室中,同心圆形。 基座与分散头相对设置,按顺序旋转移动分散头,半导体基板依次安装在基座上。 第一个管道向分散头提供反应气体。 起泡器连接到第一管道并具有化学物质。 第二管道连接到起泡器,并提供从化学品产生反应气体的鼓泡气体。 第三管道是分支的并且直接连接到第一管道。 开关部分安装在第二和第三管道的连接部分上,并且通过第二管道将起泡气体转换到第三管道来供给起泡气体。