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1. 发明专利

JP2021196239A ひずみ測定装置、ひずみ測定方法及びひずみ測定プログラム审中-公开
公开(公告)号：JP2021196239A
公开(公告)日：2021-12-27
申请号：JP2020102195
申请日：2020-06-12
申请人：鹿島建設株式会社 , ニューブレクス株式会社
发明人：今井道男 , 新井崇裕 , 川端淳一 , 小泉悠 , 坂根英之 , 瀬尾昭治 , 平陽兵 , 取違剛 , 永谷英基 , 古市耕輔 , 水成基之 , 小柳津悠 , 岸田欣増 , 李哲賢
IPC分类号： G01D5/353
摘要：【課題】測定者に左右されることなく、正確性、信頼性の高い測定値を得る。【解決手段】ひずみ測定装置1は、レイリー後方散乱光に基づくひずみであって、光情報に含まれたレイリーひずみ値を算出するレイリー算出部33と、ブリルアン後方散乱光に基づくひずみであって、光情報に含まれたブリルアンひずみ値を算出するブリルアン算出部34と、光情報に含まれたレイリー後方散乱光に基づき、レイリーひずみ値を評価するレイリー評価部35と、レイリー評価部35の評価に基づいて、光ファイバケーブル10に生じたひずみの大きさを示す値としてレイリーひずみ値又はブリルアンひずみ値を採用する判定部36と、を備える。【選択図】図2

2. 发明申请

WO2006001071A1 分布型光ファイバセンサ审中-公开
标题翻译：分布式光纤传感器
公开(公告)号：WO2006001071A1
公开(公告)日：2006-01-05
申请号：PCT/JP2004/009352
申请日：2004-06-25
申请人：ニューブレクス株式会社 , 岸田欣増 , 李哲賢 , 林縄繽
发明人：岸田欣増 , 李哲賢 , 林縄繽
IPC分类号： G01B11/16
CPC分类号： G01L1/242 , G01B11/18 , G01D5/35364 , G01K11/32
摘要：本発明は、マニュアル調整することなく、歪み及び／又は温度を高精度かつ高空間分解能で測定し得る分布型光ファイバセンサを提供する。　本発明のブリルアン散乱現象を利用した分布型光ファイバセンサは、内側に向かうほど光強度が大きくなるように光強度が階段状になった光パルスを生成する階段状光パルス光源と、連続光を生成するＣＷ光源と、光パルスがプローブ光として入射されると共に連続光がポンプ光として入射され、プローブ光とポンプ光との間でブリルアン散乱現象が生じる検出用光ファイバと、検出用光ファイバから射出されるブリルアン散乱現象に係る光に基づいてブリルアン・ロス又はゲイン・スペクトルを求め、これに基づいて検出用光ファイバの長尺方向における検出用光ファイバに生じた歪み及び／又は温度の分布を測定するブリルアン時間領域検出計とを備える。
摘要翻译：分布式光纤传感器，能够以高精度和高空间分辨率测量应变和/或温度，而无需任何手动调节。利用布里渊散射现象的分布式光纤传感器包括逐步的光脉冲光源，产生具有朝向中心的光强度逐渐分布的光脉冲，产生连续光的CW光源，接收光学的感测光纤脉冲作为探测光，连续光作为泵浦光，其中在探测光和泵浦光之间发生布里渊散射现象，以及布里渊时域检测器，用于从出射的光中检测出布里渊损失或增益光谱传感光纤并且归因于布里渊散射现象，并且确定感测光纤在其纵向方向上引起的应变分布和/或来自布里渊损失或增益光谱的温度分布。

3. 发明专利

JP6342019B2 分布型光ファイバ音波検出装置有权
公开(公告)号：JP6342019B2
公开(公告)日：2018-06-13
申请号：JP2016570390
申请日：2015-01-21
申请人：ニューブレクス株式会社
发明人：西口憲一 , 岸田欣増 , 李哲賢
IPC分类号： G01H9/00
CPC分类号： G01H9/006 , G01H9/002 , G01V1/001 , G01V1/226 , G01V1/42

4. 发明专利

JP5948035B2 分布型光ファイバ音波検出装置有权
标题翻译：分布式光纤声波检测装置
公开(公告)号：JP5948035B2
公开(公告)日：2016-07-06
申请号：JP2011221026
申请日：2011-10-05
申请人：ニューブレクス株式会社
发明人：岸田欣増 , 西口憲一 , 李哲賢
IPC分类号： G01H9/00
CPC分类号： H04B10/071 , G01H9/004

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