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    • 8. 发明授权
    • 반도체 공정에서 불량을 분류 및 진단하는 장치 및 방법
    • 用于分类和诊断半导体工艺缺陷的设备和方法
    • KR101802096B1
    • 2017-11-27
    • KR1020160161632
    • 2016-11-30
    • 연세대학교 산학협력단
    • 김창욱이기범
    • H01L21/66G01N21/95H01L21/67
    • 본발명은반도체공정에서센서데이터를분류및 진단하는장치및 방법을개시한다. 본발명의일실시예에따르면반도체공정에서센서데이터를분류및 진단하는장치는센서데이터의입력층(input layer)에서, 수용영역(receptive field)을시간축에서만순차적으로이동시키면서로컬특징(local feature)들을수집하는로컬특징수집부; 상기수집된로컬특징(local feature)들로부터 1차원의특징맵들을추출하여콘볼루션층(convolution layer)을생성하는 1차원의특징맵 추출부; 및상기생성된콘볼루션층(convolution layer)에기초하여상기센서데이터를분류하는데이터분류부를포함하고, 상기수용영역(receptive field)의일축은상기입력층(input layer)의변수축에상응하는크기를갖는다.
    • 本发明公开了一种用于在半导体工艺中分类和诊断传感器数据的设备和方法。 根据本发明的实施例,一种用于在半导体工艺中分类和诊断传感器数据的设备包括:传感器数据的输入层,仅在时间轴上顺序地移动接受场的局部特征, 本地特征采集单元,用于采集本地特征; 一维特征地图提取器,用于从所收集的局部特征提取一维特征地图以生成卷积层; 以及用于基于所生成的卷积层对传感器数据进行分类的数据分类器,其中接受场的轴是与输入层的变量轴相对应的大小 有。